用于发光器件的多功能测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种用于发光器件的多功能测试装置，包括机架、安装于机架的基板上的测试座、驱动机构和测试探头，所述驱动机构进一步包括X轴组件、Y轴组件和Z轴组件，所述X轴组件安装于基板上表面，所述Y轴组件安装于X轴组件上，所述Z轴组件的支撑板安装于Y轴组件上，所述支撑板上设置有一Z轴丝杆，此Z轴丝杆一端连接有一用于驱动Z轴丝杆旋转的Z轴电机，所述Z轴丝杆上套装有一螺母，两个所述测试探头中的一个通过转接板与螺母连接，此测试探头可随螺母在Z轴方向移动，两个所述测试探头中的另一个安装于支撑板上。本实用新型专利技术既可以对器件进行光谱测试，又可以进行电流

【技术实现步骤摘要】
用于发光器件的多功能测试装置


[0001]本技术涉及一种用于发光器件的多功能测试装置，属于光通讯测试


技术介绍

[0002]目前光通信器件包括光模块及光器件，一般光模块需要进行调试校准及性能测试，光器件需要进行性能测试；现有的光模块及光器件的调测方法在实际的生产过程中，流程复杂，多台测试仪器难以对多个光模块、光器件并行测试；测试效率低，设备利用率小，测试时间长。上述内容仅用于辅助理解本技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是提供一种用于发光器件的多功能测试装置，该用于发光器件的多功能测试装置既可以对器件进行光谱测试，又可以进行电流-功率曲线扫描，提高了测试的效率。
[0004]为达到上述目的，本技术采用的技术方案是：一种用于发光器件的多功能测试装置，包括机架、安装于机架的基板上的测试座、驱动机构和测试探头，所述驱动机构安装于基板上，所述测试探头可移动地安装于驱动机构上，并位于测试座上方；
[0005]所述驱动机构进一步包括X轴组件、Y轴组件和Z轴组件，所述X轴组件安装于基板上表面，所述Y轴组件可移动地安装于X轴组件上，并可沿X轴方向往复运动，所述Z轴组件的支撑板可移动地安装于Y轴组件上，使得Z轴组件可沿Y轴方向往复运动；
[0006]所述支撑板上设置有一Z轴丝杆，此Z轴丝杆一端连接有一用于驱动Z轴丝杆旋转的Z轴电机，所述Z轴丝杆上套装有一螺母，两个所述测试探头中的一个通过转接板与螺母连接，此测试探头可随螺母在Z轴方向移动，两个所述测试探头中的另一个安装于支撑板上。
[0007]上述技术方案中进一步改进的方案如下：
[0008]1. 上述方案中，两个所述测试探头中与螺母连接的测试探头为光谱扫描探头。
[0009]2. 上述方案中，所述测试座一侧还设置有一转接座，此转接座上具有一PCB板和与PCB板电连接的第一连接器，此PCB板设置有第二连接器。
[0010]3. 上述方案中，所述转接板上设置有若干个调节孔。
[0011]4. 上述方案中，所述第一连接器一端与PCB板连接，另一端用于与设置于测试座上的夹具电连接。
[0012]由于上述技术方案的运用，本技术与现有技术相比具有下列优点：
[0013]本技术用于发光器件的多功能测试装置，其通过在驱动机构上安装两个测试探头，既可以对器件进行光谱测试，又可以进行电流-功率曲线扫描，提高了测试的效率，而两个探头一个通过电机上下调节、一个相对固定，则可以对两个探头之间的相对位置进行
调节，进一步保证了不同探头的测试精度。
附图说明
[0014]附图1为本技术用于发光器件的多功能测试装置结构示意图；
[0015]附图2为本技术用于发光器件的多功能测试装置结构局部结构示意图；
[0016]附图3为本技术转接座结构示意图；
[0017]附图4为本技术Z轴组件的结构示意图。
[0018]以上附图中：1、机架；101、基板；2、测试座；3、驱动机构；31、X轴组件；32、Y轴组件；33、Z轴组件；331、支撑板；332、Z轴丝杆；333、Z轴电机；334、螺母；4、测试探头；5、转接座；6、PCB板；7、第一连接器；8、第二连接器。
具体实施方式
[0019]在本专利的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性；此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利的具体含义。
