产品认证方法及相关装置制造方法及图纸

本申请公开一种产品认证方法、系统、可读存储介质及电子设备，属于数据处理领域，方法包括预先建立质量影响因素数据库，按照产品分类，针对每类产品保存对该产品的质量存在影响的因素集合，并保存每个质量影响因素的权重，在认证过程中，用户从系统中选择待认证产品，并输入待认证产品对应的最底层级中每个质量影响因素的评语数值；系统根据最底层级中每个质量影响因素的评语数值和每个质量影响因素的权重，自动计算出待认证产品的评价结果。由系统自动计算，提高了产品认证效率，且使得评价结果更加客观。

【技术实现步骤摘要】
产品认证方法及相关装置
本专利技术涉及数据处理领域，更具体地说，涉及产品认证方法、系统、可读存储介质及电子设备。
技术介绍
产品认证分为国家强制性产品认证和自愿性产品认证。强制性产品认证要求由国家制定颁布，各认证机构执行，侧重于产品最基本的安全要求。自愿性产品认证一般由各个认证机构自己规定。现有的产品认证过程，由认证机构的相关人员，人为分析对产品质量有影响的各因素，并给出产品的评价结果。这种人为认证过程耗时较长，且评价结果容易受到主观因素影响。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提出一种产品认证方法、系统、可读存储介质及电子设备，欲实现提高产品认证的效率且减少评价结果受到主观因素的影响的目的。为了实现上述目的，现提出的方案如下：一种产品认证方法，包括：接收并响应待认证产品确定指令，从质量影响因素数据库获取待认证产品各层级的质量影响因素和每个所述质量影响因素的权重，并显示最低层级的所有质量影响因素；接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值；将低层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到比所述低层级高一级的质量影响因素的评语数值；输出所述待认证产品的评价结果，最高层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到的为所述待认证产品的评价结果。可选的，同类别质量影响因素的权重计算过程包括：接收用户输入的针对所述同类别质量影响因素的判断矩阵；计算得到所述判断矩阵的最大特征值；计算得到与所述最大特征根对应的特征向量；对所述特征向量进行归一化处理，归一化处理后的特征向量中的各个元素为所述同类别质量影响因素的权重。可选的，在所述计算得到所述判断矩阵的最大特征值的步骤后，还包括：将所述最大特征值代入矩阵参数公式，得到矩阵参数，所述矩阵参数公式为：C＝(λmax-m)/[(m-1)*R]其中，m为所述判断矩阵的阶数，R为与所述判断矩阵的阶数相关的常数，λmax为所述最大特征值，C为所述矩阵参数；判断所述矩阵参数是否大于参数阈值，若否，则执行所述计算得到与所述最大特征根对应的特征向量的步骤，若是，提示用户修改所述判断矩阵。可选的，在所述接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值的步骤后，还包括：将最低层级中的同类别质量影响因素的评语数值进行归一化处理。一种产品认证系统，包括：资源控制模块，用于接收并响应待认证产品确定指令，从质量影响因素数据库获取待认证产品各层级的质量影响因素和每个所述质量影响因素的权重，并显示最低层级的所有质量影响因素；评语数值模块，用于接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值；数据处理模块，用于将低层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到比所述低层级高一级的质量影响因素的评语数值；输出数据模块，用于输出所述待认证产品的评价结果，最高层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到的为所述待认证产品的评价结果。可选的，上述产品认证系统，还包括：判断矩阵模块，用于接收用户输入的针对所述同类别质量影响因素的判断矩阵；最大特征值模块，用于计算得到所述判断矩阵的最大特征值；特征向量模块，用于计算得到与所述最大特征根对应的特征向量；第一归一化模块，用于对所述特征向量进行归一化处理，归一化处理后的特征向量中的各个元素为所述同类别质量影响因素的权重。可选的，上述产品认证系统，还包括：矩阵参数模块，用于将所述最大特征值代入矩阵参数公式，得到矩阵参数，所述矩阵参数公式为：C＝(λmax-m)/[(m-1)*R]其中，m为所述判断矩阵的阶数，R为与所述判断矩阵的阶数相关的常数，λmax为所述最大特征值，C为所述矩阵参数；判断模块，用于判断所述矩阵参数是否大于参数阈值，若否，则执行所述特征向量模块，若是，提示用户修改所述判断矩阵。可选的，上述产品认证系统，还包括：第二归一化模块，用于将最低层级中的同类别质量影响因素的评语数值进行归一化处理。一种可读存储介质，其上存储有程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时，实现上述任意一种产品认证方法的各个步骤。一种电子设备，包括存储器和处理器，其中，所述存储器，用于存储程序；所述处理器，用于执行所述程序，实现上述任意一种产品认证方法的各个步骤。与现有技术相比，本专利技术的技术方案具有以下优点：上述技术方案提供的一种产品认证方法，预先建立质量影响因素数据库，按照产品分类，针对每类产品保存对该产品的质量存在影响的因素集合，并保存每个质量影响因素的权重，在认证过程中，用户从系统中选择待认证产品，并输入待认证产品对应的最底层级中每个质量影响因素的评语数值；系统根据最底层级中每个质量影响因素的评语数值和每个质量影响因素的权重，自动计算出待认证产品的评价结果。由系统自动计算，提高了产品认证效率，且使得评价结果更加客观。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种产品认证方法的流程图；图2为本专利技术实施例提供的一种权重计算方法的流程图；图3为本专利技术实施例提供的一种产品认证系统的逻辑结构示意图；图4为本专利技术实施例提供的一种电子设备的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本实施例提供了一种产品认证方法，应用于电子设备中，电子设备包括但不限于计算机、智能手机和平板电脑等。参见图1，该产品认证方法可以包括步骤：S11：接收并响应待认证产品确定指令，从质量影响因素数据库获取待认证产品各层级的质量影响因素和每个所述质量影响因素的权重，并显示最低层级的所有质量影响因素。预先建立质量影响因素数据库，按照产品分类，针对每类产品保存对该产品的质量存在影响的因素集合，并保存每个质量影响因素的权重。产品的质量影响因素分为多层级，低层级的同类质量影响因素组成在一起对应高一层级的质量影响因素。例如，某个产品的质量影响因素包括两个层级，高层级的质量影响因素包括但不限于人员配置、设备设置、采购管理、技术能力、检验能力、生产能力和文件记录等。人员配置对应的低层级的同类质量影响因素包括认证管理人员能力、技术人员能力、生产人员能力、检验人员能力和采购人员能力等。技术能力包括技术管理水平、产品技术地位、技术来源、技术变更本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种产品认证方法，其特征在于，包括：/n接收并响应待认证产品确定指令，从质量影响因素数据库获取待认证产品各层级的质量影响因素和每个所述质量影响因素的权重，并显示最低层级的所有质量影响因素；/n接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值；/n将低层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到比所述低层级高一级的质量影响因素的评语数值；/n输出所述待认证产品的评价结果，最高层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到的为所述待认证产品的评价结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种产品认证方法，其特征在于，包括：
接收并响应待认证产品确定指令，从质量影响因素数据库获取待认证产品各层级的质量影响因素和每个所述质量影响因素的权重，并显示最低层级的所有质量影响因素；
接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值；
将低层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到比所述低层级高一级的质量影响因素的评语数值；
输出所述待认证产品的评价结果，最高层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到的为所述待认证产品的评价结果。


