一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机制造技术

本发明专利技术涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机。本发明专利技术包括：自动测试柜设于机器钣金内部；机械手臂的X轴水平移动机构固定于高台上；机械手臂抓取器件测试盘，并将器件测试盘置于测试单元格，以及取出测试单元格内的器件测试盘；料盘轨道设于机器钣金上，料盘轨道在高台的下前方两端连接自动进料端和自动出料端；自动进料端提供待测试的器件测试盘，自动出料端储存测试完成的器件测试盘；扫码器设于机器钣金上且设于料盘轨道的进料端的上方；扫码器扫描器件测试盘上的二维码，并将器件测试信息上传至控制器；控制器根据器件测试信息，控制机械手臂将器件测试盘从料盘轨道搬运至测试单元格。本发明专利技术能够提高器件的测试效率，降低人力成本。

【技术实现步骤摘要】
一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机
本专利技术涉及器件老化测试及无线通讯器件屏蔽测试领域，特别是涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机。
技术介绍
芯片老化测试是一种采用电压和高温来加速器件电学故障的电应力测试方法。老化过程基本上模拟运行了芯片整个寿命，因为老化过程中应用的电激励反映了芯片工作的最坏情况。根据不同的老化时间，所得资料的可靠性可能涉及到的器件的早期寿命或磨损程度。老化测试可以用来作为器件可靠性的检测或作为生产窗口来发现器件的早期故障。芯片复杂度越来越高，为了保证出厂的芯片没有问题，需要在出厂前进行测试以确保功能完整性等。而芯片作为一个大规模生产的东西，大规模自动化测试是唯一的解决办法。电磁干扰/EMI是整个电子领域必须面临和克服的一个问题，一般在无线通讯产品比如:手机、无线网卡、无线路由器、无线耳机、蓝牙耳机、wi-fi、wimax、数据卡、对讲机、RFID等等无线通讯类设备和无线通讯类模块等在进行板测、终测过程中，都是通过使用射频测试屏蔽箱来改善测试环境的。屏蔽箱又名屏蔽盒、隔离箱。是利用导电或者导磁材料制成的各种形状的屏蔽体，将电磁能力限制在一定空间范围内，用于抑制辐射干扰的金属体。并对传导和辐射进行处理，以实现给被测无线通讯设备提供无干扰的测试环境的设备。主要服务于各种从事无线电子产品、无线通讯产品生产及研发的企业，以及各类电子、电器消费类产品生产企业等。随着行业的发展，人工进行屏蔽测试的行为终将被自动化设备所替代。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，以解决靠人工对电子器件测试的测试效率低，且人力成本高的问题。为实现上述目的，本专利技术提供了如下方案：一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，包括：机器钣金、自动测试柜、机械手臂、料盘轨道、器件测试盘、扫码器以及控制器；所述自动测试柜设于所述机器钣金内部；所述自动测试柜上设有多个测试单元格；所述测试单元格用于测试所述器件测试盘内的待测试电子器件；所述机器钣金上设有高台，所述机械手臂的X轴水平移动机构固定于所述高台上；所述机械手臂用于抓取所述器件测试盘，并将所述器件测试盘置于所述测试单元格，以及取出所述测试单元格内的所述器件测试盘；所述料盘轨道设于所述机器钣金上，所述料盘轨道与所述高台在同一垂直方向上平行相对设置；所述料盘轨道用于传输所述器件测试盘；所述扫码器设于所述机器钣金上且设于所述料盘轨道的进料端的上方；所述扫码器用于扫描所述器件测试盘上的二维码，并将所述二维码上的器件的测试信息上传至所述控制器；所述控制器还分别与每个所述测试单元格、所述机械手臂以及所述料盘轨道相连接；所述控制器用于根据所述器件测试信息，控制所述机械手臂将所述器件测试盘从所述料盘轨道搬运至所述测试单元格。可选的，所述器件测试盘上设有多个测试座；一个所述测试座内嵌一个所述待测试器件；器件可为芯片和PCB模块等每个所述测试座的内部设有器件测试对接点；所述器件测试盘的外部设有接头；所述器件测试对接点与所述接头相连通；所述器件测试盘测试对接点用于连接所述待测试器件的器件测试点位；所述接头用于与所述自动测试柜相连接。可选的，所述测试单元格内设有温度计以及计时显示器；所述测试单元格单独供电、单独控温以及单独计时；相邻的两个所述测试单元格之间设有隔热层和屏蔽层。