一种应用于面板的自动检测阻抗方法技术

本发明专利技术公开了一种应用于面板的自动检测阻抗方法，其包括以下步骤：步骤一、接通电源；步骤二、当需要检测判断的时候，藉由指令控制，进入检测模式；步骤三、送不同的VREF电压；步骤四、逻辑判断；步骤五、筛分阻抗符合规格的良品和不符合规格的不良品；步骤六、进入GND模式。本发明专利技术的优点：无需借用外部治具及电表，而是通过显示面板的显示驱动IC直接量测，藉由不同的IC指令操作，方便快捷判断电子信号正常与否，即使触摸屏等表面组建贴合上去，也可直接自动量测。自动量测。自动量测。

【技术实现步骤摘要】
一种应用于面板的自动检测阻抗方法


[0001]本专利技术涉及一种应用于面板的自动检测阻抗方法，属于液晶显示器自动检测


技术介绍

[0002]目前的IPS技术，Color filter的上表面需要镀上整面的Back-side ITO(BS-ITO)，再将该层ITO通过Ag paste连接下玻璃的接地pad，进而连通系统的GND，目的是阻止外界的ESD or电场干扰，达到shielding作用，增加系统的稳定性。
[0003]BS-ITO接地好坏，直接影响到shielding的效果，为了monitor BS-ITO阻抗和Ag paste制程的状况，显示面板厂使用万用电表量测BS-ITO对系统GND的阻抗，当该阻值小于某个限定值时才可pass。
[0004]但目前这种测试方式会面临以下2个问题：一、量测时需要藉助外部治具以及电表，设备搭建繁琐；二后续的流程中，显示面板的表面会贴触摸屏等部件，之后若需要再侦测BS-ITO对GND阻抗值，只能将上表面部件移除才可，无法直接测试。

