本申请涉及一种样品导入装置及测试系统。所述样品导入装置包括基体。所述基体包括第一表面。所述第一表面包括相邻的第一区域和第二区域。所述第一区域设置有第一凸台。所述第二区域用于设置分离介质谐振器。所述第一凸台包括相邻的第一凸台面和第二凸台面。所述第一凸台面与所述第一表面平行。所述第二凸台面与所述第二区域相邻。所述第一凸台面和所述第二凸台面相接的第一棱边开设第一凹槽。第一凹槽在第二凸台面的开口用于与所述分离介质谐振器的谐振腔相对设置。第一凹槽形成导轨结构。所述样品沿所述第一凹槽导入分离介质谐振器的谐振腔，缩短了所述样品进入所述谐振腔的时间，进而提高了5G用高频材料的测试效率。进而提高了5G用高频材料的测试效率。进而提高了5G用高频材料的测试效率。
【技术实现步骤摘要】
样品导入装置及测试系统
[0001]本申请涉及通讯
，特别是涉及一种样品导入装置及测试系统。
技术介绍
[0002]5G通信因高数据速率、低延迟、高容量和大规模设备连接而备受关注，是新一代移动通信技术发展的主要方向。具备特种高频高速性能的高分子材料作为5G电子产品的基础部件，近几年来被行业关注的程度越来越高。这主要是因为5G用高分子材料在性能方面要求材料具有低介电常数和介质损耗，且具有足够的机械强度和优异的耐候性，其核心性能指标，如高频下的介电常数、介电损耗等，与传统高分子材料相差甚大。因此，针对5G用关键材料，如天线材料液晶聚合物(LCP)、天线罩材料聚碳酸酯(PC)、高频基板材料聚四氟乙烯(PTFE)、高效导热材料、电磁屏蔽材料等，开展测试评价技术与可靠性研究意义重大。
[0003]目前，对于5G用高频材料需进行有介电常数、介质损耗因子及其介电常数热稳定系数喝损耗因子热稳定系数等多种测试。怎样才能提高5G用高频材料的测试效率是亟待解决的问题。
技术实现思路
[0004]基于此，有必要针对怎样才能提高5G用高频材料的测试效率的问题，提供一种样品导入装置及测试系统。
[0005]一种样品导入装置包括基体。所述基体包括第一表面。所述第一表面包括相邻的第一区域和第二区域。所述第一区域设置有第一凸台。所述第二区域用于设置分离介质谐振器。所述第一凸台包括相邻的第一凸台面和第二凸台面。所述第一凸台面与所述第一表面平行。所述第二凸台面与所述第二区域相邻。所述第一凸台面和所述第二凸台面相接的第一棱边开设第一凹槽。所述第一凹槽在所述第二凸台面的开口用于与所述分离介质谐振器的谐振腔相对设置。
[0006]在一个实施例中，所述第一凸台还包括与所述第二凸台面相对的第三凸台面，所述第一凹槽贯穿于所述第二凸台面和所述第三凸台面。
[0007]在一个实施例中，所述第一凹槽的侧壁分别相对设置第二凹槽和第三凹槽。
[0008]在一个实施例中，所述第二凹槽和所述第三凹槽分别贯穿于所述第二凸台面和所述第三凸台面。
[0009]在一个实施例中，所述第二凹槽包括与所述第一凸台面相对设置的第一凹槽面，所述第一凸台面开设贯穿所述第一凹槽面的螺纹孔，所述样品导入装置还包括螺栓，所述螺栓的一端用于穿过所述螺纹孔，并用于抵接于样品的表面。
[0010]在一个实施例中，所述样品导入装置还包括垫片。所述垫片设置于所述螺栓靠近所述第一凹槽底部的表面。
[0011]在一个实施例中，所述垫片的表面设置第二凸台，在所述第二凸台远离所述垫片的表面设置第三凸台，所述螺栓对应所述第二凸台开设第四凹槽，所述螺栓对应所述第三
凸台开设第五凹槽。
[0012]在一个实施例中，沿所述第一凹槽延伸的方向，所述第一凸台面开设多个所述螺纹孔，所述螺栓为多个，所述垫片表面设置多个所述第二凸台，多个所述第二凸台与多个所述螺纹孔一一对应设置。
[0013]在一个实施例中，所述第一凹槽的底部开设定位孔，所述定位孔设置于远离所述第二凸台面的一端，所述定位孔用于设置定位件，以限制所述样品的位置。
[0014]在一个实施例中，所述样品导入装置还包括牵引体。所述牵引体用于固定于所述样品。所述牵引体用于带动所述样品在所述第一凹槽内移动。
[0015]在一个实施例中，所述牵引体为两个。两个所述牵引体分别用于固定于所述样品。
[0016]一种包含上述任意一项实施例所述的样品导入装置的测试系统，还包括分离介质谐振器、环境试验箱、两个牵引体和矢量网络分析仪。所述分离介质谐振器，固定于所述第一表面。所述环境试验箱包围形成第一空间。所述样品导入装置和所述分离介质谐振器收纳于所述第一空间。所述环境试验箱相对设置第一开孔和第二开孔，且所述第一开孔和所述第二开孔设置于相对的两个表面。
[0017]所述两个牵引体用于与所述样品远离所述分离介质谐振器的一端连接。所述两个牵引体一一对应穿过所述第一开孔和所述第二开孔。所述矢量网络分析仪与所述分离介质谐振器电连接。所述矢量网络分析仪用于检测所述分离介质谐振器空载和带载状态下的谐振频率和品质因子。