可选的，所述机械手臂，具体包括：X轴水平移动机构、Y轴水平移动机构、Z轴上升机构以及抓取机构；所述X轴水平移动机构、所述Y轴水平移动机构以及所述Z轴上升机构相互垂直；所述Y轴水平移动机构固定于所述X轴水平移动机构上；所述Z轴上升机构固定于所述Y轴水平移动机构上；所述抓取机构固定于所述Z轴上升机构上；所述X轴水平移动机构用于带动所述Y轴水平移动机构做X向直线运动；所述Y轴水平移动机构用于带动所述Z轴上升机构做Y向直线运动；所述Z轴上升机构用于带动所述抓取机构做上下直线运动。可选的，所述抓取机构，具体包括：气缸夹紧装置、旋转马达、旋转电机和上相机；所述气缸夹紧装置与旋转马达电连接；所述旋转马达与所述旋转电机电连接；所述气缸夹紧装置用于夹紧所述器件测试盘；所述旋转马达用于带动所述气缸夹紧装置做旋转运动；所述旋转电机用于调整抓取和放置所述器件测试盘时所述气缸夹紧装置的角度；所述上相机设于所述气缸夹紧装置的一侧；所述上相机用于定位所述器件测试盘的当前位置以及所述测试单元格的当前位置。可选的，所述抓取机构，还包括：第一限位气缸；所述第一限位气缸设于所述料盘轨道的第一位置；所述第一位置与所述扫码器相对设置；所述第一限位气缸与所述控制器电连接；所述第一限位气缸用于阻挡所述器件测试盘传输，并使得所述器件测试盘停留在所述第一位置；由所述扫码器扫描所述二维码之后，所述控制器控制所述第一限位气缸放行所述器件测试盘。可选的，还包括：第二限位气缸；所述第二限位气缸设于所述料盘轨道的第二位置处；所述第二限位气缸用于阻挡所述器件测试盘传输，并使得所述器件测试盘停留在所述第二位置，并由所述机械手臂抓取所述器件测试盘。可选的还包括：下相机；所述下相机设于所述第二限位气缸的下方，并固定于所述料盘轨道上；当所述抓取机构抓取所述器件测试盘时，所述下相机用于校正抓取所述器件测试盘的抓取位置。可选的，还包括：自动进料端以及自动出料端；所述自动进料端设于所述料盘轨道的进料端；所述自动进料端用于放置未测试的器件测试盘；所述自动进料端在丝杆的带动下，带动所述器件测试盘向上运动，将所述器件测试盘送入所述料盘轨道上；所述自动出料端设于所述料盘轨道的出料端；所述自动进料端用于放置已测试的器件测试盘；所述器件测试盘在丝杆的带动下下降至所述自动出料端。根据本专利技术提供的具体实施例，本专利技术公开了以下技术效果：本专利技术提供了一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，只需要将待测试器件放置器件测试盘中，由料盘轨道自动传送器件测试盘，由机械手臂抓取器件测试盘，并放置自动测试柜中，测试完成后，由机械手臂取出器件测试盘，并放置到料盘轨道上，将测试后的器件数据上传至控制器，由显示器进行显示即可，全称无需操作人员控制，可实现大量器件同时自行测试，提高了器件测试效率，降低人力成本。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术所提供的全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机立体图；图2为本专利技术所提供的全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机俯视图；图3为本专利技术所提供的自动测试柜正视图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，其特征在于，包括：机器钣金、自动测试柜、机械手臂、料盘轨道、器件测试盘、扫码器以及控制器；/n所述自动测试柜设于所述机器钣金内部；所述自动测试柜上设有多个测试单元格；所述测试单元格用于测试所述器件测试盘内的待测试器件；/n所述机器钣金上设有高台，所述机械手臂的X轴水平移动机构固定于所述高台上；所述机械手臂用于抓取所述器件测试盘，并将所述器件测试盘置于所述测试单元格，以及取出所述测试单元格内的所述器件测试盘；/n所述料盘轨道设于所述机器钣金上，所述料盘轨道与所述高台在同一垂直方向上平行相对设置；所述料盘轨道用于传输所述器件测试盘；/n所述扫码器设于所述机器钣金上且设于所述料盘轨道的进料端的上方；所述扫码器用于扫描所述器件测试盘上的二维码，并将所述二维码上的器件测试信息上传至所述控制器；/n所述控制器还分别与每个所述测试单元格、所述机械手臂以及所述料盘轨道相连接；所述控制器用于根据所述器件测试信息，控制所述机械手臂将所述器件测试盘从所述料盘轨道搬运至所述测试单元格。/n