2.根据权利要求1所述的产品认证方法，其特征在于，同类别质量影响因素的权重计算过程包括：
接收用户输入的针对所述同类别质量影响因素的判断矩阵；
计算得到所述判断矩阵的最大特征值；
计算得到与所述最大特征根对应的特征向量；
对所述特征向量进行归一化处理，归一化处理后的特征向量中的各个元素为所述同类别质量影响因素的权重。


3.根据权利要求2所述的产品认证方法，其特征在于，在所述计算得到所述判断矩阵的最大特征值的步骤后，还包括：
将所述最大特征值代入矩阵参数公式，得到矩阵参数，所述矩阵参数公式为：C＝(λmax-m)/[(m-1)*R]
其中，m为所述判断矩阵的阶数，R为与所述判断矩阵的阶数相关的常数，λmax为所述最大特征值，C为所述矩阵参数；
判断所述矩阵参数是否大于参数阈值，若否，则执行所述计算得到与所述最大特征根对应的特征向量的步骤，若是，提示用户修改所述判断矩阵。


4.根据权利要求1～3任意一项所述的产品认证方法，其特征在于，在所述接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值的步骤后，还包括：
将最低层级中的同类别质量影响因素的评语数值进行归一化处理。


5.一种产品认证系统，其特征在于，包括：
资源控制模块，用于接收并响应待认证产品确定指令，从质量影响因素数据库获取待认证产品各层级的质量影响因素和每个所述质量影响因素的权...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾一凡，王春杰，孔珍珍，吴群，张小勇，张艳，
申请(专利权)人：西安高压电器研究院有限责任公司，中国西电电气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西;61