一种测试对象的缺陷信息处理系统和方法技术方案

技术编号:27472068 阅读:20 留言:0更新日期:2021-03-02 17:37
本发明专利技术实施例提供的一种测试对象的缺陷信息处理系统和方法,所述系统包括:测试平台用于向研发平台发送针对测试对象的缺陷信息;研发平台集成有多个研发系统,研发平台用于接收针对测试对象的缺陷信息,并向研发系统发送针对测试对象的缺陷信息;研发系统用于获取针对缺陷信息的反馈信息,并通过研发平台向测试平台发送反馈信息;运维平台用于接收测试平台根据若干研发系统的反馈信息所生成的问题信息;其中,问题信息用于指示确认测试对象是否存在生产问题。本发明专利技术可以实现缺陷信息跨研发、测试、运维平台流转,也可以实现缺陷信息在研发平台中各研发系统之间流转,从而减少了等待时间,提高了处理效率,以及解决了生产问题无人追踪的历史问题。无人追踪的历史问题。无人追踪的历史问题。

【技术实现步骤摘要】
一种测试对象的缺陷信息处理系统和方法


[0001]本专利技术涉及信息处理
,特别是涉及一种测试对象的缺陷信息处理系统和方法。

技术介绍

[0002]一款新版本产品的发布,需要经过多支研发团队共同研发和测试团队多次测试。通常来说,测试团队测试发现新版本产品存在有缺陷时,需要新建缺陷信息,发送给其中一个研发系统,由该研发系统的研发团队去处理缺陷。
[0003]然而,当研发团队发现该缺陷不是所在研发系统的缺陷时,返回缺陷信息给测试系统,测试系统需要再新建缺陷信息,发送给另一个研发系统,直至找到该缺陷的源头去处理该缺陷。缺陷信息无法跨研发、测试、运维平台流转,也无法在研发平台中各研发系统之间流转,只能通过测试系统和研发系统一对一流转,导致等待时间长,处理效率低。

