深度信息确定方法及装置制造方法及图纸

本申请提供一种深度信息确定方法及装置，方法包括：控制光源交替发射第一调制频率的第一发射光以及第二调制频率的第二发射光到对象；检测所述对象产生的第一反射光以及第二反射光；根据检测到的前后相邻的第二反射光和第一反射光，并基于第一调制频率计算对象的第一深度信息；根据检测到的前后相邻的第一反射光和第二反射光，并基于第二调制频率计算对象的第二深度信息。本申请中，所使用的发射光的调制频率均大于50M，因此可以避免SNR较差的问题，提高解缠绕的成功率；另外，在确定深度信息时，每相邻的两帧反射光可以确定得到一个深度信息，因此可以得到更多数量的深度信息，从而有助于减少功耗。

【技术实现步骤摘要】
深度信息确定方法及装置
本申请涉及飞时测距
，尤其涉及一种深度信息确定方法及装置。
技术介绍
近年来，可以获取深度信息的深度摄像头受到广泛关注，相比于传统的摄像头，深度摄像头可以提供对象的3D（三维）信息，可以实现辅助对焦，背景虚化等功能，因此广泛应用于智能手机、无人机、安防系统、人工智能系统等领域。TOF（TimeOfFlight，飞行时间）相机是深度摄像头的一种，TOF相机的基本组成包括发送单元、接收单元以及处理单元，通过发射单元向对象发射调制光，并通过接收单元检测对象的反射光，最后由处理单元根据反射光信号求解得到对象的深度信息。对于发射单元发射的调制光，一种调制频率对应一个最大距离，当对象的距离超出调制光对应的最大距离时，处理单元则无法准确确定对象的深度。此时，需要进行相位解缠绕处理（PhaseUnwrapping）。在进行解缠绕处理的过程中，如何在保证解缠绕正确率的情况下，同时减少功耗，成为亟待解决的问题。
技术实现思路
本申请提供一种深度信息确定方法及装置，可以在保证解缠绕正确率的情况下，同时减少功耗。第一方面，本申请提供一种深度信息确定方法，包括：控制光源交替发射第一调制频率的第一发射光以及第二调制频率的第二发射光到对象，其中，第一调制频率和第二调制频率均大于50M，且第一调制频率与第二调制频率不同；检测对象产生的第一反射光以及第二反射光，其中，第一反射光为第一发射光对应的反射光，第二反射光为第二发射光对应的反射光；根据检测到的前后相邻的第二反射光和第一反射光，并基于第一调制频率计算对象的第一深度信息；根据检测到的前后相邻的第一反射光和第二反射光，并基于第二调制频率计算对象的第二深度信息。在一些实施例中，根据检测到的前后相邻的第二反射光和第一反射光，并基于第一调制频率计算对象的第一深度信息包括：根据检测到的第一反射光计算第一相位，其中，第一相位反映第一发射光与检测到的第一反射光之间的相位差；根据检测到的第二反射光计算第二相位，其中，第二相位反映第二发射光与检测到的第二反射光之间的相位差；根据第一相位和第二相位，并基于第一调制频率确定对象的第一深度信息，其中第二反射光先于第一反射光被检测到。在一些实施例中，根据第一相位和第二相位，并基于第一调制频率确定对象的第一深度信息，包括：根据第一相位以及第二相位，确定第一反射光的真实周期数，并依据真实周期数、第一相位、第一调制频率和光速计算第一深度信息。在一些实施例中，根据检测到的前后相邻的第一反射光和第二反射光，并基于第二调制频率计算对象的第二深度信息包括：根据检测到的第一反射光计算第一相位，其中，第一相位反映第一发射光与检测到的第一反射光之间的相位差；根据检测到的第二反射光计算第二相位，其中，第二相位反映第二发射光与检测到的第二反射光之间的相位差；根据第一相位和第二相位，并基于第二调制频率确定对象的第二深度信息，其中第一反射光先于第二反射光被检测到。在一些实施例中，根据第一相位和第二相位，并基于第二调制频率确定对象的第二深度信息，包括：根据第一相位以及第二相位，确定第二反射光的真实周期数，并依据真实周期数、第二相位、第二调制频率和光速计算第二深度信息。在一些实施例中，根据检测到的第一反射光计算第一相位包括：获取第一反射光的光强度检测结果，根据第一反射光的光强度检测结果确定第一反射光的第一相位；根据检测到的第二反射光计算第二相位包括：获取第二反射光的光强度检测结果，根据第二反射光的光强度检测结果确定第二反射光的第二相位。在一些实施例中，获取第一反射光的光强度检测结果，根据第一反射光的光强度检测结果确定第一反射光的第一相位包括：获取连续发射的四次第一反射光检测到的连续四次第一反射光的强度，根据检测到的连续四次第一反射光的强度计算第一相位；获取第二反射光的光强度检测结果，根据第二反射光的光强度检测结果确定第二反射光的第二相位包括：获取连续发射的四次第二反射光检测到的连续四次第二反射光的强度，根据检测到的连续四次第二反射光的强度计算第二相位。在一些实施例中，根据第一相位、第二相位、第一调制频率以及第二调制频率确定第一反射光或第二反射光的真实周期数。在一些实施例中，根据第一相位、第二相位、第一调制频率以及第二调制频率确定第一反射光或第二反射光的真实周期数，包括：通过以下公式确定所述第一反射光或第二反射光的真实周期数：其中，n1表示所述第一反射光的真实周期数，n2表示所述第二反射光的真实周期数，表示所述第一相位，表示所述第二相位，f1表示所述第一调制频率，f2表示所述第二调制频率。在一些实施例中，第一调制频率的取值范围为：80MHz~100MHz；第二调制频率的取值范围为：50MHz~80MHz。在一些实施例中，第一调制频率取值为100MHz，第二调制频率取值为80MHz。在一些实施例中，还包括：交替输出第一深度信息和第二深度信息。