一种面料缩率分析仪制造技术

技术编号:27756507 阅读:20 留言:0更新日期:2021-03-19 13:54
本实用新型专利技术提供的一种面料缩率分析仪,包括工作台、标记装置、光发射装置、信号采集装置和信号处理装置。与现有技术相比,本实用新型专利技术提供的面料缩率分析仪,单台机器就能完成面料缩率的检测全过程,包括自动标记、精准识别和测量,极大的提高了测试耗费人力;本面料缩率分析仪应用可见光室内定位技术中的定位原理设计而成,相比采用隐形墨水或颜料进行标记更准确、直接;通过信号采集装置将光信号转化成电信号,信号处理装置通过电信号计算得到测量缩率,获得的缩率结构精度高、速度快速;相比采用人工测量,分析的精度和速度得到极大的提升,并有效降低了错误率,且操作简便,分析完成后能够快速查看多组试样的测试数据,提升用户体验。

【技术实现步骤摘要】
一种面料缩率分析仪
本技术涉及面料检测领域,具体涉及一种面料缩率分析仪。
技术介绍
各种各样的面料充斥着不断变化的市场,每种面料都有其独特的特性。而面料的分析包括多个重要指标,通过这些分析数据能够加快了解织物的特性和微观结构对织物性能的作用。根据得到的数据来进行仿样设计,从而占据市场先机,提高产品竞争力。在面料和服装的品质检测中,缩率是一个十分重要的参数,缩率不合格会直接导致面料和服装尺寸不稳定、形态不稳定、品质不合格。面料和服装在生产加工中,其横纵向会受到一定的拉伸作用而处于紧绷状态,存在一定的内应力。当面料和服装在受到水和湿热等外部因素的刺激后,纤维从暂时平衡状态转到稳定的平衡状态,在这个过程中发生了伸缩,其纤维间的内应力消失,其横纵向会产生伸缩,伸缩的程度就是缩率。缩率包括水洗缩率和烫缩缩率,其中烫缩缩率又分为干烫缩率和湿烫缩率。不同条件下织物的缩率,其测试方法不同。现有的面料和服装在进行水洗、干湿烫收缩率测试时,需工作人员人工采点且同一试样需要进行多次测量,在测量时会因为测试人员的不同出现较大的误差,对于检测结果的准确性造成严重影响,后续评定的结果会产生严重的误差,且浪费人力和时间,影响测试效率。面料缩率分析是是面料设计的前期基础工作,数据分析的准确性及高效性直接影响后续工作能否顺利开展及客户的满意程度。当前使用的分析方法耗费时间多且复杂,分析效率低,准确性较低,影响用户体验。可见光室内定位技术是一种基于可见光通信技术的室内定位技术,其定位精度高、一般包括LED点光源和光电检测器件,定位的距离检测一般通过接收信号强弱(RSS),到达时间(TOA)或到达时间差(TDOA)等方式实现光源或光电检测器件的定位,具有很好的应用前景。
技术实现思路
为了解决上述纺织品在投入使用前需要检测水洗、烫缩缩率,需要经过一系列的人工打点,当前使用的缩率分析方法耗费时间多且复杂,分析效率低,准确性较低,影响用户体验等技术问题,本技术提供了一种面料缩率分析仪。本技术提供的一种面料缩率分析仪,包括工作台、标记装置、光发射装置、信号采集装置和信号处理装置;所述信号采集装置和信号处理装置信号连接;所述工作台为透明材质,用于放置试样;所述标记装置位于工作台上方,用于对放置在工作台上的待测试样标记至少两个测试点;所述光发射装置位于工作台的下方,用于向上方发射光信号;所述信号采集装置位于工作台的上方,用于进行光源探测并将光信号转化为电信号;所述信号处理装置用于根据信号采集装置的电信号计算试样缩率。进一步的,还包括连接杆和滑轨,连接杆垂直设置在工作台上,滑轨设置于连接杆上方,所述信号采集装置通过滑轨与连接杆滑动连接。进一步的,所述信号采集装置包括光照度传感器和/或光敏传感器。进一步的,所述信号处理装置包括第二微控制器和MCU控制系统,所述第二微控制器用于接收电信号,并根据电信号生成位置信息;所述MCU控制系统用于将位置信息进行处理,计算得到缩率。进一步的,所述光发射装置包括第一微控制器和发光元件,第一微控制器和发光元件信号连接,第一微控制器用于控制光信号的频率和/或颜色,发光元件用于根据第一微控制器的信号发射光源。进一步的,所述标记装置包括冲孔打点装置,通过冲孔打点装置在待测试样上形成形状一致的圆孔状测试点。进一步的,还包括面料前处理模块,用于对待测试样进行包括调湿、洗涤、干燥中一种或多种前处理。进一步的,所述面料前处理模块包括洗涤装置和汽烫装置,所述洗涤装置用于对待测试样进行洗涤处理;所述汽烫装置用于对待测试样进行汽烫处理。进一步的,还包括设置在工作台上的试样固定器,用于固定所述待测试样。进一步的,还包括扫描装置,所述扫描装置与所述信号处理装置信号连接,用于扫描待测试样上的身份识别标记、编码、型号、货号中的一种或多种。根据以上技术方案,本技术的有益效果在于:1、本技术提供的一种面料缩率分析仪,应用可见光室内定位技术中的定位原理设计而成,测试点处的光信号与其他位置具有显著差异,通过接收光信号强弱(RSS),到达时间(TOA)或到达时间差(TDOA)等方式实现测试点的定位,相比采用隐形墨水或颜料进行标记更准确、直接;通过信号采集装置将光信号转化成电信号,信号处理装置通过电信号计算得到测量缩率,获得的缩率结构精度高、速度快速;相比采用人工测量,采用本技术提供的一种面料缩率分析仪进行分析的精度和速度得到极大的提升,并有效降低了错误率;2、与现有技术相比,本技术提供的一种面料缩率分析仪,单台机器就能完成面料缩率的检测全过程,包括自动标记、精准识别和测量、进行水洗或整烫等测试前处理,极大的提高了测试耗费人力;3、本技术提供的一种面料缩率分析仪测试分析速度快、效率高,有效降低了人工录入的错误率,且操作简便,误差小、准确度高、多次测量的偏差小,分析完成后能够快速查看多组试样的测试数据,提升用户体验。4、本技术提供的一种面料缩率分析仪进一步还可包括前处理模块,可对待测试样进行包括调湿、洗涤、干燥中一种或多种前处理,一台机器即可完成整个面料缩率分析的工序,测试人员不需要在多个测试仪器间来回作业,节省了整个分析测试时间,提高工作效率。附图说明图1为本技术具体实施例一中的一种面料缩率分析仪的示意图;图2为本技术具体实施例一中的一种面料缩率分析仪信号传递示意图;图3为本技术具体实施例一中的一种面料缩率分析仪分析试样示意图;图4为本技术具体实施例一中的一种面料缩率分析仪分析试样示意图;图5为本技术具体实施例一中的一种面料缩率分析仪分析试样示意图;图6为本技术具体实施例二中的一种面料缩率分析仪的示意图;图7为本技术具体实施例三中的一种面料缩率分析仪的示意图。具体实施方式以下结合附图1-7对本技术的原理和特征进行描述,所举实例只用于解释本技术,并非用于限定本技术的范围;在下列段落中参照附图以举例方式更具体地描述本技术。根据下面说明和权利要求书,本技术的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例,仅用以方便、明晰地辅助说明本技术实施例的目的。具体实施例一一种面料缩率分析仪,如图1所示,包括工作台1、标记装置2、光发射装置、信号采集装置4、信号处理装置5、连接杆6、滑轨7和扫描装置8;所述工作台1为透明材质,用于平铺放置待测试样;所述标记装置2位于工作台1上方,用于对放置在工作台1上的待测试样标记至少两个测试点;所述标记装置2包括冲孔打点装置,通过冲孔打点装置在待测试样上形成形状一致的圆孔状测试点,光发射装置发射的光线能够直接透过圆孔状测试点,信号采集装置4采集光信号,测试点处的光信号与其他位置具有显著差异;所述标记装置2为冲孔打点装置时可利用可见光本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种面料缩率分析仪,其特征在于:包括工作台、标记装置、光发射装置、信号采集装置和信号处理装置;/n所述信号采集装置和信号处理装置信号连接;/n所述工作台为透明材质,用于放置试样;/n所述标记装置位于工作台上方,用于对放置在工作台上的待测试样标记至少两个测试点;/n所述光发射装置位于工作台的下方,用于向上方发射光信号;/n所述信号采集装置位于工作台的上方,用于进行光源探测并将光信号转化为电信号;/n所述信号处理装置用于根据信号采集装置的电信号计算试样缩率。/n

