一种测试夹具及测试设备制造技术

本实用新型专利技术提供了一种测试夹具及测试设备，测试夹具包括探针座、补偿结构以及电连接件，探针座上设有容纳槽以及与容纳槽连通且用于供电子元件的探针插入的探针插口，补偿结构用于补偿探针的长度，补偿结构的一端电性连接于电连接件上，补偿结构的远离电连接件的一端伸入容纳槽内且用于与电子元件的探针连接，电连接件用于与测试仪连接。将本实用新型专利技术的测试夹具应用于滤波器的插入损耗测试时，补偿结构能够补偿探针的长度，因此可以避免滤波器由于剪切插针而导致插入损耗曲线发生偏置的情况，从而可以准确测量滤波器的插入损耗，以便于将滤波器的插入损耗测试结果与初始值要求比对并判定滤波器的稳定性。并判定滤波器的稳定性。并判定滤波器的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种测试夹具及测试设备


[0001]本技术属于插入损耗测试治具
，更具体地说，是涉及一种测试夹具及测试设备。

技术介绍

[0002]目前市面上生产使用的滤波器的引出端的脚位均为标准长度，滤波器在生产、使用及试验(振动、冲击、过负荷、耐湿及寿命等)的过程中均对滤波器的引出端进行了二次或三次以上加工(剪切或焊接等)，使滤波器的引出端的长度发生变化，导致其分布电感下降，依据公式：如图1所示(试验产品的容量为22pF)，由于电感L减小，谐振频率f增大，插入损耗曲线发生偏置，所以很多时候的测试结果与初始值相差较大，进而使滤波器的插入损耗测试结果无法与初始值要求比对，导致无法判定滤波器的稳定性。

技术实现思路

[0003]本技术实施例的目的在于提供一种测试夹具及测试设备，以解决现有技术中存在的难以准确测量滤波器的插入损耗而导致无法判定滤波器的稳定性的技术问题。
[0004]为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：提供一种测试夹具，包括探针座、补偿结构以及用于与测试仪连接的电连接件，所述探针座上设有容纳槽以及与所述容纳槽连通且用于供电子元件的探针插入的探针插口，所述补偿结构用于补偿所述探针的长度，所述补偿结构的一端电性连接于所述电连接件上，所述补偿结构的远离所述电连接件的一端伸入所述容纳槽内且用于与所述电子元件的探针连接。
[0005]进一步地，所述探针座包括座体和盖板，所述座体和所述盖板围合形成所述容纳槽，所述探针插口设于所述座体上。
[0006]进一步地，所述容纳槽具有开口，所述电连接件为线路板，所述线路板盖设于所述容纳槽的开口上。
[0007]进一步地，所述线路板上设有用于连接测试仪的线路，所述补偿结构的一端焊接于所述线路板上且与所述线路电性连接。
[0008]进一步地，所述座体上开设有用于供所述测试仪的端子插入并与所述线路电性连接的端口。
[0009]进一步地，所述测试夹具还包括用于承载所述线路板的线路板座，所述线路板座设于所述线路板的远离所述探针座的一侧。
[0010]进一步地，所述测试夹具还包括设于所述线路板座的远离所述线路板的一侧的底座，所述底座的远离所述线路板座的一侧设有地脚。
[0011]进一步地，所述补偿结构为引脚。
[0012]进一步地，所述测试夹具还包括卡销，所述探针座对应所述卡销开设有通孔，所述卡销的两端分别设于对应的所述通孔内，所述卡销的中部位于所述容纳槽内且用于对所述
补偿结构进行限位。
[0013]本技术还提供一种测试设备，包括如上所述的测试夹具。
[0014]本技术提供的测试夹具及测试设备的有益效果在于：本技术的测试夹具包括探针座、补偿结构以及电连接件，探针座上设有容纳槽以及与容纳槽连通且用于供电子元件的探针插入的探针插口，补偿结构用于补偿探针的长度，补偿结构的一端电性连接于电连接件上，补偿结构的远离电连接件的一端伸入容纳槽内且用于与电子元件的探针连接，电连接件用于与测试仪连接。将本技术的测试夹具应用于滤波器的插入损耗测试时，将滤波器的探针经探针插口插入容纳槽内，并使得探针搭接在补偿结构上，然后将电连接件与测试仪连接，使得测试仪可以通过电连接件和补偿结构对滤波器进行插入损耗测试，由于补偿结构能够补偿探针的长度，因此可以避免滤波器由于剪切插针而导致插入损耗曲线发生偏置的情况，从而可以准确测量滤波器的插入损耗，以便于将滤波器的插入损耗测试结果与初始值要求比对并判定滤波器的稳定性。
[0015]本技术的测试设备包括上述测试夹具，可以准确测量滤波器的插入损耗和判定滤波器的稳定性。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1为现有的滤波器在试验前后的插入损耗曲线对比图；
[0018]图2为本技术实施例提供的测试夹具的立体结构示意图；
[0019]图3为本技术实施例提供的测试夹具的分解结构示意图；
[0020]图4为本技术实施例提供的测试夹具的俯视结构示意图；
[0021]图5为沿图4中A-A方向的剖视结构示意图。
[0022]其中，图中各附图标记：
[0023]100-探针座；110-座体；111-第一螺孔；112-探针插口；113-端口；114-通孔；115-第四螺孔；120-盖板；121-第一安装孔；130-容纳槽；200-补偿结构；300-电连接件；310-线路；320-第三安装孔；400-线路板座；410-第二安装孔；500-卡销；600-底座；610-地脚；620-第四安装孔。
具体实施方式
[0024]为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0025]需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。
[0026]需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、
“
水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0027]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0028]请参阅图2和图3，本技术实施例提供一种测试夹具，包括探针座100，结合图4和图5，探针座100上设有相互连通的容纳槽130和探针插口112，探针插口112用于供电子元件(可以但不限于为滤波器)的探针插入，通过上述设置，使得电子元件的探针能够经探针插口112伸入容纳槽130内部，从而将电子元件固定在探针座100上。
[0029]具体地，如图2、图3和图5所示，测试夹具还包括补偿结构200和电连接件300，补偿结构200的一端电性连接于电连接件300上，补偿结构200的远离电连接件300的一端伸入容纳槽130内且用于与电子元件的探针连接，电连接件300用于与测试仪连接，本技术实施例中，补偿结构200用于补偿探本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试夹具，其特征在于，包括探针座、补偿结构以及用于与测试仪连接的电连接件，所述探针座上设有容纳槽以及与所述容纳槽连通且用于供电子元件的探针插入的探针插口，所述补偿结构用于补偿所述探针的长度，所述补偿结构的一端电性连接于所述电连接件上，所述补偿结构的远离所述电连接件的一端伸入所述容纳槽内且用于与所述电子元件的探针连接。2.如权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，所述探针座包括座体和盖板，所述座体和所述盖板围合形成所述容纳槽，所述探针插口设于所述座体上。3.如权利要求2所述的测试夹具，其特征在于，所述容纳槽具有开口，所述电连接件为线路板，所述线路板盖设于所述容纳槽的开口上。4.如权利要求3所述的测试夹具，其特征在于，所述线路板上设有用于连接测试仪的线路，所述补偿结构的一端焊接于所述线路板上且与所述线路电性连接。5.如权利要求4所述的测试夹...

【专利技术属性】
技术研发人员：李凯文，肖倩，李金辉，蒋忠益，王智会，
申请(专利权)人：深圳振华富电子有限公司，
类型：新型
国别省市：