投影机检查用暗室组制造技术

提供一种投影机检查用的暗室组，能够对应于市场需求迅速配备，且增设成本低廉，还能够减少用于配备的空间。作为包括投影机（３０）检查用的多个暗室的暗室组，暗室具有配置投射屏幕（５０）的投射屏幕配置部（１６）、与投射屏幕配置部（１６）相对的作业用开口（１２）、侧壁部、底部和顶部，其中，投射屏幕配置部（１６）的宽度由投影机（３０）的投影像的宽度规定，作业用开口（１２）的宽度被规定为比投影机（３０）的投射透镜（４６）的宽度宽而且比投射屏幕配置部（１６）的宽度窄，暗室与邻接的其它暗室公用侧壁部（１８）。

【技术实现步骤摘要】
投影机检查用暗室组
本专利技术涉及一种在投影机的检查中所使用的暗室组。
技术介绍
一直以来，对从投影机投影到屏幕上的投射像进行观测，进行投影机内部部件的位置是否适合的检查。在这种检查中，例如存在灰度检查、色相不均性检查、用于光轴调整的检查等。为了确保这些检查的精度，在能够遮断由来自外部的光引起的干扰的暗室内进行这种检查。这种暗室由于在进行多种检查的每个工序中是必不可少的，所以对应于检查的种类而需要多个。因而，在投影机制造工厂，存在需要用于暗室的大空间的问题。针对此种情况，提出一种包括聚焦透镜、透过型屏幕、CCD照相机的小型暗室(例如专利文献1)。专利文献1：特开2004-4562号公报为了响应目前急剧变化的市场需求，有时需要迅速增设生产线。此时，也存在需要增设投影机检查用的暗室的情况。但是在上述技术中，例如必须供应聚焦透镜、透过型屏幕、CCD照相机这些部件，存在不能迅速增设暗室的情况。而且存在用于增设多个暗室的聚焦透镜等部件的供应成本过大的情况。
技术实现思路
于是，本专利技术的目的是提供一种投影机检查用的暗室组，其能够对应-->于市场需求迅速配备，且增设成本低廉，还能够减少用于配备的空间。解决问题的手段上述目的由第1专利技术的暗室组实现，即一种包括用于检查投影机的多个暗室的暗室组，其特征在于：上述暗室具有：配置投射屏幕的投射屏幕配置部、与上述投射屏幕配置部相对的作业用开口、侧壁部、底部和顶部，其中，上述投射屏幕配置部的宽度由上述投影机的投射像的宽度规定；上述作业用开口的宽度被规定为比上述投影机的投射透镜的宽度宽，而且比上述投射屏幕配置部的宽度窄；上述暗室与邻接的其它暗室公用上述侧壁部。从投影机的投射透镜投射的光束逐渐扩展地到达屏幕而形成像，因而，光束通过区域成为屏幕附近位置比投射透镜附近位置扩宽的形状。因而根据第1专利技术的结构，上述投射屏幕配置部的宽度由上述投影机的投射像的宽度规定。上述作业用开口的宽度被规定为比上述投影机的投射透镜的宽度宽，而且比上述投射屏幕配置部的宽度窄。这意味着上述暗室的尺寸由上述投射透镜所投射的光束的通过区域的形状规定。因而，作为对投射像进行观测而进行检查用途，上述暗室等具有必要充分的尺寸。而且，由于作业机用开口的宽度比投射屏幕配置部的宽度窄，从上述顶部上方观看上述暗室所看到的形状(下文称作“平面形状”)为梯形。上述暗室与邻接的其它上述暗室公用上述侧壁部。如上所述，由于平面形状是梯形，不产生无效空间，能够将上述暗室组形成为直线状或圆状。上述各个暗室仅通过规定其形状就可构成，没有必要供应聚焦透镜、透过型屏幕、CCD照相机等部件，从而能够响应于市场需求迅速地配备，而且增设成本低廉。而且上述暗室组不产生无效空间，能够将上述暗室组形成为直线状或圆状，能够减少用于其配备空间。因而，上述暗室组能够响应于市场需求迅速地配备，且增设成本低廉，而且能够减少用于配备的空间。第2专利技术的暗室组的特征在于：在第1专利技术的结构中，各个上述暗室-->通过由暗幕对1个大暗室进行分割(划分)而形成。根据第2专利技术的结构，在对应于上述投影机的机种而需要改变上述暗室的尺寸的情况下，能够迅速响应且成本极低。第3专利技术的暗室组的特征在于：在第1专利技术的结构中，多个上述暗室设置成直线状。根据第3专利技术的结构，1个上述暗室的上述投射屏幕配置部和其它上述暗室的上述作业用开口交替地配置上述暗室而形成直线状。因而能够在直线状设置的上述暗室组的1个侧面形成1个检查线D1，而在相反侧的侧面形成另1个检查线。第4专利技术的暗室组的特征在于：在第1专利技术的结构中，多个上述暗室设置成大致圆形。根据第4专利技术的结构，1个上述暗室的上述作业用开口和其它上述暗室的上述作业用开口连续地设置而形成大致圆形状。因而，检查操作者能够在设置成大致圆形的上述暗室组的中心部作业，作业效率良好。第5专利技术的暗室组的特征在于：在第1专利技术的结构中，多个上述暗室具有公用的空气净化装置。