三相交流电缺相检测电路及其检测方法技术

技术编号:27738453 阅读:25 留言:0更新日期:2021-03-19 13:31
本发明专利技术提供一种三相交流电缺相检测电路及其检测方法,所述检测电路包括:所述三相交流电的第一相通过第一电阻、第一二极管、第四二极管、第四电阻依次串联后再回接到所述三相交流电的第一相;所述三相交流电的第二相通过第二电阻、第二二极管、第四二极管、第五电阻依次串联后再回接到所述三相交流电的第二相;所述三相交流电的第三相通过第三电阻、第三二极管、第四二极管、第六电阻依次串联后再回接到所述三相交流电的第三相;所述第四二极管的两端并联一个光耦。本发明专利技术电路结构简单;使用的元器件种类和数量较少,成本低;而且检测方法不受三相交流电波动的影响,不需要运放、比较器等集成电路,检测稳定,可靠性高。

【技术实现步骤摘要】
三相交流电缺相检测电路及其检测方法
本专利技术涉及输入为三相交流电的变频器、伺服驱动器等
,尤其涉及三相交流电缺相检测电路及其检测方法。
技术介绍
目前大多数的三相交流电缺相检测电路大多是通过对交流电整流、分压再通过比较器和参考电压进行比较后输出缺相检测结果给相关电路,比如给指示或显示电路或者给MCU/DSP控制单元使用。图1所示为一种现有的三相交流电缺相检测电路。其缺相检测原理为:三相交流电经整流桥Q1整流后再经分压电阻R4'和R6',分压VC送到第二比较器IC1B的正相输入端PIN5,正相输入端PIN5电压和反相输入端PIN6电压(参考电压VR)进行比较。正常情况下正相输入端PIN5的电压是高于反相输入端PIN6的参考电压的,第二比较器IC1B的输出端PIN7输出高电压,第一二极管D1'反向截止,第一比较器IC1A的正向输入端PIN3电压低于反相输入端PIN2的电压,输出端PIN1输出低电平,第二二极管D2'不亮。当出现缺相时,分压VC电压会明显降低并出现分压VC小于参考电压VR,此时第二比较器IC1B的输出端PIN7输出低电平,第一二极管D1'正偏导通,并将第一比较器IC1A的正相输入端PIN2电压拉低到0.7V左右(二极管的正向压降),于是就出现了反相输入端PIN3电压高于正相输入端PIN2电压,输出端PIN1输出高电平,第二二极管D2'导通发光指示缺相。此现有检测电路存在的问题和缺点如下:①检测电路使用的器件数量和种类相对较多,如图1中有一个整流桥、八个电阻、二个比较器、两个二极管(含一个发光二极管)、一个电容,五个种类的元件;②针对图1所示的检测电路,即使不缺相,在输入电压低到一定程度的时候该检测电路也会输出缺相信号,但实际不是缺相是输入电压低。
技术实现思路
鉴于目前现有技术的不足,本专利技术的目的在于提供一种结构简单、检测准确的三相交流电缺相检测电路及其检测方法。为达到上述目的,本专利技术的实施例采用如下技术方案:一种三相交流电缺相检测电路,所述检测电路包括:所述三相交流电的第一相通过第一电阻、第一二极管、第四二极管、第四电阻依次串联后再回接到所述三相交流电的第一相;所述三相交流电的第二相通过第二电阻、第二二极管、第四二极管、第五电阻依次串联后再回接到所述三相交流电的第二相;所述三相交流电的第三相通过第三电阻、第三二极管、第四二极管、第六电阻依次串联后再回接到所述三相交流电的第三相;所述第四二极管的两端并联一个光耦。进一步,所述三相交流电的第一相连接所述第一电阻的第一端,所述第一电阻的第二端连接所述第一二极管的正极,所述第一二极管的负极连接所述第四二极管的负极,所述第四二极管的正极连接所述第四电阻的第一端,所述第四电阻的第二端连接所述三相交流电的第一相;所述三相交流电的第二相连接所述第二电阻的第一端,所述第二电阻的第二端连接所述第二二极管的正极,所述第二二极管的负极连接所述第四二极管的负极,所述第四二极管的正极连接所述第五电阻的第一端,所述第五电阻的第二端连接所述三相交流电的第二相;所述三相交流电的第三相连接所述第三电阻的第一端,所述第三电阻的第二端连接所述第三二极管的正极,所述第三二极管的负极连接所述第四二极管的负极,所述第四二极管的正极连接所述第六电阻的第一端,所述第六电阻的第二端连接所述三相交流电的第三相。进一步,所述光耦一次侧的正向输入端连接所述第四二极管的负极,所述光耦一次侧的负向输入端连接所述第四二极管的正极,所述光耦二次侧的第一端连接电源,所述光耦二次侧的第二端输出检测信号。