[0018]由于所述样品厚度较薄，所述分离介质谐振器的谐振腔的开口的高度与所述样品的厚度一致。如果直接用手将样品放入谐振腔，样品不容易对准所述谐振腔的开口，耗费时间较长。本申请实施例提供的所述样品导入装置中所述第一凹槽在所述第二凸台面的开口用于与所述分离介质谐振器的谐振腔相对设置。所述第一凹槽形成导轨结构。所述样品沿所述第一凹槽导入所述分离介质谐振器的谐振腔，缩短了所述样品进入所述谐振腔的时间，进而提高了5G用高频材料的测试效率。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1为本申请一个实施例中提供的所述样品导入装置的结构示意图；
[0021]图2为本申请一个实施例中提供的所述样品导入装置放入样品后的结构示意图；
[0022]图3为本申请一个实施例中提供的所述样品导入装置放入样品和分离介质谐振器后的结构示意图；
[0023]图4为本申请一个实施例中提供的所述样品导入装置的A-A剖视图；
[0024]图5为本申请另一个实施例中提供的所述样品导入装置的结构示意图；
[0025]图6为本申请另一个实施例中提供的所述垫片的结构示意图；
[0026]图7为本申请另一个实施例中提供的所述螺栓的结构示意图；
[0027]图8为本申请另一个实施例中提供的所述测试系统的结构示意图。
[0028]附图标号：
[0029]样品导入装置 10
[0030]测试系统 100
[0031]分离介质谐振器 110
[0032]谐振腔 111
[0033]样品 120
[0034]环境试验箱 130
[0035]第一空间 131
[0036]矢量网络分析仪 140
[0037]基体 20
[0038]第一区域 101
[0039]第二区域 102
[0040]第一表面 201
[0041]第一凸台 30
[0042]第一凸台面 301
[0043]第二凸台面 302
[0044]第一棱边 303
[0045]第三凸台面 304
[0046]螺纹孔 305
[0047]定位孔 306
[0048]第一凹槽 40
[0049]第二凹槽 50
[0050]第三凹槽 60
[0051]第一凹槽面 501
[0052]螺栓 70
[0053]第四凹槽 701
[0054]第五凹槽 7本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种样品导入装置，其特征在于，包括：基体(20)，包括第一表面(201)，所述第一表面(201)包括相邻的第一区域(101)和第二区域(102)，所述第一区域(101)设置有第一凸台(30)，所述第二区域(102)用于设置分离介质谐振器(110)，所述第一凸台(30)包括相邻的第一凸台面(301)和第二凸台面(302)，所述第一凸台面(301)与所述第一表面(201)平行，所述第二凸台面(302)与所述第二区域(102)相邻，所述第一凸台面(301)和所述第二凸台面(302)相接的第一棱边(303)开设第一凹槽(40)，所述第一凹槽(40)在所述第二凸台面(302)的开口用于与所述分离介质谐振器(110)的谐振腔(111)相对设置。2.如权利要求1所述的样品导入装置，其特征在于，所述第一凸台(30)还包括与所述第二凸台面(302)相对的第三凸台面(304)，所述第一凹槽(40)贯穿于所述第二凸台面(302)和所述第三凸台面(304)。3.如权利要求2所述的样品导入装置，其特征在于，所述第一凹槽(40)的侧壁分别相对设置第二凹槽(50)和第三凹槽(60)。4.如权利要求3所述的样品导入装置，其特征在于，所述第二凹槽(50)和所述第三凹槽(60)分别贯穿于所述第二凸台面(302)和所述第三凸台面(304)。5.如权利要求4所述的样品导入装置，其特征在于，所述第二凹槽(50)包括与所述第一凸台面(301)相对设置的第一凹槽面(501)，所述第一凸台面(301)开设贯穿所述第一凹槽面(501)的螺纹孔(305)，所述样品导入装置还包括螺栓(70)，所述螺栓(70)的一端用于穿过所述螺纹孔(305)，并用于抵接于样品(120)的表面。6.如权利要求5所述的样品导入装置，其特征在于，还包括：垫片(80)，设置于所述螺栓(70)靠近所述第一凹槽(40)底部的表面。7.如权利要求6所述的样品导入装置，其特征在于，所述垫片(80)的表面设置第二凸台(801)，在所述第二凸台(801)远离所述垫片(80)的表面设置...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈泽坚，洪瑛旭，周波，张颖，何骁，邹雅冰，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：新型
国别省市：
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