电路板的清洁检测方法、系统、装置、设备和存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种电路板的清洁检测方法、系统、装置、设备和存储介质，电子设备将电路板上的异物与空气混合，获得混合颗粒；然后通过灰尘颗粒传感器向混合颗粒发射检测激光，并接收检测激光经混合颗粒散射形成的散射激光；对散射激光进行分析，检测混合颗粒中的各个尺寸的颗粒物的数量；最后，基于各个尺寸的颗粒物的数量，计算混合颗粒的颗粒浓度分布数据。采用上述方法可以实现对电路板上的异物的定量分析，从而可以对电路板指定精准的养护和清洁策略。略。略。

【技术实现步骤摘要】
电路板的清洁检测方法、系统、装置、设备和存储介质


[0001]本申请涉及生产工艺
，特别是涉及一种电路板的清洁检测方法、系统、装置、设备和存储介质。

技术介绍

[0002]电路板是控制设备的基础，主要由印刷电路板、电子元器件和接插件组成。电路板在工作环境中会积累灰尘和异物，当电路板工作在具有主动通风系统环境下时积灰现象尤为严重。电路板上的灰尘在湿度增加时会呈低阻状态，引起电路功能异常；恶劣的工作环境还可能导致电路板产生晶须或银迁移等现象，引起设备故障。因此，有必要对电路板的清洁状况进行检测。
[0003]传统方法中，电路板的清洁状况检测主要依赖人工进行，通过人工目视检查直接判断电路板是否存在灰尘等。
[0004]但是，采用上述方法无法对电路板的清洁状况进行定量评估，不利于制定精准的电路板养护及清洁策略。

