接地测试棒及接地阻抗测试仪制造技术

本发明专利技术涉及接地阻抗测设领域，具体而言，涉及一种接地测试棒及接地阻抗测试仪。接地测试棒包括刚性杆和多个导电件，多个所述导电件均安装在所述刚性杆上，多个所述导电件沿所述刚性杆的长度方向间隔排布且相互绝缘，多个所述导电件能够分别通过多根导线与测试仪本体电连接。接地阻抗测试仪包括上述接地测试棒。本发明专利技术提供的接地测试棒及接地阻抗测试仪，能够对不同深度的阻抗进行测试，进而，可对测得的不同深度的阻抗进行对比，确定接地体埋入地下的最优深度，该最优深度可选为测得的最小阻抗对应的导电件在测试时所处的深度。抗对应的导电件在测试时所处的深度。抗对应的导电件在测试时所处的深度。

【技术实现步骤摘要】
接地测试棒及接地阻抗测试仪


[0001]本专利技术涉及接地阻抗测设领域，具体而言，涉及一种接地测试棒及接地阻抗测试仪。

技术介绍

[0002]接地阻抗测试仪是用来测试接地阻抗的设备，主要由测试棒和测试仪主体组成，其中，测试棒用于打入地下，并利用导线将测试棒与测试仪主体相连，以利用测试仪主体为测试棒提供电流，以获取接地阻抗。
[0003]当接地体埋在不同深度时，呈现出的阻抗不同，然而，现有的接地阻抗测试仪的测试棒均为一根铁棒，无法对不同深度的阻抗进行测试。
[0004]综上，如何克服现有的接地阻抗测试仪的测试棒的上述缺陷是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种接地测试棒及接地阻抗测试仪，以缓解现有技术中的接地阻抗测试仪的测试棒存在的无法对不同深度的阻抗进行测试的技术问题。
[0006]本专利技术提供的接地测试棒，包括刚性杆和多个导电件，多个所述导电件均安装在所述刚性杆上，多个所述导电件沿所述刚性杆的长度方向间隔排布且相互绝缘，多个所述导电件能够分别通过多根导线与测试仪本体电连接。
[0007]优选地，作为一种可实施方式，所述接地测试棒还包括绝缘支架，多个所述导电件均通过所述绝缘支架安装在所述刚性杆上。
[0008]优选地，作为一种可实施方式，所述绝缘支架为筒状结构，且所述绝缘支架套设在所述刚性杆上，所述刚性杆的靠近入地端的部位具有凸台，所述凸台用于阻挡所述绝缘支架，所述导电件套装在所述绝缘支架的外围。
[0009]优选地，作为一种可实施方式，所述绝缘支架包括第一筒体部和第二筒体部，且所述第一筒体部和所述第二筒体部沿所述刚性杆的长度方向交替设置。
[0010]所述导电件为筒状结构，所述导电件套在所述第一筒体部外，且所述导电件的端面与所述第二筒体部的端面抵接。
[0011]优选地，作为一种可实施方式，所述刚性杆包括管体，所述管体的入地端连接有引导头，所述引导头封在所述管体的端部，所述管体和所述第一筒体部上均开设有供所述导线穿过的通道。
[0012]优选地，作为一种可实施方式，所述引导头呈锥形，所述引导头的锥顶为入地端，所述引导头的锥底形成所述凸台；
[0013]和/或，相邻的两个所述绝缘支架粘接，且最靠近所述引导头的所述绝缘支架与所述引导头粘接；
[0014]和/或，所述管体与所述导线之间的缝隙内具有绝缘填充物。
[0015]优选地，作为一种可实施方式，所述管体上开设有贯通所述管体的两端的第一开槽，所述第一筒体部的内侧具有凸筋，所述第一开槽与所述凸筋配合，用于限制所述第一筒体部的周向转动。
[0016]优选地，作为一种可实施方式，所述凸筋上开设有第二开槽，所述第二开槽贯通所述凸筋的背离所述第二筒体部的一端。
[0017]优选地，作为一种可实施方式，所述刚性杆的材质为金属，和/或，所述导电件的材质为金属，和/或，所述绝缘支架的材质为陶瓷。
[0018]相应地，本专利技术还提供了一种接地电阻测试仪，包括上述接地测试棒。
[0019]本专利技术提供的接地测试棒及接地阻抗测试仪的有益效果是：
[0020]本专利技术提供的接地测试棒，主要由刚性杆和若干导电件组成，多个导电件均安装在刚性杆上，且多个导电件沿刚性杆的长度方向间隔排布，从而，当测试棒打入地下后，各个导电件会分别处于不同的深度；多个导电件相互绝缘，且多个导电件能够分别通过多根导线与测试仪本体电连接，从而，测试仪本体能够选择为不同的导电件提供电流，进而，可获取相应的导电件所在深度的阻抗。
