用于集电子的检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于集电子的检测装置，包括底座、垂直度测试结构、同心度测试结构以及焊接强度测试结构；垂直度测试结构包括开设于底座上的第一针孔和圆槽；同心度测试结构包括百分表、旋转轴和顶杆；旋转轴安装于底座的背面，具有定位孔；顶杆轴向可移动装配于顶杆内，以及顶杆的端部具有顶针部；百分表固定于底座上；焊接强度测试结构包括开设于底座上的凹槽和装配于凹槽上的两块挡块，凹槽与挡块之间形成供集电子的底盖进入的限位槽，两块的挡块之间形成供集电子的铜针伸出的开口，凹槽的底壁上具有与开口对应的避让槽。本实用新型专利技术不但检测方便，而且检测精度高。

【技术实现步骤摘要】
用于集电子的检测装置
本技术涉及电池生产设备领域，更具体的涉及一种用于集电子的检测装置。
技术介绍
封口体是影响碱锰电池耐漏液性能的重要部件。封口体由密封圈和集电子两部分组装而成，集电子由负极底盖与铜针焊接而成，然后再将集电子与密封圈组装成封口体。在负极底盖和铜针焊接过程中，需要对集电子的同心度、垂直度和焊接强度进行检测，主要目的就是防止封口体组装过程中由于同心度和垂直度不满足工艺要求损伤密封圈造成碱性电池爬碱或漏液，而焊强度不牢直接导致电池低压。集电子在焊接过程中主要是目视的方法来判别同心度和垂直度是否满足工艺要求，焊接强度凭借用手扳铜针方式判断，两者测试都存在较大局限性，前者属于定性判断，后者未明确折扳角度，检测标准未统一，测试方法效率低而且不利于操作。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本技术提供了一种用于集电子的检测装置，不但检测方便，而且检测精度高。为实现上述目的，本技术提供了如下技术方案：一种用于集电子的检测装置，其特征是：包括底座和设置于底座上的垂直度测试结构、同心度测试结构以及焊接强度测试结构；所述垂直度测试结构包括开设于底座上的第一针孔和圆槽，所述第一针孔与圆槽为同心结构，以及第一针孔的直径与铜针的直径相匹配，圆槽的直径与底盖的直径相匹配；所述同心度测试结构包括百分表、旋转轴和顶杆；所述旋转轴可转动安装于底座的背面，并且具有供铜针插入的定位孔；所述顶杆沿旋转轴轴向可移动装配于顶杆内，以及顶杆的端部具有伸入定位孔的顶针部；所述百分表固定于底座上，并且百分表的检测端与插装于定位孔的集电子的底盖的圆周面对应；所述焊接强度测试结构包括开设于底座上的凹槽和装配于凹槽上的两块挡块，所述凹槽与挡块之间形成供集电子的底盖进入的限位槽，两块所述的挡块之间形成供集电子的铜针伸出的开口，凹槽的底壁上具有与开口对应的避让槽。优选的，所述底座包括底板和安装于底板上的立板。优选的，所述立板的背面具有旋转轴安装座，所述旋转轴垂直于立板并且通过轴承安装于旋转轴安装座。优选的，所述立板上具有供铜针穿过的第二针孔，以及所述第二针孔与定位孔对应。优选的，所述旋转轴上安装有转轮。优选的，所述旋转轴包括轴管和卡合于轴管内的定位块，所述定位孔开设于定位柱上。优选的，所述凹槽分为第一凹槽和第二凹槽，所述第二凹槽位于第一凹槽内；所述挡块安装于第一凹槽内，并且限位槽由第二凹槽和挡块形成；所述避让槽开设于第一凹槽的槽壁上。优选的，所述立板的正面具有供百分表安装的百分表安装座。优选的，所述圆槽的深度小于集电子的底盖的厚度。本技术的优点为：能够实现集电子的同心度检测、焊接强度检测以及垂直度检测，而且检测方便，以及检测的精确度高。附图说明图1为本实施例所提供的用于集电子的检测装置的示意图；图2为本实施例所提供的用于集电子的检测装置的剖视图；图3为本实施例所提供的立板的示意图。具体实施方式结合图1至图3对本技术用于集电子的检测装置作进一步的说明。一种用于集电子的检测装置，其特征是：包括底座1和设置于底座1上的垂直度测试结构2、同心度测试结构3以及焊接强度测试结构4。底座1包括底板11和通过螺栓固定于底板11并与底板11垂直的立板12。所述垂直度测试结构2包括开设于立板12顶部的第一针孔21和圆槽22，第一针孔21位于圆槽22的底壁中心处，即第一针孔21与圆槽22为同心结构，以及第一针孔21的直径与铜针的直径相同，圆槽22的直径与底盖的直径相同。所述同心度测试结构3包括百分表31、旋转轴33和顶杆34；所述旋转轴33可转动安装于立板12的背面，并且具有供集电子的铜针从立板12正面插入的定位孔3311；所述顶杆34沿旋转轴33轴向可移动装配于顶杆34内，即顶杆34从旋转轴33背向定位孔3311的一端穿入到旋转轴33内，以及顶杆34穿入到旋转轴33的端部具有伸入定位孔3311的顶针部341；所述百分表31固定于立板上，并且百分表31的检测端311与插装于定位孔3311的集电子的底盖的圆周面对应。所述焊接强度测试结构4包括开设于底座1上的凹槽和装配于凹槽上的两块挡块42，所述凹槽与挡块之间形成具有上开口并且供集电子的底盖进入的限位槽41，两块所述的挡块42之间形成供集电子的铜针伸出的开口43，凹槽的底壁上具有与开口43对应的避让槽4521。