一种产品测试方法、设备及计算机可读存储介质技术

本发明专利技术公开了一种产品测试方法、设备及计算机可读存储介质，所述方法包括：获得生产产品，所述生产产品用于表征在生产场景下获得的指定产品；对所述生产产品进行第一基准测试，获得第一测试分数；当所述第一测试分数不满足基准分数的情况下，根据所述生产产品和研发产品进行一致性调优，获得调优信息；其中，所述研发产品用于表征在研发场景下获得的指定产品；所述调优信息用于对所述生产产品和所述生产场景的至少一项进行调优处理，应用本方法能够得到保障生产时候产品的品质质量的目的。得到保障生产时候产品的品质质量的目的。得到保障生产时候产品的品质质量的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种产品测试方法、设备及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及智能工厂
，尤其涉及一种产品测试方法、设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]大多数产品在生产的过程中，通常还包括有对该产品的研发，产品研发能够获得并优化该产品。然而在研发过程中，产品是研发人员通过测试方法进行评价的，而生产过程中，产品是生产人员通过测试方法进行评价的，且研发时候的测试方法和生产时候的测试方法通常不同，因此，生产时候的产品质量难以得到保障。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例提供了一种产品测试方法、设备及计算机可读存储介质，能够得到保障生产时候产品的品质质量的目的。
[0004]本专利技术实施例第一方面提供一种产品测试方法，所述方法包括：获得生产产品，所述生产产品用于表征在生产场景下获得的指定产品；对所述生产产品进行第一基准测试，获得第一测试分数；当所述第一测试分数不满足基准分数的情况下，根据所述生产产品和研发产品进行一致性调优，获得调优信息；其中，所述研发产品用于表征在研发场景下获得的指定产品；所述调优信息用于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种产品测试方法，其特征在于，所述方法包括：获得生产产品，所述生产产品用于表征在生产场景下获得的指定产品；对所述生产产品进行第一基准测试，获得第一测试分数；当所述第一测试分数不满足基准分数的情况下，根据所述生产产品和研发产品进行一致性调优，获得调优信息；其中，所述研发产品用于表征在研发场景下获得的指定产品；所述调优信息用于对所述生产产品和所述生产场景的至少一项进行调优处理。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在对所述生产产品进行第一基准测试，获得第一测试分数之前，所述方法还包括：对所述研发产品进行第二基准测试，获得第二测试分数；当判断为所述第二测试分数符合预设目标分数的情况下，将所述第二测试分数确定为所述基准分数；其中，所述预设目标分数包括基于设计预期的第一分数和基于产品定位的第二分数；所述第一基准测试与所述第二基准测试的测试内容完全相同或部分相同。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述第一测试分数不满足基准分数的情况下，根据所述生产产品和所述研发产品进行一致性调优，获得调优信息，包括：当所述第一测试分数不满足所述基准分数的情况下，判断所述生产产品与同一类型其他生产产品是否具有一致性；当判断为所述生产产品与所述同一类型其他生产产品具有一致性的情况下，确定所述生产产品和所述研发产品的一致性信息；根据所述一致性信息对所述研发产品和所述研发场景的至少一项进行研发优化，获得所述调优信息。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：当判断为所述生产产品与所述同一类型其他生产产品不具有一致性的情况下，对所述生产产品进行质量分析，获得质量分析数据；基于所述质量分析数据对所述基准测试进行调整。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在当判断为所述生产产品与同一类型其他生产产品不具有一致性的情况下，所述方法还包括：判断与所述生产产品对应的生产流水线是否达到停线标准；当判断为与所述生产...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨爱军，孔德洋，崔普先，黄华，董娜，
申请(专利权)人：联宝合肥电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：