内存条拔插寿命测试机制造技术

本发明专利技术涉及内存条拔插测试设备领域，更具体地说，涉及一种内存条拔插寿命测试机，包括动力机构、推架机构、缓冲架机构、内存条夹具机构、测试插座机构和基座，所述动力机构固定连接在所述基座上，所述动力机构传动连接所述推架机构，所述推架机构配合连接在所述基座上；所述缓冲架机构的外端与所述推架机构配合连接，所述缓冲架机构的内端固定连接所述内存条夹具机构；所述内存条夹具机构与所述测试插座机构相对设置；所述测试插座机构配合连接在所述基座上。本发明专利技术内部内存条夹具机构带动夹持在其内侧的内存条运动的距离进行调节，便于带动内存条精准的插接在测试插座本体的内存槽内，降低插拔过程中对内存槽或内存条造成的损伤。伤。伤。

【技术实现步骤摘要】
内存条拔插寿命测试机


[0001]本专利技术涉及内存条拔插测试设备领域，更具体地说，涉及一种内存条拔插寿命测试机。

技术介绍

[0002]随着计算机技术的迅速发展和普及，内存条的使用频率逐渐的上升。内存条是CPU可通过总线寻址，并进行读写操作的电脑部件。内存条在个人电脑历史上曾经是主内存的扩展。随着电脑软、硬件技术不断更新的要求，内存条已成为读写内存的整体。每种品牌的内存条在研发完成后，都需要对其进行测试，内存条拔插寿命的测试是需要测试的一种，内存条拔插寿命的测试需要内存条的多次插拔工作，现有技术中的测试机不便于调节控制不同内存条插入至测试插座的内存槽的深度，在插拔的过程中，容易造成内存槽或内存条损坏，影响测试结果。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种内存条拔插寿命测试机，可以有效解决现有技术中的问题。
[0004]为实现上述目的，本申请提供了一种内存条拔插寿命测试机，包括动力机构、推架机构、缓冲架机构、内存条夹具机构、测试插座机构和基座，所述动力机构固定连接在所述基座上，所述动力机构传动连接所述推架机构，所述推架机构配合连接在所述基座上；所述缓冲架机构的外端与所述推架机构配合连接，所述缓冲架机构的内端固定连接所述内存条夹具机构；所述内存条夹具机构与所述测试插座机构相对设置；所述测试插座机构配合连接在所述基座上。
[0005]可选的，所述动力机构包括带有减速器的伺服电机、驱动轴、驱动转盘、偏心轴和驱动连杆；所述伺服电机通过电机支架固定在所述基座上；所述伺服电机的输出轴通过联轴器传动连接驱动轴；所述驱动轴上固定连接所述驱动转盘；所述驱动转盘的偏心位置配合连接偏心轴；所述驱动连杆的一端转动配合在偏心轴上，驱动连杆的另一端传动连接所述推架机构。
[0006]可选的，所述动力机构还包括调控螺杆；所述驱动转盘的偏心位置设有内外滑道，调控螺杆的两端转动配合在内外滑道的内外两端；所述偏心轴滑动配合在内外滑道内，且通过螺纹配合在所述调控螺杆上。
[0007]可选的，所述推架机构包括竖向推架、T形导轨和行走支撑轮；所述驱动连杆的另一端转动配合在所述竖向推架上；所述竖向推架的下端通过T形滑槽滑动配合在T形导轨上；所述T形导轨固定在所述基座上；所述竖向推架的两端分别转动配合连接一个行走支撑轮，两个所述行走支撑轮滚动配合在所述基座的顶面上。
[0008]可选的，所述缓冲架机构包括横挡杆、矩形滑杆、缓冲压簧、横连板和圆柱连杆；所述矩形滑杆设有两个，两个矩形滑杆的内外两端分别与所述横连板和所述横挡杆固定连
接，两个矩形滑杆的中部滑动配合在所述竖向推架上；所述矩形滑杆上套设有缓冲压簧，所述缓冲压簧的两端分别与所述竖向推架和所述横连板固定连接；所述横连板的内端通过多根圆柱连杆固定连接所述内存条夹具机构。
[0009]可选的，所述缓冲架机构还包括限位顶杆，限位顶杆的中部通过螺纹配合在所述横挡杆上，限位顶杆的内端顶压在所述竖向推架上。