[0020]实施例1：一种用于发光器件的多功能测试装置，包括机架1、安装于机架1的基板101上的测试座2、驱动机构3和测试探头4，所述驱动机构3安装于基板101上，所述测试探头4可移动地安装于驱动机构3上，并位于测试座2上方；
[0021]所述驱动机构3进一步包括X轴组件31、Y轴组件32和Z轴组件33，所述X轴组件31安装于基板101上表面，所述Y轴组件32可移动地安装于X轴组件31上，并可沿X轴方向往复运动，所述Z轴组件33的支撑板331可移动地安装于Y轴组件32上，使得Z轴组件33可沿Y轴方向往复运动；
[0022]所述支撑板331上设置有一Z轴丝杆332，此Z轴丝杆332一端连接有一用于驱动Z轴丝杆332旋转的Z轴电机333，所述Z轴丝杆332上套装有一螺母334，两个所述测试探头4中的一个通过转接板与螺母334连接，此测试探头4可随螺母334在Z轴方向移动，两个所述测试探头4中的另一个安装于支撑板331上。
[0023]两个上述测试探头4中与螺母334连接的测试探头4为光谱扫描探头。
[0024]上述转接板上设置有若干个调节孔，用于模具调试时匹配高度。
[0025]实施例2：一种用于发光器件的多功能测试装置，包括机架1、安装于机架1的基板101上的测试座2、驱动机构3和测试探头4，所述驱动机构3安装于基板101上，所述测试探头4可移动地安装于驱动机构3上，并位于测试座2上方；
[0026]所述驱动机构3进一步包括X轴组件31、Y轴组件32和Z轴组件33，所述X轴组件31安装于基板101上表面，所述Y轴组件32可移动地安装于X轴组件31上，并可沿X轴方向往复运
动，所述Z轴组件33的支撑板331可移动地安装于Y轴组件32上，使得Z轴组件33可沿Y轴方向往复运动；
[0027]所述支撑板331上设置有一Z轴丝杆332，此Z轴丝杆332一端连接有一用于驱动Z轴丝杆332旋转的Z轴电机333，所述Z轴丝杆332上套装有一螺母334，两个所述测试探头4中的一个通过转接板与螺母334连接，此测试探头4可随螺母334在Z轴方向移动，两个所述测试探头4中的另一个安装于支撑板331上。
[0028]上述测试座2一侧还设置有一转接座5，此转接座5上具有一PCB板6和与PCB板6电连接的第一连接器7，此PCB板6设置有第二连接器8。
[0029]上述第一连接器7一端与PCB板6连接，另一端用于与设置于测试座2上的夹具电连接。
[0030]采用上述用于发光器件的多功能测试装置时，其通过在驱动机构上安装两个测试探头，既可以对器件进行光谱测试，又可以进行电流-功率曲线扫描，提高了测试的效率，而两个探头一个通过电机上下调节、一个相对固本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于发光器件的多功能测试装置，其特征在于：包括机架（1）、安装于机架（1）的基板（101）上的测试座（2）、驱动机构（3）和测试探头（4），所述驱动机构（3）安装于基板（101）上，所述测试探头（4）可移动地安装于驱动机构（3）上，并位于测试座（2）上方；所述驱动机构（3）进一步包括X轴组件（31）、Y轴组件（32）和Z轴组件（33），所述X轴组件（31）安装于基板（101）上表面，所述Y轴组件（32）可移动地安装于X轴组件（31）上，并可沿X轴方向往复运动，所述Z轴组件（33）的支撑板（331）可移动地安装于Y轴组件（32）上，使得Z轴组件（33）可沿Y轴方向往复运动；所述支撑板（331）上设置有一Z轴丝杆（332），此Z轴丝杆（332）一端连接有一用于驱动Z轴丝杆（332）旋转的Z轴电机（333），所述Z轴丝杆（332）上套装有一螺母（334），两个所述测试探头（4）...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐鹏嵩，郭孝明，朱晶，王凯旋，
申请(专利权)人：苏州联讯仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：