检查系统技术方案

技术编号:27527615 阅读:37 留言:0更新日期:2021-03-03 10:57
本发明专利技术涉及安全检查技术领域,特别涉及一种检查系统。本发明专利技术所提供的检查系统,包括:放射源装置,可移动地设置,并包括放射源,放射源用于放射穿过待检目标的射线,且放射源的至少部分位于用于承载待检目标的目标承载表面的下方;和探测装置,与放射源装置可同步移动地设置,并包括探测器,探测器用于探测由射线源放射并穿过待检目标的射线。在本发明专利技术中,无需再设置输送装置来拖动待检目标,即可完成扫描过程,因此,可以消除输送装置对检查系统成像质量的影响。质量的影响。质量的影响。

【技术实现步骤摘要】
检查系统


[0001]本专利技术涉及安全检查
,特别涉及一种检查系统。

技术介绍

[0002]目前,针对小型车辆的检查系统通常采用射线源顶置的方式,探测器位于两侧和底部的U型臂架内接收射线,且由于底部探测器臂等的存在,这种检查系统一般设置为不能移动的,而另外设置输送装置来拖动被检车辆通过扫描区域,完成检查过程。但由于底部探测器臂的存在和穿透指标的要求,输送装置往往需要分段布置,以避开其在扫描区域对成像质量的影响,但这又给车辆通过扫描区域的平稳性带来了困难,因为无论采用板链、辊筒或皮带等中的哪种结构,输送装置交接处的间隙都会引起车辆在上下和前后方向的窜动,以致于影响成像质量。同时,底部探测器臂对占地面积和维护空间的要求也较高。