[0010]可选的，所述内存条夹具机构包括横挡单元、侧挡单元和夹具单元；所述横挡单元的两端分别固定连接一个侧挡单元和一个夹具单元，两个所述夹具单元位于两个所述侧挡单元的内侧；所述夹具单元包括夹具架、夹持板、双向螺杆、张紧弹簧和调节转块；所述夹具架固定在所述横挡单元的外端；所述夹具架的内侧滑动配合连接上下两个夹持板，两个夹持板通过螺纹配合在所述双向螺杆的上下两端；所述双向螺杆上套设两根所述张紧弹簧，两根所述张紧弹簧的内端固定在两块夹持板的外侧面上，两根所述张紧弹簧的外端固定在所述夹具架上；所述双向螺杆的外端固定有调节转块。
[0011]可选的，所述横挡单元包括固定横挡、滑动横挡、限位滑块、调长螺杆、推拉座和推拉连杆；所述调长螺杆的中部通过螺纹配合在所述推拉座上，调长螺杆的内端转动配合在所述固定横挡的中间；所述推拉座的两端分别转动连接一个所述推拉连杆的一端，两个所述推拉连杆的另一端分别转动连接一个限位滑块，两个限位滑块相对滑动配合在所述固定横挡的两侧的限位滑道内，两个限位滑块的内端分别固定连接一个所述滑动横挡，两个所述滑动横挡相对滑动配合在所述固定横挡两端的侧滑道内；两个所述滑动横挡的外端分别固定连接一个夹具架和一个侧挡单元。
[0012]可选的，所述侧挡单元包括侧固定架、侧滑动架、侧导杆、复位压簧、限位螺母和侧夹辊；所述侧固定架固定在所述横挡单元的外端；所述侧滑动架滑动配合在所述侧固定架的内侧面上；所述侧滑动架固定在所述侧导杆的内端，侧导杆的中部滑动配合在所述侧固定架上，侧导杆的外端通过螺纹配合连接限位螺母，限位螺母卡挡在所述侧固定架的外端；所述侧滑动架上并排转动配合连接多个均匀间隔设置的侧夹辊，多个侧夹辊位于所述夹持板的外端；所述侧夹辊的轴线与所述双向螺杆的轴线共线，且与所述侧导杆的轴线垂直设置；所述复位压簧套设在侧导杆上，复位压簧位于侧固定架和侧滑动架之间。
[0013]可选的，所述测试插座机构包括测试插座本体、T形滑动架和位移控制螺杆；所述测试插座本体的外端固定在T形滑动架上；所述T形滑动架的下端滑动配合在所述基座的内外滑槽内；所述T形滑动架的下端通过螺纹配合在所述位移控制螺杆上；所述位移控制螺杆的两端分别转动配合在所述基座内外滑槽的内外两端。
[0014]本专利技术的有益效果：本专利技术内部内存条夹具机构带动夹持在其内侧的内存条运动的距离进行调节，便于带动内存条精准的插接在测试插座本体的内存槽内，降低插拔过程中对内存槽或内存条造成的损伤；本专利技术内部的内存条夹具机构，可以对不同长度的内存条进行夹持固定，适用范围广，实用性强；本专利技术内部设有缓冲架机构，在保证内存条有效插入至测试插座本体的内存槽内的前提下，缓冲架机构可以在动力机构传动带动内存条插入至测试插座本体的内存槽时起到缓冲的作用，避免机械推力过大而造成测试插座本体内存槽或内存条损坏。
[0015]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或相关技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1为本专利技术实施例提供的整体示意图一；图2为本专利技术实施例提供的整体示意图二；图3为本专利技术实施例提供的动力机构的示意图；图4为本专利技术实施例提供的推架机构的示意图；图5为本专利技术实施例提供的缓冲架机构的示意图；图6为本专利技术实施例提供的内存条夹具机构的示意图一；图7为本专利技术实施例提供的内存条夹具机构的示意图二；图8为本专利技术实施例提供的横挡单元的示意图；图9为本专利技术实施例提供的侧挡单元的示意图；图10为本专利技术实施例提供的夹具单元的示意图；图11为本专利技术实施例提供的测试插座机构的示意图。
