一种触控性能测试治具及测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种触控性能测试治具及测试系统，触控性能测试治具包括基座、至少一个触控件和至少一个弹性件，触控件包括依次连接的盘体、柱体以及感应触头，基座上开设有供对应的柱体和感应触头穿过的穿孔，弹性件套设于对应的柱体上且两端分别抵接于盘体和基座上。使用时，操作人员先将触控性能测试治具置于触控屏上，然后按压触控件的盘体并压缩弹性件，使得对应的柱体和感应触头同步下压并敲击触控屏，在感应触头敲击完触控屏后，操作人员松开手，弹性件会反弹复位并带动盘体、柱体和感应触头一起向上移动，在上述操作过程中，感应触头不会滞留在触控屏上，也不会发生抖动、滑动等情况，可以有效减少测试误差，并且还能提高操作的一致性。能提高操作的一致性。能提高操作的一致性。

【技术实现步骤摘要】
一种触控性能测试治具及测试系统


[0001]本技术属于触控性能测试
，更具体地说，是涉及一种触控性能测试治具及测试系统。

技术介绍

[0002]随着智能设备的蓬勃发展，触控屏凭借其既满足人们快速查阅信息的需求，又具有易于交互等优点，其市场化进程逐步加快。为了获得合格的触控屏，通常需要对触控屏进行测试。
[0003]目前，对触控屏的触控测试需要操作人员手执触控笔并在触控屏上敲击，由于需要人为操作，在触控屏上敲击时，可能会有触控笔滞留在触控屏上抖动、滑动等情况出现，从而导致人为误差而使得测试结果的准确性大大降低。

技术实现思路

[0004]本技术实施例的目的在于提供一种触控性能测试治具，以解决现有技术中存在的难以准确测试触控屏的触控性能的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：提供一种触控性能测试治具，包括基座、至少一个触控件以及至少一个弹性件，所述触控件包括依次连接的盘体、柱体以及感应触头，所述基座上开设有供对应的所述柱体和所述感应触头穿过的穿孔，所述弹性件套设于对应的所述柱体上且两端分别抵接于所述盘体和所述基座上。
[0006]可选地，所述穿孔沿径向朝外开设有开口朝向所述盘体且用于避让所述弹性件的第一避让槽，所述弹性件的两端分别抵接于所述盘体和所述第一避让槽的底面。
[0007]可选地，所述第一避让槽的直径小于所述盘体的直径。
[0008]可选地，所述感应触头的直径小于等于所述柱体的直径。
[0009]可选地，每一所述触控件中，所述盘体、所述柱体和所述感应触头为一体成型制件。
[0010]可选地，所述盘体、所述柱体和所述感应触头均为金属导体件。
[0011]可选地，所述基座为绝缘材料制件。
[0012]可选地，所述弹性件为弹簧。
[0013]可选地，所述触控件和所述弹性件的数量为多个，每一所述感应触头的直径不同。
[0014]本技术的另一目的在于提供一种测试系统，包括如上所述的触控性能测试治具。
[0015]本技术提供一种触控性能测试治具，包括基座、至少一个触控件以及至少一个弹性件，每一个触控件包括依次连接的盘体、柱体以及感应触头，基座上开设有供对应的柱体和感应触头穿过的穿孔，弹性件套设于对应的柱体上且两端分别抵接于盘体和基座上。本技术的触控性能测试治具在使用时，操作人员先将触控性能测试治具置于触控屏上，然后按压触控件的盘体并压缩弹性件，使得对应的柱体和感应触头同步下压并敲击
触控屏，在感应触头敲击完触控屏后，操作人员松开手，弹性件会反弹复位并带动盘体、柱体和感应触头一起向上移动，在上述操作过程中，触控件通过弹性件伸缩实现快速点击，感应触头不会滞留在触控屏上，也不会发生抖动、滑动等情况，可以有效减少测试误差，并且还能提高操作的一致性。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1为本技术第一实施例提供的触控性能测试治具的立体结构示意图；
[0018]图2为本技术第一实施例提供的触控性能测试治具的分解结构示意图；
[0019]图3为本技术第一实施例提供的触控性能测试治具的剖视结构示意图；
[0020]图4为本技术第二实施例提供的触控性能测试治具的剖视结构示意图。
[0021]其中，图中各附图标记：
[0022]100-基座；110-穿孔；120-第一避让槽；130-第二避让槽；200-触控件；210-盘体；220-柱体；230-感应触头；300-弹性件；400-阻挡环。
具体实施方式
[0023]为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0024]需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。
[0025]需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0026]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0027]请参阅图1至图3，本技术实施例提供一种触控性能测试治具，包括基座100、至少一个触控件200以及至少一个弹性件300，触控件200包括依次连接的盘体210、柱体220以及感应触头230，基座100上开设有至少一个供对应的柱体220和感应触头230穿过的穿孔110，弹性件300套设于对应的柱体220上且两端分别抵接于盘体210和基座100上。
[0028]本技术实施例的触控性能测试治具在使用时，操作人员先将触控性能测试治具置于触控屏上，然后按压触控件200的盘体210并压缩弹性件300，使得对应的柱体220和
感应触头230同步下压穿过穿孔110并敲击触控屏，在感应触头230敲击完触控屏后，操作人员松开手，弹性件300会反弹复位并带动盘体210、柱体220和感应触头230一起向上移动，在上述操作过程中，触控件200通过弹性件300伸缩实现快速点击，感应触头230不会滞留在触控屏上，也不会发生抖动、滑动等情况，可以有效减少测试误差；此外，操作人员不需要手执触控件200，可以避免人手执笔引入的认为误差，有效保证多次操作具有良好的一致性和稳定性。
[0029]具体地，在本技术的一个实施例中，如图2和图3所示，穿孔110的顶端沿径向朝外开设有开口朝向盘体210且用于避让弹性件300的第一避让槽120，弹性件300的两端分别抵接于盘体210和第一避让槽120的底面。此结构下，一方面，相比于弹性件300的两端分别抵接于基座100的上表面和盘体210的情况，由于弹性件300可以完全或者部分收容于第一避让槽120中，可以减小触控性能测试治具在竖直方向上的尺寸，有效减小触控性能测试治具的占用空间，便于存放；另一方面，由于弹性件300可以完全或者本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种触控性能测试治具，其特征在于，包括基座、至少一个触控件以及至少一个弹性件，所述触控件包括依次连接的盘体、柱体以及感应触头，所述基座上开设有供对应的所述柱体和所述感应触头穿过的穿孔，所述弹性件套设于对应的所述柱体上且两端分别抵接于所述盘体和所述基座上。2.如权利要求1所述的触控性能测试治具，其特征在于，所述穿孔沿径向朝外开设有开口朝向所述盘体且用于避让所述弹性件的第一避让槽，所述弹性件的两端分别抵接于所述盘体和所述第一避让槽的底面。3.如权利要求2所述的触控性能测试治具，其特征在于，所述第一避让槽的直径小于所述盘体的直径。4.如权利要求1所述的触控性能测试治具，其特征在于，所述感应触头的直径小...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗勇，
申请(专利权)人：深圳市鸿合创新信息技术有限责任公司，
类型：新型
国别省市：