第二方面，本申请提供一种深度信息确定装置，包括：光发射模块，用于控制光源交替发射第一调制频率的第一发射光以及第二调制频率的第二发射光到对象，其中，所述第一调制频率和所述第二调制频率均大于50M，且所述第一调制频率与所述第二调制频率不同；光检测模块，用于检测所述对象产生的第一反射光以及第二反射光，其中，所述第一反射光为所述第一发射光对应的反射光，所述第二反射光为所述第二发射光对应的反射光；处理模块，用于根据检测到的前后相邻的第二反射光和第一反射光，并基于第一调制频率计算对象的第一深度信息；根据检测到的前后相邻的第一反射光和第二反射光，并基于第二调制频率计算对象的第二深度信息。在一些实施例中，还包括：输出模块，用于交替输出第一深度信息和第二深度信息。第三方面，本申请提供一种终端设备，包括：存储器，处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述的深度信息确定方法。第四方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，所述计算机执行指令被处理器执行时用于实现上述的深度信息确定方法。第五方面，本申请提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述的深度信息确定方法。本申请提供的深度信息确定方法及装置，方法包括：控制光源交替发射第一调制频率的第一发射光以及第二调制频率的第二发射光到对象，其中，所述第一调制频率和所述第二调制频率均大于50M，且所述第一调制频率与所述第二调制频率不同；检测所述对象产生的第一反射光以及第二反射光，其中，所述第一反射光为所述第一发射光对应的反射光，所述第二反射光为所述第二发射光对应的反射光；根据检测到的前后相邻的第二反射光和第一反射光，并基于第一调制频率计本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种深度信息确定方法，其特征在于，包括：/n控制光源交替发射第一调制频率的第一发射光以及第二调制频率的第二发射光到对象，其中，所述第一调制频率和所述第二调制频率均大于50M，且所述第一调制频率与所述第二调制频率不同；/n检测所述对象产生的第一反射光以及第二反射光，其中，所述第一反射光为所述第一发射光对应的反射光，所述第二反射光为所述第二发射光对应的反射光；/n根据检测到的前后相邻的第二反射光和第一反射光，并基于所述第一调制频率计算所述对象的第一深度信息；/n根据检测到的前后相邻的第一反射光和第二反射光，并基于所述第二调制频率计算所述对象的第二深度信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种深度信息确定方法，其特征在于，包括：
控制光源交替发射第一调制频率的第一发射光以及第二调制频率的第二发射光到对象，其中，所述第一调制频率和所述第二调制频率均大于50M，且所述第一调制频率与所述第二调制频率不同；
检测所述对象产生的第一反射光以及第二反射光，其中，所述第一反射光为所述第一发射光对应的反射光，所述第二反射光为所述第二发射光对应的反射光；
根据检测到的前后相邻的第二反射光和第一反射光，并基于所述第一调制频率计算所述对象的第一深度信息；
根据检测到的前后相邻的第一反射光和第二反射光，并基于所述第二调制频率计算所述对象的第二深度信息。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据检测到的前后相邻的第二反射光和第一反射光，并基于所述第一调制频率计算所述对象的第一深度信息包括：
根据检测到的所述第一反射光计算第一相位，其中，所述第一相位反映所述第一发射光与所述检测到的第一反射光之间的相位差；
根据检测到的所述第二反射光计算第二相位，其中，所述第二相位反映所述第二发射光与所述检测到的第二反射光之间的相位差；
根据所述第一相位和所述第二相位，并基于所述第一调制频率确定所述对象的第一深度信息，其中所述第二反射光先于所述第一反射光被检测到。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一相位和所述第二相位，并基于所述第一调制频率确定所述对象的第一深度信息，包括：
根据所述第一相位以及所述第二相位，确定所述第一反射光的真实周期数，并依据所述真实周期数、所述第一相位、所述第一调制频率和光速计算所述第一深度信息。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据检测到的前后相邻的第一反射光和第二反射光，并基于所述第二调制频率计算所述对象的第二深度信息包括：
根据检测到的所述第一反射光计算第一相位，其中，所述第一相位反映所述第一发射光与所述检测到的第一反射光之间的相位差；
根据检测到的所述第二反射光计算第二相位，其中，所述第二相位反映所述第二发射光与所述检测到的第二反射光之间的相位差；
根据所述第一相位和所述第二相位，并基于所述第二调制频率确定所述对象的第二深度信息，其中所述第一反射光先于所述第二反射光被检测到。


5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一相位和所述第二相位，并基于所述第二调制频率确定所述对象的第二深度信息，包括：
根据所述第一相位以及所述第二相位，确定所述第二反射光的真实周期数，并依据所述真实周期数、所述第二相位、所述第二调制频率和光速计算所述第二深度信息。


6.根据权利要求2-5任意一项所述的方法，其特征在于，所述根据检测到的所述第一反射光计算第一相位包括：
获取所述第一反射光的光强度检测结果，根据所述第一反射光的光强度检测结果确定所述第一反射光的第一相位；
所述根据检测到的所述第二反射光计算第二相位包...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾园，吴勇辉，
申请(专利权)人：深圳市汇顶科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44