一种多功能芯片测试插座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种多功能芯片测试插座，属于芯片测试插座技术领域，其包括测试插座，所述测试插座内壁的左右两侧面均开设有凹槽，且两个凹槽内均卡接有卡块，所述卡块的下表面固定连接有滑块，所述滑块滑动连接在滑槽内，所述滑槽开设在测试壳内壁的下表面，所述测试壳卡接设置在测试插座内。该多功能芯片测试插座，通过设置测试壳、拉环、测试板、活动块、滑块和第二弹簧，使得工作人员在需要将芯片取出时，只需向上拉动拉环即可，在需要安装时，只需通过活动块就可以对芯片进行固定，不仅方便了工作人员安装或取出芯片，且大大提高了检测的效率，减少了大部分繁琐的步骤，且在检测时，芯片不易出现掉落的情况。芯片不易出现掉落的情况。芯片不易出现掉落的情况。

【技术实现步骤摘要】
一种多功能芯片测试插座


[0001]本技术属于芯片测试插座
，具体为一种多功能芯片测试插座。

技术介绍

[0002]随着时代的发展和科技的进步，智能化、芯片化逐渐在人们的生活中普及，然而在生产芯片时，工作人员人员往往需要多次的UI芯片进行检测的查修，目前市场上大部分的芯片测试插座在进行检测时，往往需要放置在指定的测试插座中，但对于芯片的放置却较为麻烦，不仅需要多步插取，且插取的过程较为麻烦，使得工作人员检测的效率大大下降。