【技术特征摘要】
1.一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，其特征在于，包括：机器钣金、自动测试柜、机械手臂、料盘轨道、器件测试盘、扫码器以及控制器；
所述自动测试柜设于所述机器钣金内部；所述自动测试柜上设有多个测试单元格；所述测试单元格用于测试所述器件测试盘内的待测试器件；
所述机器钣金上设有高台，所述机械手臂的X轴水平移动机构固定于所述高台上；所述机械手臂用于抓取所述器件测试盘，并将所述器件测试盘置于所述测试单元格，以及取出所述测试单元格内的所述器件测试盘；
所述料盘轨道设于所述机器钣金上，所述料盘轨道与所述高台在同一垂直方向上平行相对设置；所述料盘轨道用于传输所述器件测试盘；
所述扫码器设于所述机器钣金上且设于所述料盘轨道的进料端的上方；所述扫码器用于扫描所述器件测试盘上的二维码，并将所述二维码上的器件测试信息上传至所述控制器；
所述控制器还分别与每个所述测试单元格、所述机械手臂以及所述料盘轨道相连接；所述控制器用于根据所述器件测试信息，控制所述机械手臂将所述器件测试盘从所述料盘轨道搬运至所述测试单元格。


2.根据权利要求1所述的全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，其特征在于，所述器件测试盘上设有多个测试座；一个所述测试座内嵌一个所述待测试器件；器件可为芯片或PCB模块等
每个所述测试座的内部设有器件测试对接点；所述器件测试盘的外部设有接头；所述器件测试对接点与所述接头相连通；所述器件测试对接点用于连接所述待测试器件的器件测试点位；所述接头用于与所述自动测试柜相连接。


3.根据权利要求2所述的全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，其特征在于，所述测试单元格内设有温度计以及计时显示器；所述测试单元格单独供电、单独控温以及单独计时；相邻的两个所述测试单元格之间设有隔热层和屏蔽层。


4.根据权利要求3所述的全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，其特征在于，所述机械手臂，具体包括：X轴水平移动机构、Y轴水平移动机构、Z轴上升机构以及抓取机构；所述X轴水平移动机构、所述Y轴水平移动机构以及所述Z轴上升机构相互垂直；
所述Y轴水平移动机构固定于所述X轴水平移动机构上；所述Z轴上升机构固定于所述Y轴水平移动机构上；所述抓取机构固定于所述Z轴上升机构上；所述X轴水平移动机构用于带动所述Y轴水平移动机构做X向直线运动；所述Y轴...

【专利技术属性】
技术研发人员：周光杰，余振涛，
申请(专利权)人：群沃电子科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32