一种三相交流电缺相检测电路的检测方法,采用如前所述的检测电路,所述检测方法包括:在三相交流电正常无缺相的情况下,在三相交流电的整个周期内所述光耦输出的检测信号始终为正常信号;在三相交流电其中任意一相缺相的情况下,在三相交流电的整个周期内所述光耦输出的检测信号包括异常信号。进一步,所述正常信号为高电平,所述异常信号为低电平。进一步,在三相交流电正常无缺相的情况下,在三相交流电的整个周期内所述检测方法包括:在T0时刻,所述三相交流电的第一相电压等于第三相电压大于第二相电压,此时电流从第一相流经所述光耦回到第二相构成回路,也从第三相流经所述光耦回到第二相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号,在第一相和第三相之间不会有电流流动;在T0-T1阶段,所述三相交流电的第一相电压大于第三相电压大于第二相电压,此时电流从第一相流经所述光耦分别回到第二相和第三相构成回路,也从第三相流经所述光耦回到第二相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号;在T1时刻,所述三相交流电的第一相电压大于第三相电压等于第二相电压,此时电流从第一相流经所述光耦分别回到第二相和第三相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号,在第二相和第三相之间不会有电流流动;在T1-T2阶段,所述三相交流电的第一相电压大于第二相电压大于第三相电压,此时电流从第一相流经所述光耦分别回到第二相和第三相构成回路,也从第二相流经所述光耦回到第三相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号;在T2时刻,所述三相交流电的第一相电压等于第二相电压大于第三相电压,此时电流从第一相流经所述光耦回到第三相构成回路,也从第二相流经所述光耦回到第三相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号,在第一相和第二相之间不会有电流流动;在T2-T3阶段,所述三相交流电的第二相电压大于第一相电压大于第三相电压,此时电流从第二相流经所述光耦分别回到第一相和第三相构成回路,也从第一相流经所述光耦回到第三相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号;在T3时刻,所述三相交流电的第二相电压大于第一相电压等于第三相电压,此时电流从第二相流经所述光耦分别回到第一相和第三相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号,在第一相和第三相之间不会有电流流动;在T3-T4阶段,所述三相交流电的第二相电压大于第三相电压大于第一相电压,此时电流从第二相流经所述光耦分别回到第一相和第三相构成回路,也从第三相流经所述光耦回到第一相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号;在T4时刻,所述三相交流电的第三相电压等于第二相电压大于第一相电压,此时电流从第三相流经所述光耦回到第一相构成回路,也从第二相流经所述光耦回到第一相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号,在第二相和第三相之间不会有电流流动;在T4-T5阶段,所述三相交流电的第三相电压大于第二相电压大于第一相电压,此时电流从第三相流经所述光耦分别回到第一相和第二相构成回路,也从第二相流经所述光耦回到第一相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号;在T5时刻,所述三相交流电的第三相电压大于第一相本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种三相交流电缺相检测电路,其特征在于,所述检测电路包括:所述三相交流电的第一相通过第一电阻、第一二极管、第四二极管、第四电阻依次串联后再回接到所述三相交流电的第一相;所述三相交流电的第二相通过第二电阻、第二二极管、第四二极管、第五电阻依次串联后再回接到所述三相交流电的第二相;所述三相交流电的第三相通过第三电阻、第三二极管、第四二极管、第六电阻依次串联后再回接到所述三相交流电的第三相;所述第四二极管的两端并联一个光耦。/n