[0021]因此，本专利技术提供的接地测试棒，能够将测试仪本体提供的电流导到处于不同深度的导电件上，以获取不同深度的阻抗，进而，可对测得的不同深度的阻抗进行对比，以确定接地体埋入地下的最优深度，该最优深度可选为测得的最小阻抗对应的导电件在测试时所处的深度。
[0022]本专利技术提供的接地电阻测试仪，包括上述接地测试棒。
[0023]因此，本专利技术提供的接地电阻测试仪，能够对不同深度的阻抗进行测试，进而，可对测得的不同深度的阻抗进行对比，确定接地体埋入地下的最优深度，该最优深度可选为测得的最小阻抗对应的导电件在测试时所处的深度。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0025]图1为本专利技术实施例提供的接地测试棒的正视结构示意图；
[0026]图2为本专利技术实施例提供的接地测试棒的装配结构示意图，其中，仅示意了一个导电件和一个绝缘支架与刚性杆的装配结构；
[0027]图3为本专利技术实施例提供的接地测试棒中的绝缘支架的立体结构示意图；
[0028]图4为本专利技术实施例提供的接地测试棒中的绝缘支架与导电件的装配结构示意图；
[0029]图5为本专利技术实施例提供的接地测试棒中的刚性杆的正视结构示意图；
[0030]图6为本专利技术实施例提供的接地测试棒中的刚性杆的立体结构示意图。
[0031]图标：
[0032]100－刚性杆；110－管体；111－第一开槽；120－引导头；
[0033]200－导电件；
[0034]300－绝缘支架；310－第一筒体部；311－凸筋；312－第二开槽；320－第二筒体部。
具体实施方式
[0035]下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0036]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0037]在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0038]下面通过具体的实施例并结合附图对本专利技术做进一步的详细描述。
[0039]参见图1－图6，本实施例提供了一种接地测试棒，其主要由刚性杆100和若干导电件200组成，多个导电件200均安装在刚性杆100上，且多个导电件20本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种接地测试棒，其特征在于，包括刚性杆(100)和多个导电件(200)，多个所述导电件(200)均安装在所述刚性杆(100)上，多个所述导电件(200)沿所述刚性杆(100)的长度方向间隔排布且相互绝缘，多个所述导电件(200)能够分别通过多根导线与测试仪本体电连接。2.根据权利要求1所述的接地测试棒，其特征在于，所述接地测试棒还包括绝缘支架(300)，多个所述导电件(200)均通过所述绝缘支架(300)安装在所述刚性杆(100)上。3.根据权利要求2所述的接地测试棒，其特征在于，所述绝缘支架(300)为筒状结构，且所述绝缘支架(300)套设在所述刚性杆(100)上，所述刚性杆(100)的靠近入地端的部位具有凸台，所述凸台用于阻挡所述绝缘支架(300)，所述导电件(200)套装在所述绝缘支架(300)的外围。4.根据权利要求3所述的接地测试棒，其特征在于，所述绝缘支架(300)包括第一筒体部(310)和第二筒体部(320)，且所述第一筒体部(310)和所述第二筒体部(320)沿所述刚性杆(100)的长度方向交替设置；所述导电件(200)为筒状结构，所述导电件(200)套在所述第一筒体部(310)外，且所述导电件(200)的端面与所述第二筒体部(320)的端面抵接。5.根据权利要求4所述的接地测试棒，其特征在于，所述刚性杆(100)包括管体(110)，所述管体(110)的入地...

【专利技术属性】
技术研发人员：李欣，
申请(专利权)人：厦门大恒科技有限公司，
类型：发明
国别省市：