技术实现思路

[0003]（一）解决的技术问题
[0004]为了克服现有技术的上述却陷，本技术提供了一种多功能芯片测试插座，解决了目前市场上大部分的芯片测试插座在进行检测时，往往需要放置在指定的测试插座中，但对于芯片的放置却较为麻烦，不仅需要多步插取，且插取的过程较为麻烦，使得工作人员检测效率大大下降的问题。
[0005]（二）技术方案
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种多功能芯片测试插座，包括测试插座，所述测试插座内壁的左右两侧面均开设有凹槽，且两个凹槽内均卡接有卡块，所述卡块的下表面固定连接有滑块，所述滑块滑动连接在滑槽内，所述滑槽开设在测试壳内壁的下表面，所述测试壳卡接设置在测试插座内，所述滑槽内壁的右侧面固定连接有第一弹性装置，所述第一弹性装置的左端与滑块的右侧面固定连接，且两个卡块的相对面均设置有滑轮，两个所述滑轮的相对面滑动连接有同一个卡杆，所述卡杆的顶端设置有卡板，所述卡板的下表面与测试插座的上表面搭接。
[0007]作为本技术的进一步方案：所述卡杆的外表面设置有两个放置板，且两个放置板的上表面均固定连接有第二弹性装置，所述第二弹性装置的顶端与测试壳内壁的上表面固定连接，所述测试壳的左右两侧面通过销轴分别与两个活动块的下表面活动连接。
[0008]作为本技术的进一步方案：所述测试壳内设置有挡板，所述挡板的背面设置有测试板，所述测试板滑动连接在测试壳内，所述测试板的背面开设有卡槽，所述卡槽内卡接有芯片。
[0009]作为本技术的进一步方案：所述卡板的上表面设置有拉环，所述拉环的外表面设置有防滑纹路，所述卡杆的底端设置为弧形，所述滑块和滑槽的横截面均设置为T字形。
[0010]作为本技术的进一步方案：所述第一弹性装置包括第一伸缩杆，所述第一伸缩杆的外表面套接有第一弹簧，所述第一弹簧和第一伸缩杆的两端分别与滑块的右侧面和滑槽内壁的右侧面固定连接。
[0011]作为本技术的进一步方案：所述第二弹性装置包括第二伸缩杆，所述第二伸
缩杆的外表面套接有第二弹簧，所述第二弹簧和第二伸缩杆的两端分别与放置板的上表面和测试壳内壁的上表面固定连接。
[0012]（三）有益效果
[0013]与现有技术相比，本技术的有益效果在于：
[0014]1、该多功能芯片测试插座，通过设置测试壳、拉环、测试板、活动块、卡块、第一弹簧、滑块和第二弹簧，当工作人员需要将芯片安装在测试壳内时，只需将芯片放置在测试板内的卡槽内，随后将测试板安装在测试壳内即可，且在需要取出时，只需拉动拉环，使得卡杆松离对两个卡块的限位，使得工作人员在需要将芯片取出时，只需向上拉动拉环即可，在需要安装时，只需通过活动块就可以对芯片进行固定，不仅方便了工作人员安装或取出芯片，且大大提高了检测的效率，减少了大部分繁琐的步骤，且在检测时，芯片不易出现掉落的情况。
[0015]2、该多功能芯片测试插座，通过设置第二弹簧、卡杆和放置板，当工作人员需要将测试壳固定在测试插座内时，只需将测试壳插入测试插座内，当两个卡块移动至两个凹槽的位置时，工作人员就可以松离拉环，且向下挤压，使得卡杆在人力挤压和第二弹簧弹力的作用下快速向下移动，使得卡杆带动两个卡杆反向移动，从而卡接在两个凹槽内，使得工作人员只需将测试壳放置在测试插座内，随后挤压拉环就可以对测试壳进行固定，使得在固定完毕后测试壳不易出现掉落的情况，使得在进行检测时，测试插座不易因测试壳掉落而出现检测误差的情况。
[0016]3、该多功能芯片测试插座，通过设置滑轮，当工作人员通过卡杆挤压两个滑轮，使得两个卡杆反向移动时，滑轮就会发生旋转的情况，使得工作人员在通过两个卡块对测试壳进行固定时，卡块与卡杆之间不易出现卡死的情况，且两个卡块可以移动的更加顺畅。
附图说明
[0017]图1为本技术正视的剖面结构示意图；
[0018]图2为本技术立体的结构示意图；
[0019]图3为本技术测试壳后视的剖面结构示意图；
[0020]图中：1测试插座、2凹槽、3卡块、4滑块、5测试壳、6第一弹性装置、61第一弹簧、62第一伸缩杆、7滑槽、8滑轮、9卡杆、10卡板、11放置板、12第二弹性装置、121第二弹簧、122第二伸缩杆、13销轴、14活动块、15测试板、16卡槽、17芯片、18拉环、19挡板。
具体实施方式
[0021]下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。
[0022]如图1-3所示，本技术提供一种技术方案：一种多功能芯片测试插座，包括测试插座1，测试插座1内壁的左右两侧面均开设有凹槽2，且两个凹槽2内均卡接有卡块3，卡块3的下表面固定连接有滑块4，滑块4滑动连接在滑槽7内，滑槽7开设在测试壳5内壁的下表面，测试壳5卡接设置在测试插座1内，滑槽7内壁的右侧面固定连接有第一弹性装置6，第一弹性装置6的左端与滑块4的右侧面固定连接，且两个卡块3的相对面均设置有滑轮8，两个滑轮8的相对面滑动连接有同一个卡杆9，卡杆9的顶端设置有卡板10，卡板10的下表面与测试插座1的上表面搭接，通过设置测试壳5、拉环18、滑块4和第二弹簧121，使得工作人员
在需要将芯片17取出时，只需向上拉动拉环18即可，在需要安装时，只需通过活动块14就可以对芯片17进行固定，不仅方便了工作人员安装或取出芯片17，且大大提高了检测的效率，减少了大部分繁琐的步骤，且在检测时，芯片17不易出现掉落的情况。
[0023]具体的，如图1所示，卡杆9的外表面设置有两个放置板11，且两个放置板11的上表面均固定连接有第二弹性装置12，第二弹性装置12的顶端与测试壳5内壁的上表面固定连接，测试壳5的左右两侧面通过销轴13分别与两个活动块14的下表面活动连接，因设置有销轴13和活动块14，当工作人员将测试壳5卡接在测试插座1内时，测试插座1的上表面就会挤压活动块14，此时两个活动块14就会相向翻转，从而将测试板15固定住，使得在进行测试时，测试板15不易出现滑出的情况，卡板10的上表面设置有拉环18，拉环18的外表面设置有防滑纹路，卡杆9的底端设置为弧形，因设置有拉环18，使得工作人员只需持续拉动拉环18就可以松离卡块3对测试插座1的固定，且可以将测试壳5从测试插座1内取出，滑块4和滑槽7的横截面均设置为T字形，第一弹性装置6包括第一伸缩杆62，第一伸缩杆62的外表面套接有第一弹簧61，因设置有本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多功能芯片测试插座，包括测试插座（1），其特征在于：所述测试插座（1）内壁的左右两侧面均开设有凹槽（2），且两个凹槽（2）内均卡接有卡块（3），所述卡块（3）的下表面固定连接有滑块（4），所述滑块（4）滑动连接在滑槽（7）内，所述滑槽（7）开设在测试壳（5）内壁的下表面，所述测试壳（5）卡接设置在测试插座（1）内，所述滑槽（7）内壁的右侧面固定连接有第一弹性装置（6），所述第一弹性装置（6）的左端与滑块（4）的右侧面固定连接，且两个卡块（3）的相对面均设置有滑轮（8），两个所述滑轮（8）的相对面滑动连接有同一个卡杆（9），所述卡杆（9）的顶端设置有卡板（10），所述卡板（10）的下表面与测试插座（1）的上表面搭接。2.根据权利要求1所述的一种多功能芯片测试插座，其特征在于：所述卡杆（9）的外表面设置有两个放置板（11），且两个放置板（11）的上表面均固定连接有第二弹性装置（12），所述第二弹性装置（12）的顶端与测试壳（5）内壁的上表面固定连接，所述测试壳（5）的左右两侧面通过销轴（13）分别与两个活动块（14）的下表面活动连接。3.根据权利要求1所述的一种多功能芯片测试插座，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：丛维，金生，
申请(专利权)人：南京优存科技有限公司，
类型：新型
国别省市：