光学量测系统技术方案

技术编号:27249083 阅读:21 留言:0更新日期:2021-02-04 12:24
一种光学量测系统,包括一下座、一光学量测装置、一上座与一光源产生装置,下座供放置一待测样品,所述下座顶部具有一透光孔可使光线进入;所述光学量测装置设置于所述下座内部且与所述透光孔相通,用以测量所述待测样品的光学参数;所述上座设置于所述下座上;所述光源产生装置设置于所述上座,所述光源产生装置具有一出光口,所述出光口对应所述透光孔,且所述光源产生装置受操控而可沿一弧线方向移动,使所述出光口的一出光轴线改变入射至所述透光孔的一入射角,借此可测量待测样品在不同入射角的光学参数。入射角的光学参数。入射角的光学参数。

【技术实现步骤摘要】
光学量测系统


[0001]本技术与光源量测系统有关;特别是指一种光源可沿弧线方向移动的量测系统。

技术介绍

[0002]光学量测技术在光学产业上已是极普遍的需求,例如镜片、透镜、镀膜元件等光学产品皆需要经过光学量测装置的检验,以确认当光线照射至这些光学产品上时的光学特性之变化,进而测量其光学产品的光学参数,例如穿透率、反射率、透光率及光谱数据等。
[0003]已知既有的光学量测系统大多具有一光源、一光学参数量测装置与一待测样品放置平台。光源用以产生光线往所述光学参数量测装置入射,待测样品放置平台供放置待测样品且位于所述光源与所述光学参数量测装置之间,由所述光学参数量测装置测量待测样品的光学参数。
[0004]已知的光学量测系统中,光源是以固定的入射角入射至所述光学参数量测装置,因此,面临需以不同入射角测量光学参数之需求时,例如测量待测样品的蓝移(blue shift)特性,必须多次调整待测样品相对于光源的角度,如此一来,不仅操作步骤繁琐,并且,每次调整待测样品的角度时,亦可能会产生角度的误差,使得则测量过程将会极为困难,在量测速度与效率上会产生延宕。
[0005]因上述缺陷之影响,光学量测系统于光源可动性与测量泛用性等面向仍有改进之必要。

