【技术实现步骤摘要】
一种纹理细节级别的获取方法及获取装置
[0001]本专利技术涉及图形处理
,具体地说是一种纹理细节级别的获取方法及获取装置。
技术介绍
[0002]纹理映射是三维图形系统中获取真实图像的重要方法。为呈现出更高的图形质量,开发了mip映射(mipmapping)技术,当物体移近使用者时,程序会在物体表面贴上较精细、清晰度较高的材质图案,于是让物体呈现出更高层、更加真实的效果;而当物体远离使用者时,程序就会贴上较单纯、清晰度较低的材质图样。纹理细节级别(LOD)是协调纹理像素和实际像素之间关系的一个标准。如何高效地计算纹理细节级别,是影响纹理映射效率的重要因素。
技术实现思路
[0003]为了提高纹理映射的效率,避免对数运算及倒数运算,减少浮点运算次数,以实现上述专利技术目的,本专利技术提供了如下技术方案:
[0004]一种纹理细节级别的获取方法,包括如下步骤:
[0005]S1、判断纹理空间实际坐标的第一个分量针对屏幕空间特定方向的求导值A是否大于或等于纹理空间的实际坐标的第二个分量针对屏 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种纹理细节级别的获取方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、判断纹理空间实际坐标的第一个分量针对屏幕空间特定方向的求导值A是否大于或等于纹理空间的实际坐标的第二个分量针对屏幕空间特定方向的求导值B,如果A≥B,进入步骤S2;如果A<B,进入步骤S7;S2、通过定点加法运算计算A的以2为底的对数值log2A;S3、将纹理空间的实际坐标的第一个分量针对屏幕空间特定方向的求导值分为尾数A
man
和指数A
exp
,计算A
man
的倒数S4、将纹理空间的实际坐标的第二个分量针对屏幕空间特定方向的求导值分为尾数B
man
和指数B
exp
,基于定点乘法运算计算的值;S5、基于右移运算计算的值,并计算的值;S6、基于定点加法运算计算的值,并右移1位获取屏幕空间特定方向的纹理细节级别的值,完成计算;S7、通过定点加法运算计算B的以2为底的对数值log2B;S8、将纹理空间的实际坐标的第一个分量针对屏幕空间特定方向的求导值分为尾数B
man
和指数B
exp
,计算B
man
的倒数并基于定点乘法运算计算的值;S9、基于右移运算计算的值,并计算的值;S10、基于定点加法运算计算的值,并右移1位获取屏幕空间特定方向的纹理细节级别的值,完成计算;其中,以(x,y)表示屏幕空间的坐标,以(s,t)表示纹理空间的规范化坐标,以(u,v)表示纹理空间的实际坐标,以A表示B表示并分别用及表示,其中A
man
及B
man
的区间为[1.0,2.0);及分别用及表示,其中A
sman
及A
tman
的区间为[1.0,2.0)。2.如权利要求1所述的一种纹理细节级别的获取方法,其特征在于:其中步骤S2包括:S21:计算纹理图像的宽度的以2为底的对数值log2width;S22、将纹理空间的规范化坐标的第一个分量针对屏幕空间特定方向的求导值分为尾数A
sman
和指数A
sexp
,计算A
sman
的以2为底的对数值log2(A
sman
);S23、基于定点加法运算将步骤S22获得的log2width、步骤S23获得的log2(A
sman
)及A
sexp
相加计算A的以2为底的对数值log2A;
其中,width为纹理图像的宽度。3.如权利要求1所述的一种纹理细节级别的获取方法,其特征在于:步骤S7包括:S71、计算纹理图像的高度的以2为底的对数值log2height;S72、将纹理空间的规范化坐标的第二个分量针对屏幕空间特定方向的求导值分为尾数A
tman
和指数A
texp
,计算A
tman
的以2为底的对数值log2(A
tman<...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄亮,秦信刚,熊庭刚,张磊,
申请(专利权)人:中国船舶重工集团公司第七零九研究所,
类型:发明
国别省市:
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