一种EEPROM读写检测系统及其方法，所述检测系统包括：配置文档单元，其存储EEPROM的测试信息；输入单元，输入待检测的EEPROM的料号；写入测试模块，其包括第一搜索单元及写入单元，第一搜索单元查找配置文档单元存储的测试信息，写入单元将查找到的测试信息写入到EEPROM中；读取测试模块，其包括第二搜索单元及读取单元，第二搜索单元根查找写入到EEPROM中的测试信息，读取单元读取查找到的测试信息读取；显示单元，其显示读取单元读取到的测试信息；对比单元，其将读取到的测试信息与配置文档单存储的测试信息进行对比，得出一检测结果；存储单元，其将检测结果进行存储。本发明专利技术的EEPROM读写检测系统及其方法，不仅节省了检测时间，还提高了检测效率。还提高了检测效率。还提高了检测效率。
【技术实现步骤摘要】
EEPROM读写检测系统及其方法
[0001]本专利技术是关于一种检测装置及其方法，尤其是指一种EEPROM读写检测系统及其方法。
技术介绍
[0002]EEPROM(Electrically Erasable Programmable read only memory)是指带电可擦可编程只读存储器，其可通过高于普通电压的作用来擦除和重编程(重写)。不像EPROM芯片，EEPROM不需从计算机中取出即可修改，也即在计算机使用的时候可频繁地反复编程。
[0003]产线检测人员在对EEPROM进行读写性能测试步骤包括：首先，将待检测的项目信息一項一項地输入到EEPROM中，输入完成后退出；然后，再将写入的项目信息一项一项的读取出来；最后，人为判断读取出的项目信息是否符合要求。然而，由于上述检测步骤中需要人工手动输入项目信息，不仅花费大量时间，而且还容易输错信息的内容，造成检测错误。并且通过人为判断也容易造成误判，无法做到后续追踪。
[0004]有鉴于此，实有必要研发一种EEPROM读写检测系统及其方法，以实现快递高效地对EEPROM进行读写性能测试，以满足现阶段的检测需求。
技术实现思路
[0005]为达上述目的，本专利技术提供的EEPROM读写检测系统，用于对EEPROM进行读写性能检测，其包括：
[0006]配置文档单元，其存储EEPROM的测试信息；
[0007]输入单元，输入待检测的EEPROM的料号；
[0008]写入测试模块，其包括一第一搜索单元及一写入单元，所述第一搜索单元根据所述输入单元输入的料号查找所述配置文档单元存储的测试信息，所述写入单元将查找到的所述测试信息写入到EEPROM中；
[0009]读取测试模块，其包括一第二搜索单元及一读取单元，所述第二搜索单元根据所述输入单元输入的料号查找写入到EEPROM中的测试信息，所述读取单元将查找到的测试信息读取出来；
[0010]显示单元，其将所述读取单元读取到的测试信息进行显示；
[0011]对比单元，其将所述读取单元读取到的测试信息与所述配置文档单存储的测试信息进行对比，得出一检测结果；
[0012]存储单元，其将所述检测结果进行存储。
[0013]可选的，所述配置文档单元存储的测试信息包括EEPROM的料号、产品序列号、PCBA版本号、分位版本号、产品名称及生产日期。
[0014]可选的，所述输入单元为一条码枪，通过该条码枪扫描待检测的EEPROM的料号条形码，即可得出该EEPROM的料号。
[0015]可选的，所述检测结果检测合格时，所述显示单元显示“PASS”，所述检测结果检测
不合格时，所述显示单元显示“FAIL”。
[0016]可选的，所述检测结果包括EEPROM的料号、产品序列号、PCBA版本号、分位版本号、产品名称及生产日期。
[0017]可选的，所述存储单元将检测结果生成LOG档进行存储，所述LOG档以待检测的EEPROM的料号命名。
[0018]本专利技术还提供一种EEPROM读写检测方法，应用于上述EEPROM读写检测系统中，该方法包括以下步骤：
[0019](1)在配置文档单元存储EEPROM的测试信息；
[0020](2)在输入单元输入待检测的EEPROM的料号；
[0021](3)第一搜索单元根据输入的料号查找配置文档单元存储的测试信息；
[0022](4)写入单元将查找到的测试信息写入到待检测的EEPROM中；
[0023](5)再在输入单元输入待检测的EEPROM的料号；
[0024](6)第二搜索单元根据输入的料号查找写入到EEPROM中的测试信息；
[0025](7)读取单元将查找到的测试信息读取出来；
[0026](8)显示单元将读取到的测试信息进行显示；
[0027](9)对比单元将读取到的测试信息与所述配置文档单存储的测试信息进行对比，得出一检测结果；
[0028](10)存储单元将检测结果进行存储。