根据第5专利技术的结构，由于多个上述暗室具有公用的空气净化装置，从而用于配备上述暗室组的成本进一步降低。附图说明图1是示出根据本专利技术第1实施例的暗室组的简略平面视图；图2是示出形成暗室组的每个暗室的简略透视图；图3是从侧面观看暗室的简略视图；图4是从上面观看暗室的简略视图；图5是示出投影机的大致外观的一个示例的简略透视图；图6是示出构成投影机的光学单元4的主要部件的简略视图；图7是示出第2实施例的暗室组的简略平面视图。符号说明：-->8A、8B...暗室组；10...暗室；12...作业用开口；14...底部；16...屏幕配置壁；18A、18B...侧壁；20...顶板；30...投影机；46...投射透镜；50...屏幕具体实施方式下文将参照附图对本专利技术的优选实施例进行详细说明。而且，因为将在下文说明的实施例是本专利技术的优选具体示例，虽然在技术上进行了优选的各种限定，但是，只要在下文说明中没有特别地对本专利技术进行限定的情况的记载，本专利技术的范围就不局限于这些实施例。(第1实施例)图1是示出根据本专利技术第1实施例的暗室组8A的简略平面视图。暗室组8A是后面所述的投影机30(参照图5)的检查用的暗室组。暗室组8A是暗室组的一个示例。图2是示出形成暗室组8A的每个暗室10的简略透视图，暗室10是暗室的一个示例。图3是从侧面观看暗室10的简略视图。图4是从上面观看暗室10的简略视图。在每个暗室10中，对从投影机投影到屏幕上的投射像进行观测，进行投影机内部部件的位置是否适合的检查。在这种检查中，例如有灰度检查、色相不均性检查、用于光轴调整的检查等。(投影机30的结构)图5是示出成为暗室10中检查对象的投影机30的大致外观的一个示例的简略透视图。图6是示出构成投影机30的光学单元4的主要部件的简略视图。首先对投影机30的结构进行简单说明。如图5所示，投影机30具有箱体32和投射透镜46等。如图6所示，投影机30的光学单元4具有积分器照明光学系统41、色分离光学系统42、中继光学系统43、将光调制光学系统和色合成光学系-->统一体化的光学装置44以及作为投射光学系统的投射透镜46。积分器照明光学系统41是用于对构成光学装置44的3个液晶面板441(对红、绿、蓝色光分别设为液晶面板441R、441G、441B)的图像形成区域进行大致均匀照明的光学系统。积分器照明光学系统41包括光源装置411、第1透镜阵列412、第2透镜阵列413、偏振变换元件414以及重叠透镜415。色分离光学系统42包括2个分色镜421、422和反射镜423。分色镜421、422具有将从积分器照明光学系统41射出的多个部分光束分离为红(R)、绿(G)、蓝(B)3色色光的功能。中继光学系统43包括入射侧透镜431、中继透镜433和反射镜432、434，具有将由色分离光学系统42所分离的色光即红色光引导到液晶面板441R的功能。光学装置44具有对应于图像信息对入射的光束进行调制而形成彩色图像的功能。光学装置44具有由色分离光学系统42分离的各色光所入射的3个入射侧偏振片442；作为设置在各个入射侧偏振片442的后级的光调制装置的液晶面板441R、441G、441B；设置在各个液晶面板441R、441G、441B的后级的射出侧偏振片443；和作为色合成光学系统的交本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种暗室组，是包括用于检查投影机的多个暗室的暗室组，其特征在于：上述暗室具有：配置投射屏幕的投射屏幕配置部、与上述投射屏幕配置部相对的作业用开口、侧壁部、底部和顶部，其中，上述投射屏幕配置部的宽度由上述投影机的投射像的宽度规 定；上述作业用开口的宽度被规定为比上述投影机的投射透镜的宽度宽，而且比上述投射屏幕配置部的宽度窄；上述暗室与邻接的其它暗室公用上述侧壁部。

【技术特征摘要】
1.一种暗室组，是包括用于检查投影机的多个暗室的暗室组，其特征在于：上述暗室具有：配置投射屏幕的投射屏幕配置部、与上述投射屏幕配置部相对的作业用开口、侧壁部、底部和顶部，其中，上述投射屏幕配置部的宽度由上述投影机的投射像的宽度规定；上述作业用开口的宽度被规定为比上述投影机的投射透镜的宽度宽，而且比上述投射屏幕配置部的宽度窄；上述暗室与...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁冬霖，
申请(专利权)人：精工爱普生株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]