【技术实现步骤摘要】
一种晶体晶振的电性能参数测试设备
本技术属于晶体测试设备领域，尤其是涉及一种晶体晶振的电性能参数测试设备。
技术介绍
目前晶体的电性能测试装置大多为分体式测试，晶体的进料、选料、测试、移动等均需要特定的设备逐一进行操作，需要的操作设备很多，且操作复杂，并且无法对晶体实现有序排列及识别，操作难度很大
技术实现思路
有鉴于此，本技术旨在提出一种晶体晶振的电性能参数测试设备，以实现晶体的取料、放料、移动、测试、识别、排列的一体化测试设备，自动化程度高，操作方便。为达到上述目的，本技术的技术方案是这样实现的：一种晶体晶振的电性能参数测试设备，包括从上至下依次设置的上机架、工作大板、下机架，工作大板的顶部间隔设置有两个用以放置晶体料盘的弹夹组件，两个弹夹组件的后方均设有用以移动晶体料盘的放料组件，放料组件的上方设有用以抓取及移动晶体的取料组件，两个弹夹组件之间设有用以测试电性能参数的测试组件。进一步的，所述测试组件包括两组间隔设置的测试探针，测试探针可相对所述工作大板纵向移动，每组测试探针的...
【技术保护点】
1.一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：包括从上至下依次设置的上机架(1)、工作大板(3)、下机架(4)，工作大板(3)的顶部间隔设置有两个用以放置晶体料盘(612)的弹夹组件(6)，两个弹夹组件(6)的后方均设有用以移动晶体料盘(612)的放料组件(5)，放料组件(5)的上方设有用以抓取及移动晶体的取料组件(2)，两个弹夹组件(6)之间设有用以测试电性能参数的测试组件(7)。/n
【技术特征摘要】
1.一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：包括从上至下依次设置的上机架(1)、工作大板(3)、下机架(4)，工作大板(3)的顶部间隔设置有两个用以放置晶体料盘(612)的弹夹组件(6)，两个弹夹组件(6)的后方均设有用以移动晶体料盘(612)的放料组件(5)，放料组件(5)的上方设有用以抓取及移动晶体的取料组件(2)，两个弹夹组件(6)之间设有用以测试电性能参数的测试组件(7)。
2.根据权利要求1所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述测试组件(7)包括两组间隔设置的测试探针(763)，测试探针(763)可相对所述工作大板(3)纵向移动，每组测试探针(763)的上方均设有可相对测试探针(763)横向移动的定位座(711)，定位座(711)的顶部向下开有可容纳晶体的定位槽(714)。
3.根据权利要求2所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述测试组件(7)还包括定位板(73)，定位板(73)的顶部间隔设置有两个定位导轨(72)，移动封板(712)的底部间隔设有两个定位滑块(713)，定位滑块(713)与所述定位导轨(72)滑动连接，移动封板(712)通过定位滑块(713)、定位导轨(72)与所述定位板(73)滑动连接，所述定位座(711)固定于所述移动封板(712)的底部。
4.根据权利要求2所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述测试组件(7)还包括调节立板(761)，调节立板(761)与调节支撑板(764)滑动连接，调节立板(761)的上部与调节横板(765)固定，调节横板(765)的顶部设有所述测试探针(763)。
5.根据权利要求1所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述弹夹组件(6)包括弹夹盒(61)，弹夹盒(61)内从上至下间隔放置有多个可抽拉的料盘(612)，料盘(612)内设有多个用以放置晶体的料孔(612...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈桂东，刘贵枝，胡聪，
申请(专利权)人：天津必利优科技发展有限公司，
类型：新型
国别省市：天津;12
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