技术实现思路

[0005]本专利技术要解决的技术问题，在于提供一种无需借用外部治具及电表的应用于液晶显示器自动检测BSITO阻抗方法。
[0006]本专利技术通过下述方案实现：一种应用于面板的自动检测阻抗方法，其特征在于：其包括以下步骤：
[0007]步骤一、接通电源；
[0008]步骤二、当需要检测判断的时候，藉由指令控制，进入检测模式；
[0009]步骤三、送不同的VREF电压；
[0010]步骤四、逻辑判断；
[0011]步骤五、筛分阻抗符合规格的良品和不符合规格的不良品；
[0012]步骤六、进入GND模式。
[0013]通过显示面板的驱动IC直接量测，藉由不同的IC指令操作，判断电子信号正常与否。
[0014]所述BSITO的一边直接接系统的GND，另一边接地pad，两边一起接系统的GND。
[0015]由若干个开关管和电阻组成自动检测系统。
[0016]增加的元件布局在液晶显示器的玻璃内部，或者设置在驱动器的内部，或者采用外挂器件的方式。
[0017]自动检测系统有两种模式，GND正常模式和检测模式。
[0018]BS-ITO对地阻抗即RBSITO，通过以下公式计算：
[0019][0020]其中R1已知，Vbsito和Vin为输入值，也已知。
[0021]软体通过自动控制生成不同的VREF电压值与VBSITO来比对，即可算出BS-ITO对地阻抗。
[0022]在检测模式情况下，VIN信号才有使用。
[0023]本专利技术的有益效果为：无需借用外部治具及电表，而是通过显示面板的显示驱动IC直接量测，藉由不同的IC指令操作，方便快捷判断电子信号正常与否，即使触摸屏等表面组建贴合上去，也可直接自动量测，同时增加另外一边的BS-ITO接地pad，两边一起接系统的GND，BS-ITO对地阻抗更低，shielding效果更佳。
附图说明
[0024]图1为本专利技术的自动检测流程图。
[0025]图2为实施例1的原理示意图。
[0026]图3为实施例2的原理示意图。
[0027]图4为实施例3的原理示意图。
具体实施方式
[0028]下面结合图1-4对本专利技术进一步说明，但本专利技术保护范围不局限所述内容。
[0029]为了清楚，不描述实际实施例的全部特征，在下列描述中，不详细描述公知的功能和结构，因为它们会使本专利技术由于不必要的细节而混乱，应当认为在任何实际实施例的开发中，必须做出大量实施细节以实现开发者的特定目标，例如按照有关系统或有关商业的限制，由一个实施例改变为另一个实施例，另外，应当认为这种开发工作可能是复杂和耗费时间的，但是对于本领域技术人员来说仅仅是常规工作。
[0030]一种应用于面板的自动检测阻抗方法，其包括以下步骤：
[0031]步骤一、接通电源；
[0032]步骤二、当需要检测判断的时候，藉由指令控制，进入检测模式；
[0033]步骤三、送不同的VREF电压；
[0034]步骤四、逻辑判断；
[0035]步骤五、筛分阻抗符合规格的良品和不符合规格的不良品；
[0036]步骤六、进入GND模式。
[0037]如图1所示，当需要量测时当需要检测判断的时候，藉由指令控制，进入检测模式，正常情况下都是GND模式。
[0038]实施例1：如图2所示，增加4个NMOS管Q1,Q2,Q3,Q4,以及1个电阻R1，这些增加的元件可以但不局限布局在液晶显示器的玻璃内部，也可以直接做在驱动器的内部，也可以采用外挂器件的方式，这里以布局在液晶显示器玻璃内部为例说明具体的实现方式。
[0039]由于正常BS-ITO对GND阻抗在KΩ数量级，显示面板上电阻R1可使用ITO蛇形走线达到KΩ级别，NMOS管Q1-Q4与玻璃面内的TFT一同生成，无需额外的array制程，BS-ITO对GND阻抗等效为RBSITO。
[0040]自动检测系统有两种工作方式：
[0041]GND模式:VC1＝H，VC2＝L，Q2,Q3导通，Q1,Q4关闭，BS-ITO接地；
[0042]检测模式：VC1＝L，VC2＝H，Q2,Q3关闭，Q1,Q4导通,测量BS-ITO阻抗。
[0043]R1已知，Vbsito和Vin为输入值，也知道数值，故通过下述公式可计算出BS-ITO对地阻抗即RBSITO)
[0044][0045]软体通过自动控制生成不同的VREF电压值与VBSITO来比对，即可算出BS-ITO对地阻抗。
[0046]实施例2，如图3所所示，由于控制信号VC1与VC2互为反相，所以可衍生出图3的第二个实施例，省去一个显示驱动IC输出的控制信号，VC1经过NMOS-Q5与PMOS-Q6构成的反相器生成原先的VC2信号，其余操作方式与上述实施例1一样。
[0047]实施例3：如图4所所示，因为在检测情况下，VIN信号才有使用，所以可再衍生出第三个实施例，再省去一个显示驱动IC输出的控制信号，如图4所示，VIN经过NMOS-Q5和PMOS-Q6构成的反相器生成原先的VC1，VIN经过NMOS-Q7和PMOS-Q8构成的反相器生成原先的VC2，其余操作方式与上述实施例1一样。
[0048]尽管已经对本专利技术的技术方案做了较为详细的阐述和列举，应当理解，对于本领域技术人员来说，对上述实施例做出修改或者采用等同的替代方案，这对本领域的技术人员而言是显而易见，在不偏离本专利技术精神的基础上所做的这些修改或改进，均属于本专利技术要求保护的范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种应用于面板的自动检测阻抗方法，其特征在于：其包括以下步骤：步骤一、接通电源；步骤二、当需要检测判断的时候，藉由指令控制，进入检测模式；步骤三、送不同的VREF电压；步骤四、逻辑判断；步骤五、筛分阻抗符合规格的良品和不符合规格的不良品；步骤六、进入GND模式。2.根据权利要求1所述的一种应用于面板的自动检测阻抗方法，其特征在于：通过显示面板的驱动IC直接量测，藉由不同的IC指令操作，判断电子信号正常与否。3.根据权利要求1所述的一种应用于面板的自动检测阻抗方法，其特征在于：所述BSITO的一边直接接系统的GND，另一边接地pad，两边一起接系统的GND。4.根据权利要求1所述的一种应用于面板的自动检测阻抗方法，其特征在于：由若干个开关管和电阻组成自动检测系统。5.根据权利要求4所述的一种应...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑新华，
申请(专利权)人：德兴市恒海科技有限公司，
类型：发明
国别省市：