技术实现思路

[0004]鉴于上述问题,提出了本专利技术实施例以便提供克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种测试对象的缺陷信息处理系统和方法。
[0005]本专利技术公开了一种测试对象的缺陷信息处理系统,包括测试平台、研发平台以及运维平台,所述测试平台与所述研发平台和所述运维平台通信,所述研发平台集成有多个研发系统;
[0006]所述测试平台用于向所述研发平台发送针对测试对象的缺陷信息;
[0007]所述研发平台用于接收所述针对测试对象的缺陷信息,并向所述研发系统发送所述针对测试对象的缺陷信息;
[0008]所述研发系统用于获取针对所述缺陷信息的反馈信息,并通过所述研发平台向所述测试平台发送所述反馈信息;
[0009]所述测试平台用于根据若干所述研发系统的反馈信息,生成问题信息并发送至所述运维平台;所述问题信息用于指示确认所述测试对象是否存在生产问题。
[0010]可选地,所述测试平台用于根据若干所述研发系统的反馈信息,判断所述测试对象是否还存在缺陷;若所述测试对象还存在缺陷,则确定所述缺陷是否属于研发系统缺陷;若所述缺陷不属于研发系统缺陷,则生成问题信息并发送至所述运维平台;所述问题信息用于指示确认所述测试对象是否存在生产问题。
[0011]可选地,所述测试平台用于根据若干所述研发系统的反馈信息,判断所述缺陷信息是否不属于任意一个所述研发系统的本研发系统缺陷;若确定所述缺陷信息不属于任意一个所述研发系统的本研发系统缺陷,则生成问题信息并发送至所述运维平台。
[0012]可选地,所述研发系统还用于获取针对所述缺陷信息的分析信息;所述分析信息用于指示所述缺陷信息是否属于本研发系统缺陷;若所述分析信息指示所述缺陷信息属于本研发系统缺陷,则进行针对所述缺陷信息的修复处理,并获取修复后的测试对象。
[0013]可选地,所述反馈信息包括所述修复后的测试对象;所述测试平台用于测试若干所述研发系统对应的修复后的测试对象,确定所述修复后的测试对象是否还存在缺陷。
[0014]可选地,所述反馈信息包括所述分析信息;所述测试平台用于根据若干所述研发系统的分析信息,判断所述缺陷信息是否不属于任意一个所述研发系统的本研发系统缺陷。
[0015]可选地,若所述缺陷属于研发系统缺陷,则所述测试平台还用于再次向所述研发系统发送缺陷信息。
[0016]可选地,所述研发系统还用于通过所述研发平台将所述缺陷信息发送至其他研发系统。
[0017]本专利技术还公开了一种测试对象的缺陷信息处理方法,包括测试平台、研发平台以及运维平台,所述测试平台与所述研发平台和所述运维平台通信,所述研发平台集成有多个研发系统,所述方法包括:
[0018]所述测试平台向所述研发平台发送针对测试对象的缺陷信息;
[0019]所述研发平台接收所述针对测试对象的缺陷信息,并向所述研发系统发送所述针对测试对象的缺陷信息;
[0020]所述研发系统获取针对所述缺陷信息的反馈信息,并通过所述研发平台向所述测试平台发送所述反馈信息;
[0021]所述测试平台根据若干所述研发系统的反馈信息,生成问题信息并发送至所述运维平台;所述问题信息用于指示确认所述测试对象是否存在生产问题。
[0022]可选地,所述测试平台根据若干所述研发系统的反馈信息,生成问题信息并发送至所述运维平台,包括:
[0023]所述测试平台根据若干所述研发系统的反馈信息,判断所述测试对象是否还存在缺陷;
[0024]若所述测试对象还存在缺陷,则确定所述缺陷是否属于研发系统缺陷;
[0025]若所述缺陷不属于研发系统缺陷,则生成问题信息并发送至所述运维平台;所述问题信息用于指示确认所述测试对象是否存在生产问题。
[0026]可选地,所述测试平台根据若干所述研发系统的反馈信息,生成问题信息并发送至所述运维平台,包括:
[0027]所述测试平台根据若干所述研发系统的反馈信息,判断所述缺陷信息是否不属于任意一个所述研发系统的本研发系统缺陷;
[0028]若确定所述缺陷信息不属于任意一个所述研发系统的本研发系统缺陷,则生成问题信息并发送至所述运维平台。
[0029]可选地,还包括:
[0030]所述研发系统获取针对所述缺陷信息的分析信息;所述分析信息用于指示所述缺陷信息是否属于本研发系统缺陷;
[0031]若所述分析信息指示所述缺陷信息属于本研发系统缺陷,则进行针对所述缺陷信息的修复处理,并获取修复后的测试对象。
[0032]可选地,所述反馈信息包括所述修复后的测试对象;所述测试平台根据若干所述研发系统的反馈信息,判断所述测试对象是否还存在缺陷,包括:
[0033]所述测试平台测试若干所述研发系统对应的修复后的测试对象,确定所述修复后的测试对象是否还存在缺陷。
[0034]可选地,所述反馈信息包括所述分析信息,所述测试平台根据若干所述研发系统的反馈信息,判断所述缺陷信息是否不属于任意一个所述研发系统的本研发系统缺陷,包括:
[0035]所述测试平台根据若干所述研发系统的分析信息,判断所述缺陷信息是否不属于任意一个所述研发系统的本研发系统缺陷。
[0036]可选地,还包括:
[0037]若所述缺陷属于研发系统缺陷,则所述测试平台再次向所述研发系统发送缺陷信息。
[0038]可选地,还包括:
[0039]所述研发系统通过所述研发平台将所述缺陷信息发送至其他研发系统。
[0040]本专利技术实施例还提供了一种电子设备,包括有存储器,以及一个或者一个以上的程序,其中一个或者一个以上程序存储于存储器中,且经配置以由一个或者一个以上处理器执行所述一个或者一个以上程序包含用于执行如本专利技术实施例任一所述的测试对象的缺陷信息处理方法。
[0041]本专利技术具有以下优点:
[0042]本专利技术实施例提供的一种测试对象的缺陷信息处理系统和方法,所述系统包括:测试平台用于向研发平台发送针对测试对象的缺陷信息;研发平台集成有多个研发系统,研发平台用于接收针对测试对象的缺陷信息,并向研发系统发送针对测试对象的缺陷信息;研发系统用于获本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试对象的缺陷信息处理系统,其特征在于,包括测试平台、研发平台以及运维平台,所述测试平台与所述研发平台和所述运维平台通信,所述研发平台集成有多个研发系统;所述测试平台用于向所述研发平台发送针对测试对象的缺陷信息;所述研发平台用于接收所述针对测试对象的缺陷信息,并向所述研发系统发送所述针对测试对象的缺陷信息;所述研发系统用于获取针对所述缺陷信息的反馈信息,并通过所述研发平台向所述测试平台发送所述反馈信息;所述测试平台用于根据若干所述研发系统的反馈信息,生成问题信息并发送至所述运维平台;所述问题信息用于指示确认所述测试对象是否存在生产问题。2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述测试平台用于根据若干所述研发系统的反馈信息,判断所述测试对象是否还存在缺陷;若所述测试对象还存在缺陷,则确定所述缺陷是否属于研发系统缺陷;若所述缺陷不属于研发系统缺陷,则生成问题信息并发送至所述运维平台;所述问题信息用于指示确认所述测试对象是否存在生产问题。3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述测试平台用于根据若干所述研发系统的反馈信息,判断所述缺陷信息是否不属于任意一个所述研发系统的本研发系统缺陷;若确定所述缺陷信息不属于任意一个所述研发系统的本研发系统缺陷,则生成问题信息并发送至所述运维平台。4.根据权利要求2或3所述的系统,其特征在于,所述研发系统还用于获取针对所述缺陷信息的分析信息;所述分析信息用于指示所述缺陷信息是否属于本研发系统缺陷;若所述分析信息指示所述缺陷信息属于本研发系统缺陷,则进行针对所述缺陷信息的修复处理,并获取修复后的测试对象。5.根据权利要求4所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄泰霖
申请(专利权)人:泰康保险集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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