技术实现思路

[0006]有鉴于此,本技术之目的在于提供一种光源可移动的光学量测系统,能够调整光线射入待测样品的入射角。
[0007]缘以达成上述目的,本技术提供一种光学量测系统,包括一下座、一光学量测装置、一上座与一光源产生装置,其中,所述下座供放置一待测样品,且顶部具有一透光孔;所述光学量测装置设置于所述下座内部,且与所述透光孔相通,所述光学量测装置用以测量所述待测样品的光学参数;所述上座设置于所述下座上;所述光源产生装置设置于所述上座内,所述光源产生装置具有一出光口,所述出光口对应所述透光孔,且所述光源产生装置受操控而可沿一弧线方向移动,使所述出光口的一出光轴线改变入射置所述透光孔的一入射角。
[0008]本技术之效果在于通过改善光源产生装置的设计使光源具有可动性,如此光源产生装置可沿一弧线方向移动,藉以改变入射角,借此提高了测量上的便捷度。
附图说明
[0009]图1为本技术一优选实施例之光学量测系统的立体图。
[0010]图2为上述优选实施例之光学量测系统另一方向立体图。
[0011]图3为上述光学量测系统的前视图。
[0012]图4为上述光学量测系统之局部分解图。
[0013]图5为上述光学量测系统之光源产生装置之立体图。
[0014]图6为上述光学量测系统之光源产生装置之分解图。
[0015]图7为上述光学量测系统之右侧视图。
[0016]图8为图7之8-8方向剖视图。
[0017]图9为图7之9-9方向剖视图。
[0018]图10为图7之10-10方向剖视图。
[0019]图11为待测样品之摆放示意图。
[0020]附图标记说明
[0021][本技术][0022]10:下座
[0023]10a:透光孔
[0024]10b:电源供应器
[0025]12:座体
[0026]122:顶板
[0027]124:前面板
[0028]122a:导引槽
[0029]14:开关
[0030]16:指示灯
[0031]18:承载板
[0032]182:放置区
[0033]184:穿孔
[0034]20:光学量测装置
[0035]22:积分球
[0036]24:光谱仪
[0037]26:控制电路板
[0038]30:上座
[0039]30a:容置空间
[0040]30b:结合部
[0041]32:前侧板
[0042]322:内侧面
[0043]324:外侧面
[0044]322a:弧形沟槽
[0045]322b:弧形槽孔
[0046]34:后侧板
[0047]342:内侧面
[0048]342a:弧形沟槽
[0049]342b:弧形孔
[0050]36:左侧板
[0051]38:右侧板
[0052]40:上侧板
[0053]42:操控件
[0054]422:螺杆
[0055]424:头部
[0056]44:定位插销
[0057]442:定位端
[0058]46:待测样品容置空间
[0059]462:封闭侧
[0060]464:第一开放侧
[0061]466:第二开放侧
[0062]468:第三开放侧
[0063]48:角度刻度标记
[0064]49:指示件
[0065]492:指标
[0066]50:光源产生装置
[0067]52:支架
[0068]522:第一夹板
[0069]522a:第一夹板外侧面
[0070]522b:定位孔
[0071]524:第二夹板
[0072]524a:第二夹板外侧面
[0073]524b:螺孔
[0074]526:连接柱
[0075]54:滚轮
[0076]56:光源机
[0077]562:出光口
[0078]562a出光轴线
[0079]L1:第一距离
[0080]L2:第二距离
[0081]P1:第一位置
[0082]P2:第二位置
[0083]S:待测样品
具体实施方式
[0084]为能更清楚地说明本技术,兹举一优选实施例并配合附图详细说明如后。请参图1至图11所示,为本技术一优选实施例之光学量测系统。
[0085]本实施例的光学量测系统包括一下座10、一光学量测装置20、一上座30及一光源
产生装置50。
[0086]所述下座10供放置一待测样品S,且所述下座10顶部具有一透光孔10a。本实施例中,所述下座10包括一座体12与一承载板18,所述座体由多片板体构成,所述多片板体包括一顶板122与一前面板124,所述顶板122具有一导引槽122a,所述导引槽122a中设有所述透光孔10a,所述透光孔10a供光线通过而进入所述下座10内部。所述承载板18可分离地设置于所述导引槽122a中,所述承载板18具有一放置区182供放置所述待测样品S,所述放置区182中设有一穿孔184,使用者可将所述承载板18在水平方向上在一第一位置P1与一第二位置P2之间推移(参照图10),所述承载板18位于所述第一位置P1时,所述穿孔184对应所述透光孔10a,所述承载板18移动至所述第二位置P2时远离所述透光孔10a。
[0087]所述前面板124位于所述顶板122的前侧且相本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学量测系统,其特征在于,包含:一下座,供放置一待测样品,所述下座顶部具有一透光孔;一光学量测装置,设置于所述下座内部且与所述透光孔相通,所述光学量测装置用以测量所述待测样品的光学参数;一上座,设置于所述下座上;一光源产生装置,设置于所述上座,所述光源产生装置具有一出光口,所述出光口对应所述透光孔,且所述光源产生装置受操控而可沿一弧线方向移动,使所述出光口的一出光轴线改变入射至所述透光孔的一入射角。2.如权利要求1所述的光学量测系统,其中,所述上座包括一第一侧板、一第二侧板与至少一个操控件,所述第一侧板与所述第二侧板之中的至少一个具有至少一个弧形孔,所述至少一个弧形孔供所述至少一个操控件穿过,且所述至少一个操控件具有相对的两端,一端连接所述光源产生装置,另一端突伸出所述上座外侧,以供使用者操控所述光源产生装置移动。3.如权利要求2所述的光学量测系统,其中,所述光源产生装置具有至少一个螺孔,所述至少一个操控件具有一头部及一螺杆段,所述螺杆段锁入所述螺孔;其中旋紧所述至少一个操控件时,所述头部抵于具有所述至少一个弧形孔的所述第一侧板或所述第二侧板,以固定所述光源产生装置的位置。4.如权利要求2所述的光学量测系统,其中,所述至少一个弧形孔的数量为两个,所述两个弧形孔对应同一曲率中心,且所述两个弧形孔中的一个位于另一个的外围;所述至少一个操控件的数量为两个,所述两个操控件分别穿过所述两个弧形孔。5.如权利要求1所述的光学量测系统,其中,所述上座包括一第一侧板与一第二侧板,所述第一侧板与所述第二侧板中的至少一个具有至少一个弧形沟槽;所述光源产生装置包括一支架及一光源机,所述支架上设有至少一个滑动件,所述至少一个滑动件伸入所述至少一个弧形沟槽且抵于所述至少一个弧形沟槽的槽壁,所述光源机设置于所述支架。6.如权利要求5所述的光学量测系统,其中,所述至少一个滑动件的数量为两个且伸入所述至少一个弧形沟槽。7.如权利要求5所述的光学量测系统,其中,至少一个滑动件的数量为多个;所述第一侧板及所述第二侧板分别具有相面对的一内侧面,且各所述内侧面凹入形成一个所述弧形沟槽;所述支...

【专利技术属性】
技术研发人员:郝祖德傅荔暄郑莹钦赖杰宏
申请(专利权)人:五铃光学股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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