清洗光阻剂管道的控制方法、装置及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种清洗光阻剂管道的控制方法、装置及计算机可读存储介质，所述清洗光阻剂管道的控制方法包括：通过检测到光阻剂的上料信息时，获取待上料的光阻剂的第一标识信息；获取上一次使用的光阻剂的第二标识信息；在第一标识信息与第二标识信息不匹配时，清洗光阻剂管道。本发明专利技术提高了清洗光阻剂管道的准确率。确率。确率。

【技术实现步骤摘要】
清洗光阻剂管道的控制方法、装置及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及光阻剂处理领域，尤其涉及一种清洗光阻剂管道的控制方法、装置及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]在液晶面板厂CF制程，光阻剂是重要的物料，要做BM-R-G-B等制程要不同的光阻，一个机台，可以使用不同的光阻剂，但是使用不同的光阻剂，机台内的光阻剂管道必须先洗管，如果忘记清洗，光阻剂管道中有残留的光阻剂与新的光阻剂混合，会造成大量的不良品产生，如果新的光阻剂与旧的光阻剂型号一致也对光阻剂管道进行清洗，则会导致资源浪费。目前都是人为的去判断光阻剂管道内残留的旧光阻剂与新光阻剂是否为相同的光阻剂，容易由于人为的判断失误导致忘记洗管。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例通过提供一种清洗光阻剂管道的控制方法、装置及计算机可读存储介质，旨在解决由于人为的判断失误导致忘记洗管的技术问题。
[0004]本专利技术实施例的第一方面提供一种清洗光阻剂管道的控制方法，所述清洗光阻剂管道的控制方法包括：
[0005]检测到光阻剂的上料信息时，获取待上料的光阻剂的第一标识信息；
[0006]获取上一次使用的光阻剂的第二标识信息；
[0007]在所述第一标识信息与所述第二标识信息不匹配时，清洗光阻剂管道。
[0008]在一实施例中，所述获取待上料的光阻剂的第一标识信息的步骤包括：
[0009]获取所述待上料的光阻剂的载体上的第一物料编码；
[0010]将所述第一物料编码作为所述第一标识信息。
[0011]在一实施例中，所述获取所述待上料的光阻剂的载体上的第一物料编码的步骤包括：
[0012]获取所述载体的电子标签；
[0013]根据所述电子标签确定所述第一物料编码。
[0014]在一实施例中，所述获取所述待上料的光阻剂的载体上的第一物料编码的步骤包括：
[0015]获取所述载体上的图形码信息；
[0016]根据所述图形码信息确定所述第一物料编码。
[0017]在一实施例中，所述获取所述待上料的光阻剂的载体上的第一物料编码的步骤包括：
[0018]获取所述载体的图像信息；
[0019]获取所述图像信息上的文本信息；
[0020]识别所述文本信息上的所述第一物料编码。
[0021]在一实施例中，所述第二标识信息包括第二物料编码。
[0022]在一实施例中，所述获取上一次使用的光阻剂的第二标识信息的步骤之后，还包括：
[0023]若所述第一标识信息与所述第二标识信息匹配，生成无需清洗所述光阻剂管道的提示信息。
[0024]在一实施例中，所述清洗光阻剂管道的步骤之后，还包括：
[0025]将待上料的光阻剂的载体调度到上料位置。
[0026]为实现上述目的，本专利技术提供了一种清洗光阻剂管道的控制装置，所述清洗光阻剂管道的控制装置包括：清洗装置、存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述的清洗光阻剂管道的控制方法的各个步骤。
[0027]为实现上述目的，本专利技术提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的清洗光阻剂管道的控制方法的各个步骤。
[0028]本专利技术提供的清洗光阻剂管道的控制方法、装置及计算机可读存储介质，通过检测到光阻剂的上料信息时，获取待上料的光阻剂的第一标识信息；获取上一次使用的光阻剂的第二标识信息；在所述第一标识信息与所述第二标识信息不匹配时，清洗光阻剂管道。由于在使用待上料光阻剂进行上料时，清洗光阻剂管道的控制装置预先检测待上料的光阻剂和上一次使用的光阻剂是否匹配以确定是否需要洗管，可避免由于人为的判断失误导致忘记洗管的问题，提高了清洗光阻剂管道的准确率。
