【技术实现步骤摘要】
霍尔测试模组
本技术涉及FPC(柔性电路板)测试
,具体涉及一种霍尔测试模组。
技术介绍
霍尔测试仪器,是一种用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数的设备,这些参数都是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的,因此霍尔测试仪器是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具,目前得到广泛应用。现有的霍尔测试仪器的探针一般通过上下模导向直接读准待测位置测试,仅通过上下模导向的定位作用,很容易出现测试探针的末端定位产生偏移,扎错柔性电路板的待测位置。此外,此种定位方式在霍尔测试仪器的探针上下运动时还容易扎伤柔性电路板产品,导致最终仪器的测试良率不高。
技术实现思路
为解决现有霍尔测试仪器的测试探针容易产生定位偏移且容易扎伤待测产品,导致设备测试良率不高的问题,本技术提供了一种霍尔测试模组。一种霍尔测试模组,包括气缸模组和导向轴承模组,其特征在于,所述导向轴承模组包括浮动安装结构、探针安装结构和磁铁安装结构,所述探针安装结构通过等高固定螺丝固定设置在所述浮动安装结构 ...
【技术保护点】
1.一种霍尔测试模组,包括气缸模组和导向轴承模组,其特征在于,所述导向轴承模组包括浮动安装结构、探针安装结构和磁铁安装结构,所述探针安装结构通过等高固定螺丝固定设置在所述浮动安装结构的一端,所述磁铁安装结构通过所述等高固定螺丝固定设置在所述探针安装结构远离所述浮动安装结构的一端。/n
【技术特征摘要】
1.一种霍尔测试模组,包括气缸模组和导向轴承模组,其特征在于,所述导向轴承模组包括浮动安装结构、探针安装结构和磁铁安装结构,所述探针安装结构通过等高固定螺丝固定设置在所述浮动安装结构的一端,所述磁铁安装结构通过所述等高固定螺丝固定设置在所述探针安装结构远离所述浮动安装结构的一端。
2.根据权利要求1所述的霍尔测试模组,其特征在于,还包括探针结构,所述探针安装结构设有探针安装孔,所述探针结构设置在所述探针安装孔内。
3.根据权利要求2所述的霍尔测试模组,其特征在于,还包括针套护板,所述针套护板通过直线轴承和所述浮动安装结构连接,所述探针结构的顶端插设在所述针套护板上。
4.根据权利要求1所述的霍尔测试模组,其特征在于,还包括磁铁结构,所述磁铁安装结构设有...
【专利技术属性】
技术研发人员:周亮,周家进,
申请(专利权)人:珠海博杰电子股份有限公司,
类型:新型
国别省市:广东;44
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