基于上述结构，具体检测原理为：垂直度检测：将集电子的铜针插入到第一针孔21内，然后再将集电子的底盖嵌入到圆槽22内；若底盖能够刚好嵌入到圆槽22内，则说明被检测的集电子的同心度合格，反之则不合格。同心度检测：将需要检测的集电子的铜针穿过立板12卡入到旋转轴33的定位孔3311内，同时调整百分表31并使百分表31的检测端311抵靠在底盖的圆周面上，转动旋转轴33，带动集电子同步转动，集电子转动的过程中，底盖与百分表31的检测端311接触，因此通过百分表31数值跳动的范围能够检测出集电子的同心度是否为合格；检测完成后，推动推杆，使得推杆朝向集电子移动，利用顶针部将铜针从定位孔内顶出，实现集电子的卸取。焊接强度检测：手握住集电子的铜针，将集电子的底盖滑入到限位槽41的底部，滑至底部后，向下摁铜针45度，将铜针摁入到避让槽4521内，铜针下弯45度后，若铜针与底盖不脱离则说明焊接强度合格，反之则不合格。综上所述，本技术能够实现集电子的同心度、垂直度以及焊接强度的检测，具有多功能检测功能，使用方便，检测准确。本实施例中，旋转轴33的安装结构为：所述立板12的背面通过螺栓安装有旋转轴安装座36，旋转轴安装座36朝向立板12的一侧具有安装槽361，所述旋转轴33的局部位置伸入到安装槽361内并且通过轴承37可转动固定于旋转轴安装座36上，以及旋转轴33与立板12为垂直设置。该结构下，能够实现旋转轴33在立板12背面的可转动安装。本实施例中，为了对同心度检测的集电子进行更好的定位：所述立板12上具有供铜针穿过的第二针孔121，以及所述第二针孔121与定位孔3311对应，并且第二针孔121的直径与铜针的直径相接近。该第二针孔121的设置，一方面能够便于铜针穿过立板12插入到定位孔3311内，以对铜针起到导向作用；另一方面，可对铜针起到旋转定位的作用，避免集电子发生偏心转动的问题。本实施例中，为了便于将旋转轴33转动：所述旋转轴33对应位于旋转轴安装座36外部的部位上周向限位套装有转轮35。本实施例中，旋转轴33的结构进一步设置为：所述旋转轴33包括轴管332和通过卡圈5卡合于轴管332内的定位块331，所述定位孔3311开设于定位块上。该结构下，能够便于定位块331的更换。本实施例中，凹槽的结构进一步设置为：所述凹槽分为第一凹槽452和第二凹槽451，所述第二凹槽451位于第一凹槽452内，形成阶梯结构；所述挡块42安装于第一凹槽45本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于集电子的检测装置，其特征是：包括底座和设置于底座上的垂直度测试结构、同心度测试结构以及焊接强度测试结构；/n所述垂直度测试结构包括开设于底座上的第一针孔和圆槽，所述第一针孔与圆槽为同心结构，以及第一针孔的直径与铜针的直径相匹配，圆槽的直径与底盖的直径相匹配；/n所述同心度测试结构包括百分表、旋转轴和顶杆；所述旋转轴可转动安装于底座的背面，并且具有供铜针插入的定位孔；所述顶杆沿旋转轴轴向可移动装配于顶杆内，以及顶杆的端部具有伸入定位孔的顶针部；所述百分表固定于底座上，并且百分表的检测端与插装于定位孔的集电子的底盖的圆周面对应；/n所述焊接强度测试结构包括开设于底座上的凹槽和装配于凹槽上的两块挡块，所述凹槽与挡块之间形成供集电子的底盖进入的限位槽，两块所述的挡块之间形成供集电子的铜针伸出的开口，凹槽的底壁上具有与开口对应的避让槽。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于集电子的检测装置，其特征是：包括底座和设置于底座上的垂直度测试结构、同心度测试结构以及焊接强度测试结构；
所述垂直度测试结构包括开设于底座上的第一针孔和圆槽，所述第一针孔与圆槽为同心结构，以及第一针孔的直径与铜针的直径相匹配，圆槽的直径与底盖的直径相匹配；
所述同心度测试结构包括百分表、旋转轴和顶杆；所述旋转轴可转动安装于底座的背面，并且具有供铜针插入的定位孔；所述顶杆沿旋转轴轴向可移动装配于顶杆内，以及顶杆的端部具有伸入定位孔的顶针部；所述百分表固定于底座上，并且百分表的检测端与插装于定位孔的集电子的底盖的圆周面对应；
所述焊接强度测试结构包括开设于底座上的凹槽和装配于凹槽上的两块挡块，所述凹槽与挡块之间形成供集电子的底盖进入的限位槽，两块所述的挡块之间形成供集电子的铜针伸出的开口，凹槽的底壁上具有与开口对应的避让槽。


2.根据权利要求1所述的用于集电子的检测装置，其特征是：所述底座包括底板和安装于底板上的立板。


3.根据权利要求2所述的用于集电子的检测装置，其特征是：...

【专利技术属性】
技术研发人员：史振华，辛吉，张金艳，任丽俐，吴宇豪，蔡庆泉，
申请(专利权)人：浙江长虹飞狮电器工业有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33