[0018]图标：动力机构1；伺服电机101；驱动轴102；驱动转盘103；偏心本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.内存条拔插寿命测试机，包括动力机构（1）、推架机构（2）、缓冲架机构（3）、内存条夹具机构（4）、测试插座机构（5）和基座（6），其特征在于：所述动力机构（1）固定连接在所述基座（6）上，所述动力机构（1）传动连接所述推架机构（2），所述推架机构（2）配合连接在所述基座（6）上；所述缓冲架机构（3）的外端与所述推架机构（2）配合连接，所述缓冲架机构（3）的内端固定连接所述内存条夹具机构（4）；所述内存条夹具机构（4）与所述测试插座机构（5）相对设置；所述测试插座机构（5）配合连接在所述基座（6）上。2.根据权利要求1所述的内存条拔插寿命测试机，其特征在于：所述动力机构（1）包括带有减速器的伺服电机（101）、驱动轴（102）、驱动转盘（103）、偏心轴（104）和驱动连杆（105）；所述伺服电机（101）通过电机支架固定在所述基座（6）上；所述伺服电机（101）的输出轴通过联轴器传动连接驱动轴（102）；所述驱动轴（102）上固定连接所述驱动转盘（103）；所述驱动转盘（103）的偏心位置配合连接偏心轴（104）；所述驱动连杆（105）的一端转动配合在偏心轴（104）上，驱动连杆（105）的另一端传动连接所述推架机构（2）。3.根据权利要求2所述的内存条拔插寿命测试机，其特征在于：所述动力机构（1）还包括调控螺杆（106）；所述驱动转盘（103）的偏心位置设有内外滑道，调控螺杆（106）的两端转动配合在内外滑道的内外两端；所述偏心轴（104）滑动配合在内外滑道内，且通过螺纹配合在所述调控螺杆（106）上。4.根据权利要求2所述的内存条拔插寿命测试机，其特征在于：所述推架机构（2）包括竖向推架（201）、T形导轨（202）和行走支撑轮（203）；所述驱动连杆（105）的另一端转动配合在所述竖向推架（201）上；所述竖向推架（201）的下端通过T形滑槽滑动配合在T形导轨（202）上；所述T形导轨（202）固定在所述基座（6）上；所述竖向推架（201）的两端分别转动配合连接一个行走支撑轮（203），两个所述行走支撑轮（203）滚动配合在所述基座（6）的顶面上。5.根据权利要求4所述的内存条拔插寿命测试机，其特征在于：所述缓冲架机构（3）包括横挡杆（301）、矩形滑杆（302）、缓冲压簧（303）、横连板（304）和圆柱连杆（305）；所述矩形滑杆（302）设有两个，两个矩形滑杆（302）的内外两端分别与所述横连板（304）和所述横挡杆（301）固定连接，两个矩形滑杆（302）的中部滑动配合在所述竖向推架（201）上；所述矩形滑杆（302）上套设有缓冲压簧（303），所述缓冲压簧（303）的两端分别与所述竖向推架（201）和所述横连板（304）固定连接；所述横连板（304）的内端通过多根圆柱连杆（305）固定连接所述内存条夹具机构（4）。6.根据权利要求5所述的内存条拔插寿命测试机，其特征在于：所述缓冲架机构（3）还包括限位顶杆（306），限位顶杆（306）的中部通过螺纹配合在所述横挡杆（301）上，限位顶杆（306）的内端顶压在所述竖向推架（201）上。7.根据权利要求5所述的内存条拔插寿命测试机，其特征在于：所述内存条夹具机构（4）包括横挡单元（401）、侧挡单元（402）和夹具单元（403）；所述横挡单元（401）的两端分别固定连接一个侧挡单元（402）和一个夹具单元（403），两个所述夹具单元（403）位于两个所...

【专利技术属性】
技术研发人员：程迎春，
申请(专利权)人：程迎春，
类型：发明
国别省市：