[0029]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
附图说明
[0030]图1为本专利技术实施例涉及的清洗光阻剂管道的控制装置的硬件架构示意图；
[0031]图2为本专利技术清洗光阻剂管道的控制方法第一实施例的流程示意图；
[0032]图3为本专利技术清洗光阻剂管道的控制方法第二实施例的流程示意图；
[0033]图4为本专利技术清洗光阻剂管道的控制方法第三实施例的步骤S11的细化流程示意图；
[0034]图5为本专利技术清洗光阻剂管道的控制方法第四实施例的步骤S11的细化流程示意图；
[0035]图6为本专利技术清洗光阻剂管道的控制方法第五实施例的步骤S11的细化流程示意图；
[0036]图7为本专利技术清洗光阻剂管道的控制方法第六实施例的流程示意图；
[0037]图8为本专利技术清洗光阻剂管道的控制方法第七实施例的流程示意图。
具体实施方式
[0038]为了更好的理解上述技术方案，下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
[0039]本专利技术的主要解决方案是：通过检测到光阻剂的上料信息时，获取待上料的光阻剂的第一标识信息；获取上一次使用的光阻剂的第二标识信息；在所述第一标识信息与所述第二标识信息不匹配时，清洗光阻剂管道。
[0040]由于在使用待上料光阻剂进行上料时，清洗光阻剂管道的控制装置预先检测待上料的光阻剂和上一次使用的光阻剂是否匹配以确定是否需要洗管，可避免由于人为的判断失误导致忘记洗管的问题，提高了清洗光阻剂管道的准确率。
[0041]参照图1，图1为本专利技术实施例涉及的清洗光阻剂管道的控制装置的硬件架构示意图。
[0042]本专利技术实施例方案涉及的是控制器，控制器包括：处理器101，例如CPU，存储器102，通信总线103，清洗装置104。其中，通信总线103用于实现这些组件之间的连接通信，清洗装置104用于清洗光阻剂管道。
[0043]存储器102可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatilememory)，例如磁盘存储器。如图1所述，作为一种计算机存储介质的存储器103中可以包括检测程序；而处理器101可以用于调用存储器102中存储的检测程序，并执行以下操作：
[0044]检测到光阻剂的上料信息时，获取待上料的光阻剂的第一标识信息；
[0045]获取上一次使用的光阻剂的第二标识信息；
[0046]在所述第一标识信息与所述第二标识信息不匹配时，清洗光阻剂管道。
[0047]在一实施例中，处理器101本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种清洗光阻剂管道的控制方法，其特征在于，所述清洗光阻剂管道的控制方法包括：检测到光阻剂的上料信息时，获取待上料的光阻剂的第一标识信息；获取上一次使用的光阻剂的第二标识信息；在所述第一标识信息与所述第二标识信息不匹配时，清洗光阻剂管道。2.如权利要求1所述的清洗光阻剂管道的控制方法，其特征在于，所述获取待上料的光阻剂的第一标识信息的步骤包括：获取所述待上料的光阻剂的载体上的第一物料编码；将所述第一物料编码作为所述第一标识信息。3.如权利要求2所述的清洗光阻剂管道的控制方法，其特征在于，所述获取所述待上料的光阻剂的载体上的第一物料编码的步骤包括：获取所述载体的电子标签；根据所述电子标签确定所述第一物料编码。4.如权利要求2所述的清洗光阻剂管道的控制方法，其特征在于，所述获取所述待上料的光阻剂的载体上的第一物料编码的步骤包括：获取所述载体上的图形码信息；根据所述图形码信息确定所述第一物料编码。5.如权利要求2所述的清洗光阻剂管道的控制方法，其特征在于，所述获取所述待上料的光阻剂的载体上的第一物料编码的步骤包括：获取所述载体的图像信...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘柏松，叶利丹，
申请(专利权)人：惠科股份有限公司，
类型：发明
国别省市：