技术实现思路

[0003]本专利技术所要解决的一个技术问题是:消除输送装置对检查系统成像质量的影响。
[0004]为了解决上述技术问题,本专利技术提供了一种检查系统,其包括:放射源装置,可移动地设置,并包括放射源,放射源用于放射穿过待检目标的射线;和
[0005]探测装置,与放射源装置可同步移动地设置,并包括探测器,探测器用于探测由射线源放射并穿过待检目标的射线。
[0006]并且其中:放射源的至少部分位于用于承载待检目标的目标承载表面的下方。
[0007]在一些实施例中,放射源装置还包括第一承载装置,第一承载装置承载放射源并带动放射源移动。
[0008]在一些实施例中,第一承载装置的至少部分位于地坑内。
[0009]在一些实施例中,检查系统还包括第一调节装置,第一调节装置设置在第一承载装置上并用于调节放射源的角度和/或放射源在第一承载装置上的位置。
[0010]在一些实施例中,检查系统还包括第二调节装置,第二调节装置用于调节探测器,以使探测器的探测面正对由射线源放射并穿过待检目标的射线。
[0011]在一些实施例中,探测装置还包括第二承载装置,第二承载装置承载探测器并带动探测器与放射源装置同步移动。
[0012]在一些实施例中,第二承载装置包括两个竖臂、连接于两个竖臂上部之间的横臂、以及设置在两个竖臂下方的行走机构,横臂与两个竖臂之间形成用于容置待检目标的空间,探测器设置于竖臂和/或横臂上。
[0013]在一些实施例中,检查系统的第二调节装置通过调节横臂和/或竖臂,来使探测器的探测面正对由放射源放射。
[0014]在一些实施例中,检查系统还包括目标承载装置,目标承载装置用于承载待检目标,目标承载表面为目标承载装置的上表面。
[0015]在一些实施例中,目标承载装置包括彼此间隔设置的第一支撑装置和第二支撑装
置,该第一支撑装置和第二支撑装置共同支撑待检目标,放射源装置设置于第一支撑装置和第二支撑装置之间。
[0016]本专利技术将放射源装置和探测装置设置为可同步移动的,并将放射源底置,使得无需再设置输送装置来拖动待检目标,即可完成扫描过程,因此,可以消除输送装置对检查系统成像质量的影响。
[0017]通过以下参照附图对本专利技术的示例性实施例进行详细描述,本专利技术的其它特征及其优点将会变得清楚。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1示出本专利技术一实施例的检查系统的结构示意图。
[0020]图中:
[0021]1、射线源;2、准直器;3、第一承载装置;4、探测器;5、第二承载装置;51、竖臂;52、横臂;53、轮子;6、目标承载装置;61、第一支撑装置;62、第二支撑装置;a、待检目标。
具体实施方式
[0022]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的,决不作为对本专利技术及其应用或使用的任何限制。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有开展创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0023]对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论,但在适当情况下,所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。
[0024]在本专利技术的描述中,需要理解的是,使用“第一”、“第二”等词语来限定零部件,仅仅是为了便于对相应零部件进行区别,如没有另行声明,上述词语并没有特殊含义,因此不能理解为对本专利技术保护范围的限制。
[0025]此外,下面所描述的本专利技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
[0026]图1示出了本专利技术的一个实施例。参照图1,本专利技术所提供的检查系统,包括:
[0027]放射源装置,可移动地设置,并包括放射源1,该放射源1用于放射穿过待检目标a的射线;和
[0028]探测装置,与放射源装置可同步移动地设置,并包括探测器4,探测器4用于探测由射线源放射并穿过待检目标a的射线。
[0029]并且其中:放射源1的至少部分位于用于承载待检目标a的目标承载面的下方。
[0030]基于上述方案,本专利技术可以基于较简单的结构实现被检目标a不移动而射线源1移动的扫描过程,由于无需再设置输送装置来拖动待检目标a,因此可以消除输送装置对成像
质量的影响。
[0031]同时,由于本专利技术的放射源装置和探测装置均被设置为可移动的,因此,还可以通过在移动方向上依次间隔地布置多个被检目标a,来方便地实现对多个被检目标a的一次性检查过程。由于一个扫描流程即可成像多个被检目标a,因此,扫描效率更高。可见,本专利技术的设置方式,还有利于提高扫描效率。
[0032]并且,沿移动方向所设置的多个被检目标a,可以为同类物品的不同型号,例如可以为不同车型的车辆,甚至可以为车辆和集装箱等完全不同种类的物品,因此,还可以方便地满足单次扫描不同型号和/或不同种类待检目标a的需求。
[0033]在本专利技术检查系统进行扫描的过程中,待检目标a可以直接位于地面上,此时,目标承载表面即为地面;或者,也可以在检查系统中再设置目标承载装置6,并使待检目标a位于该目标承载装置6上,这种情况下,目标承载表面则为目标承载装置6的上表面。其中,在利用目标承载装置6承载待检目标a的情况下,可以更方便地实现放射源1在目标承载表面下方的设置,同时也更便于放射源1与探测器4相对位置关系的布置,有利于实现探测器4对射线信号更充分地接收,进而有助于获得更高质量的图像。
[0034]下面结合图1所示的实施例对本专利技术予以进一步地说明。
[0035]为了方便描述,以下仅以待检目标a为车辆为例,此时的检查系统可以称为车辆检查系统。而待检目标a为集装箱或行李本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检查系统,其特征在于,包括:放射源装置,可移动地设置,并包括放射源(1),所述放射源(1)用于放射穿过待检目标(a)的射线;和探测装置,与所述放射源装置可同步移动地设置,并包括探测器(4),所述探测器(4)用于探测由所述射线源放射并穿过所述待检目标(a)的射线;并且其中:所述放射源(1)的至少部分位于用于承载所述待检目标(a)的目标承载表面的下方。2.根据权利要求1所述的检查系统,其特征在于,所述放射源装置还包括第一承载装置(3),所述第一承载装置(3)承载所述放射源(1)并带动所述放射源(1)移动。3.根据权利要求2所述的检查系统,其特征在于,所述第一承载装置(3)的至少部分位于地坑内。4.根据权利要求2所述的检查系统,其特征在于,所述检查系统还包括第一调节装置,所述第一调节装置设置在所述第一承载装置(3)上并用于调节所述放射源(1)的角度和/或所述放射源(1)在所述第一承载装置(3)上的位置。5.根据权利要求1所述的检查系统,其特征在于,所述检查系统还包括第二调节装置,所述第二调节装置用于调节所述探测器(4),以使所述探测器(4)的探测面正对由所述射线源放射并穿过所述待检目标(a)的射线。6.根据权利要求1-5任一所述的检查系统,其特征在于,所述探测装置还包括第二承...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙尚民宗春光胡煜史俊平马媛孟辉何家明
申请(专利权)人:同方威视技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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