技术实现思路

[0005]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种电路板的清洁检测方法、系统、装置、设备和存储介质。
[0006]一种电路板的清洁检测方法，上述方法包括：
[0007]将电路板上的异物与空气混合，获得混合颗粒；
[0008]通过灰尘颗粒传感器向混合颗粒发射检测激光，并接收检测激光经混合颗粒散射形成的散射激光；
[0009]对散射激光进行分析，检测混合颗粒中的各个尺寸的颗粒物的数量；
[0010]基于各个尺寸的颗粒物的数量，计算混合颗粒的颗粒浓度分布数据。
[0011]在其中一个实施例中，上述对散射激光进行分析，检测混合颗粒中的各个尺寸的颗粒物的数量，包括：
[0012]通过光电转换电路对散射激光进行光电转换，获得散射激光中各激光脉冲对应的电脉冲；
[0013]根据各电脉冲的幅度和数量，检测混合颗粒中的各个尺寸的颗粒物的数量。
[0014]在其中一个实施例中，上述根据各电脉冲的幅度和数量，检测混合颗粒中的各个尺寸的颗粒物的数量，包括：
[0015]根据预设的幅度尺寸对应关系，分别确定各电脉冲对应的颗粒物的尺寸；幅度尺寸对应关系为电脉冲的幅度与颗粒物的尺寸的对应关系；
[0016]分别将各尺寸对应的电脉冲的数量，确定为尺寸对应的颗粒物的数量。
[0017]在其中一个实施例中，上述基于各个尺寸的颗粒物的数量，计算混合颗粒的颗粒浓度分布数据，包括：
[0018]根据各个尺寸的颗粒物的数量，以及电路板的尺寸，计算各个尺寸的颗粒物的浓度；
[0019]对各浓度进行排列，获得颗粒浓度分布数据。
[0020]在其中一个实施例中，上述将电路板上的异物与空气混合，获得混合颗粒，包括：
[0021]控制高压空气喷射单元吹扫电路板，形成混合颗粒。
[0022]在其中一个实施例中，上述方法还包括：
[0023]控制负压吸附单元吸附混合颗粒，将混合颗粒传送至灰尘颗粒传感器所在区域。
[0024]在其中一个实施例中，上述不同尺寸的颗粒物对应不同的异物类型，方法还包括：
[0025]根据颗粒浓度分布数据，获得颗粒物浓度靠前的至少一种颗粒物的目标尺寸；
[0026]根据预设的尺寸类型对应关系，确定目标尺寸对应的颗粒物类型；尺寸类型对应关系包括各尺寸对应的颗粒物的异物类型；
[0027]根据预设的类型来源对应关系，确定异物类型对应的异物来源；
[0028]根据异物来源，调整电路板的环境参数，以改善电路板的工作环境。
[0029]在其中一个实施例中，上述方法还包括：
[0030]当电路板出现老化失效时，根据环境参数对电路板进行老化失效分析。
[0031]一种电路板的清洁检测系统，上述系统包括高压空气喷射单元、灰尘颗粒传感器以及检测单元，
[0032]高压空气喷射单元，用于将电路板上的异物与空气混合，形成混合颗粒；
[0033]灰尘颗粒传感器用于在检测单元的控制下，向混合颗粒发射检测激光，并接收检测激光经混合颗粒散射形成的散射激光；
[0034]检测单元用于执行权利要求1-8任一项的电路板的清洁检测方法的步骤。
[0035]在其中一个实施例中，上述系统还包括负压吸附单元，用于在检测单元的控制下吸附混合颗粒，将混合颗粒传送至灰尘颗粒传感器所在区域。
[0036]一种电路板的清洁检测装置，上述装置包括：
[0037]获取模块，用于将电路板上的异物与空气混合，获得混合颗粒；
[0038]发射模块，用于通过灰尘颗粒传感器向混合颗粒发射检测激光，并接收检测激光经混合颗粒散射形成的散射激光；
[0039]检测模块，用于对散射激光进行分析，检测混合颗粒中的各个尺寸的颗粒物的数量；
[0040]计算模块，用于基于各个尺寸的颗粒物的数量，计算混合颗粒的颗粒浓度分布数据。
[0041]一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
[0042]将电路板上的异物与空气混合，获得混合颗粒；
[0043]通过灰尘颗粒传感器向混合颗粒发射检测激光，并接收检测激光经混合颗粒散射形成的散射激光；
[0044]对散射激光进行分析，检测混合颗粒中的各个尺寸的颗粒物的数量；
[0045]基于各个尺寸的颗粒物的数量，计算混合颗粒的颗粒浓度分布数据。
[0046]一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执
行时实现以下步骤：
[0047]将电路板上的异物与空气混合，获得混合颗粒；
[0048]通过灰尘颗粒传感器向混合颗粒发射检测激光，并接收检测激光经混合颗粒散射形成的散射激光；
[0049]对散射激光进行分析，检测混合颗粒中的各个尺寸的颗粒物的数量；
[0050]基于各个尺寸的颗粒物的数量，计算混合颗粒的颗粒浓度分布数据。
[0051]上述电路板的清洁检测方法、系统、装置、设备和存储介质，电子设备将电路板上的异物与空气混合，获得混合颗粒；然后通过灰尘颗粒传感器向混合颗粒发射检测激光，并接收检测激光经混合颗粒散射形成的散射激光；对散射激光进行分析，检测混合颗粒中的各个尺寸的颗粒物的数量；最后，基于各个尺寸的颗粒物的数量，计算混合颗粒的颗粒浓度分布数据。由于电子设备获得混合颗粒，使得灰尘颗粒传感器可以对电路板上的异物进行检测分析；进一步地，灰尘颗粒传感器通过发射检测激光，然后对混合颗粒散射形成的散射激光进行分析，检测混合颗粒中的各个尺寸的颗粒物的数量，使得可以根据上述数量获得颗粒浓度分布数据，实现对电路板上的异物的定量分析，从而可以对电路板指定精准的养护和清洁策略。
附图说明
[0052]图1为一个实施例中电路板的清洁检测方法的应用环境图；
[0053]图2为一个实施例中电路板的清洁检测方法的流程示意图；
[0054]图3为另一个实施例中电路板的清洁检测方法的流程示意图；
[0055]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路板的清洁检测方法，其特征在于，所述方法包括：将电路板上的异物与空气混合，获得混合颗粒；通过灰尘颗粒传感器向所述混合颗粒发射检测激光，并接收所述检测激光经所述混合颗粒散射形成的散射激光；对所述散射激光进行分析，检测所述混合颗粒中的各个尺寸的颗粒物的数量；基于所述各个尺寸的颗粒物的数量，计算所述混合颗粒的颗粒浓度分布数据。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述散射激光进行分析，检测所述混合颗粒中的各个尺寸的颗粒物的数量，包括：通过光电转换电路对所述散射激光进行光电转换，获得所述散射激光中各激光脉冲对应的电脉冲；根据各所述电脉冲的幅度和数量，检测所述混合颗粒中的各个尺寸的颗粒物的数量。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据各所述电脉冲的幅度和数量，检测所述混合颗粒中的各个尺寸的颗粒物的数量，包括：根据预设的幅度尺寸对应关系，分别确定各所述电脉冲对应的颗粒物的尺寸；所述幅度尺寸对应关系为电脉冲的幅度与颗粒物的尺寸的对应关系；分别将各所述尺寸对应的电脉冲的数量，确定为所述尺寸对应的颗粒物的数量。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述各个尺寸的颗粒物的数量，计算所述混合颗粒的颗粒浓度分布数据，包括：根据所述各个尺寸的颗粒物的数量，以及所述电路板的尺寸，计算各个尺寸的颗粒物的浓度；对各所述浓度进行排列，获得所述颗粒浓度分布数据。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将电路板上的异物与空气混合，获得混合颗粒，包括：控制高压空气喷射单元吹扫电路板，形成所述混合颗粒。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：控制负压吸附单元吸附所述混合颗粒，将所述混合颗粒传送至所述灰尘颗粒传感器所在区域。7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，不同尺寸的颗粒物对应不同的异物类型，所述方法还包括：根据所述颗粒浓度分布数据，获得颗粒物浓度靠前的至少一种颗粒物...

【专利技术属性】
技术研发人员：董世儒，吴长雷，李勇，丁俊超，浦黎，纪庆泉，
申请(专利权)人：中国广核集团有限公司中国广核电力股份有限公司，
类型：发明
国别省市：