【技术特征摘要】
1.一种三相交流电缺相检测电路,其特征在于,所述检测电路包括:所述三相交流电的第一相通过第一电阻、第一二极管、第四二极管、第四电阻依次串联后再回接到所述三相交流电的第一相;所述三相交流电的第二相通过第二电阻、第二二极管、第四二极管、第五电阻依次串联后再回接到所述三相交流电的第二相;所述三相交流电的第三相通过第三电阻、第三二极管、第四二极管、第六电阻依次串联后再回接到所述三相交流电的第三相;所述第四二极管的两端并联一个光耦。


2.根据权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述三相交流电的第一相连接所述第一电阻的第一端,所述第一电阻的第二端连接所述第一二极管的正极,所述第一二极管的负极连接所述第四二极管的负极,所述第四二极管的正极连接所述第四电阻的第一端,所述第四电阻的第二端连接所述三相交流电的第一相;所述三相交流电的第二相连接所述第二电阻的第一端,所述第二电阻的第二端连接所述第二二极管的正极,所述第二二极管的负极连接所述第四二极管的负极,所述第四二极管的正极连接所述第五电阻的第一端,所述第五电阻的第二端连接所述三相交流电的第二相;所述三相交流电的第三相连接所述第三电阻的第一端,所述第三电阻的第二端连接所述第三二极管的正极,所述第三二极管的负极连接所述第四二极管的负极,所述第四二极管的正极连接所述第六电阻的第一端,所述第六电阻的第二端连接所述三相交流电的第三相。


3.根据权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述光耦一次侧的正向输入端连接所述第四二极管的负极,所述光耦一次侧的负向输入端连接所述第四二极管的正极,所述光耦二次侧的第一端连接电源,所述光耦二次侧的第二端输出检测信号。


4.一种三相交流电缺相检测电路的检测方法,采用如权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述检测方法包括:
在三相交流电正常无缺相的情况下,在三相交流电的整个周期内所述光耦输出的检测信号始终为正常信号;
在三相交流电其中任意一相缺相的情况下,在三相交流电的整个周期内所述光耦输出的检测信号包括异常信号。


5.根据权利要求4所述的检测方法,其特征在于,所述正常信号为高电平,所述异常信号为低电平。


6.根据权利要求4所述的检测方法,其特征在于,在三相交流电正常无缺相的情况下,在三相交流电的整个周期内所述检测方法包括:
在T0时刻,所述三相交流电的第一相电压等于第三相电压大于第二相电压,此时电流从第一相流经所述光耦回到第二相构成回路,也从第三相流经所述光耦回到第二相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号,在第一相和第三相之间不会有电流流动;
在T0-T1阶段,所述三相交流电的第一相电压大于第三相电压大于第二相电压,此时电流从第一相流经所述光耦分别回到第二相和第三相构成回路,也从第三相流经所述光耦回到第二相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号;
在T1时刻,所述三相交流电的第一相电压大于第三相电压等于第二相电压,此时电流从第一相流经所述光耦分别回到第二相和第三相构成回路,所述光耦一次侧发光二次侧感光导通输出检测信号为正常信号,在第二相和第三相之间不会有电流流动;
在T1-T2阶段,所述三相交流电的第一相电压大于第二相电压大于第三相电压,此时电流从第一相流经所述光耦...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈志领肖庆恩陆卫丽李林林
申请(专利权)人:苏州格远电气有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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