[0029]可选的，所述步骤(1)中配置文档单元存储EEPROM的测试信息包括EEPROM的料号、产品序列号、PCBA版本号、分位版本号、产品名称及生产日期。
[0030]可选的，所述步骤(9)中所述检测结果检测合格时，所述显示单元显示“PASS”，所述检测结果检测不合格时，所述显示单元显示“FAIL”。
[0031]可选的，所述步骤(10)中所述存储单元将检测结果生成LOG档进行存储，所述LOG档以待检测的EEPROM的料号命名。
[0032]相较于现有技术，利用本专利技术的EEPROM读写检测系统及其方法，通过先在配置文档单元中存储EEPROM的测试信息，再通过写入单元将查找到的测试信息写入到EEPROM中，即可判断出EEPROM的写入性能是否正常；然后，通过读取单元读取写入到EEPROM中的测试信息，再通过对比单元将读取到的测试信息与所述配置文档单存储的测试信息进行对比，即可判断出EEPROM的读取性能是否正常。本专利技术的EEPROM读写检测系统及其方法，不需要人工手动输入测试信息，不仅避免了误输造成检测错误的问题，节省了检测时间，还可以通过自动判断测试信息，提高了检测效率。并且，本专利技术还可以及存储检测结果，后续追踪检测结果时方便进行查询。
【附图说明】
[0033]图1绘示为本专利技术EEPROM读写检测系统的结构示意图。
[0034]图2绘示为本专利技术EEPROM读写检测方法的检测流程图。
【具体实施方式】
[0035]有关本专利技术的详细说明及
技术实现思路
，将配合图式说明如下，然而所附图式仅作为
说明用途，并非用于局限本创作。
[0036]请参考图1，图1绘示为本专利技术EEPROM读写检测系统的结构示意图。本专利技术提供的一种EEPROM读写检测系统100，用于对EEPROM进行读写性能检测，其包括：
[0037]配置文档单元110，其存储EEPROM的测试信息；
[0038]输入单元120，输入待检测的EEPROM的料号；
[0039]写入测试模块130，其包括一第一搜索单元131及一写入单元132，所述第一搜索单元131根据所述输入单元120输入的料号查找所述配置文档单元110存储的测试信息，所述写入单元132将查找到的所述测试信息写入到EEPROM中；
[0040]读取测试模块140，其包括一第二搜索单元141及一读取单元142，所述第二搜索单元141根据所述输入单元120输入的料号查找写入到EEPROM中的测试信息，所述读取单元142将查找到的测试信息读取出来；
[0041]显示单元150，其将所述读取单元142读取到的测试信息进行显示；
[0042]对比单元160，其将所述读取单元142读取到的测试信息与所述配置文档单存储的测试信息进行对比，得出一检测结果；
[0043]存储单元170，其将本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种EEPROM读写检测系统，其特征在于，包括：配置文档单元，其存储EEPROM的测试信息；输入单元，输入待检测的EEPROM的料号；写入测试模块，其包括一第一搜索单元及一写入单元，所述第一搜索单元根据所述输入单元输入的料号查找所述配置文档单元存储的测试信息，所述写入单元将查找到的所述测试信息写入到EEPROM中；读取测试模块，其包括一第二搜索单元及一读取单元，所述第二搜索单元根据所述输入单元输入的料号查找写入到EEPROM中的测试信息，所述读取单元将查找到的测试信息读取出来；显示单元，其将所述读取单元读取到的测试信息进行显示；对比单元，其将所述读取单元读取到的测试信息与所述配置文档单存储的测试信息进行对比，得出一检测结果；存储单元，其将所述检测结果进行存储。2.根据权利要求1所述的EEPROM读写检测系统，其特征在于，所述配置文档单元存储的测试信息包括EEPROM的料号、产品序列号、PCBA版本号、分位版本号、产品名称及生产日期。3.根据权利要求1所述的EEPROM读写检测系统，其特征在于，所述输入单元为一条码枪。4.根据权利要求1所述的EEPROM读写检测系统，其特征在于，所述检测结果检测合格时，所述显示单元显示“PASS”，所述检测结果检测不合格时，所述显示单元显示“FAIL”。5.根据权利要求1所述的EEPROM读写检测系统，其特征在于，所述检测结果包括EEPROM的料号、产品序列号、PCBA版本号、分位版本号、产品名称及生产日期。6.根据权利要求1所述的EEPROM读写检...
【专利技术属性】
技术研发人员：戴光胜，王丽云，
申请(专利权)人：神讯电脑昆山有限公司，
类型：发明
国别省市：
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