【技术特征摘要】
1.一种面料缩率分析仪,其特征在于:包括工作台、标记装置、光发射装置、信号采集装置和信号处理装置;
所述信号采集装置和信号处理装置信号连接;
所述工作台为透明材质,用于放置试样;
所述标记装置位于工作台上方,用于对放置在工作台上的待测试样标记至少两个测试点;
所述光发射装置位于工作台的下方,用于向上方发射光信号;
所述信号采集装置位于工作台的上方,用于进行光源探测并将光信号转化为电信号;
所述信号处理装置用于根据信号采集装置的电信号计算试样缩率。


2.根据权利要求1所述一种面料缩率分析仪,其特征在于:还包括连接杆和滑轨,连接杆垂直设置在工作台上,滑轨设置于连接杆上方,所述信号采集装置通过滑轨与连接杆滑动连接。


3.根据权利要求1所述一种面料缩率分析仪,其特征在于:所述信号采集装置包括光照度传感器和/或光敏传感器。


4.根据权利要求1所述一种面料缩率分析仪,其特征在于:所述信号处理装置包括第二微控制器和MCU控制系统,所述第二微控制器用于接收电信号,并根据电信号生成位置信息;所述MCU控制系统用于将位置信息进行处理,计算得到缩率。


5.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:官海文蔡木尧陈国仲
申请(专利权)人:利郎中国有限公司
类型:新型
国别省市:福建;35

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