一种输入采集控制检测方法及输入采集控制检测电路技术

本申请提供一种输入采集控制检测方法及输入采集控制检测电路，该方法包括：检测输入光耦隔离电路的输出端输出的信号；当输入光耦隔离电路的输出端输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，向叠加电路输出检测控制信号，以使叠加电路基于检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号；当检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号变换为表示输入光耦隔离电路进行了光电转换的信号时，确定输入光耦隔离电路中的第一光耦未发生故障；当检测到输入光耦隔离电路的输出端保持输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，确定第一光耦发生故障。该方法可以提高光耦故障检测的准确性。该方法可以提高光耦故障检测的准确性。该方法可以提高光耦故障检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种输入采集控制检测方法及输入采集控制检测电路


[0001]本申请涉及汽车电子及工业控制
，尤其涉及一种输入采集控制检测方法及输入采集控制检测电路。

技术介绍

[0002]嵌入式系统通过DIO(Digit Input/Output，数字输入/输出端口)口获取与外界连接的端口状态信息，由于系统外部环境复杂，很容易将高压或负电压引入电路，导致系统非预期的情况发生，大大降低系统的可靠性，因此，可以采用电气隔离的方式检测外部信号状态的变化。常用的输入光耦隔离电路的示意图可以如图1所示。
[0003]目前，为了检测输入光耦隔离电路是否存在故障，可以采用图2所示的控制检测电路验证光耦(OC(opticalcoupler)1)是否发生故障。
[0004]在图2所示控制检测电路中，预先定义检测输入端(D1X)的安全态为低电平(逻辑表达为0)，系统不需要处理。当MCU(Microcontroller Unit，微控制单元)在检测到检测输出端(GP1X)输出高电平(逻辑表达为1)时，MCU控制控制端(GP2X_Control)输出高电平，以使OC2处于工作状态；此时，若D1X输入高电平，则当MCU检测到GP1X由输出高电平变化为输出低电平(即发生1
→
0的跳变)时，确定OC1和OC2正常；当MCU检测到GP1X保持输出高电平，则确定OC1或/和OC2故障。
[0005]然而实践发现，上述控制检测电路中，D1X输入低电平和OC1故障的状态耦合，即当MCU检测到GP1X输出高电平时，若D1X输入低电平(OC1处于关闭状态)，则无论OC1是否故障，GP1X均保持输出高电平，即无法检测出OC1是否存在故障。

技术实现思路

[0006]有鉴于此，本申请提供一种输入采集控制检测方法及输入采集控制检测电路。
[0007]具体地，本申请是通过如下技术方案实现的：
[0008]根据本申请实施例的第一方面，提供一种输入采集控制检测方法，包括：
[0009]检测输入光耦隔离电路的输出端输出的信号；
[0010]当所述输入光耦隔离电路的输出端输出表示所述输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，向叠加电路输出检测控制信号，以使所述叠加电路基于所述检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号；
[0011]当检测到所述输入光耦隔离电路的输出端输出的信号变换为表示所述输入光耦隔离电路进行了光电转换的信号时，确定所述输入光耦隔离电路中的第一光耦未发生故障；
[0012]当检测到所述输入光耦隔离电路的输出端保持输出表示所述输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，确定所述第一光耦发生故障。
[0013]根据本申请实施例的第二方面，提供一种输入采集控制检测电路，包括输入光耦隔离电路，所述输入光耦隔离电路的输出端与微控制单元相连，其特征在于，所述输入采集
控制检测电路还包括叠加电路，所述叠加电路的输入端与所述微控制单元的控制端相连；所述叠加电路的输出端连接到所述输入光耦隔离电路的输入端；
[0014]输入光耦隔离电路的输出端输出表示所述输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，所述微控制单元的控制端向叠加电路输出检测控制信号，所述叠加电路基于所述检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号。
[0015]本申请实施例的输入采集控制检测方法，通过在检测到输入光耦隔离电路的输出端输出第二信号时，向叠加电路输出检测控制信号，以使叠加电路基于检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号，并检测输入光耦隔离电路输出的信号是否发生变化；当检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号由第二信号变化为第一信号时，确定第一光耦未发生故障；当检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号保持为第二信号时，确定第一光耦发生故障，提高了光耦故障检测的准确性。
附图说明
[0016]图1是一种输入光耦隔离电路的结构示意图；
[0017]图2是一种控制检测电路的结构示意图；
[0018]图3是本申请一示例性实施例示出的一种输入采集控制检测方法的流程图；
[0019]图4是本申请一示例性实施例示出的一种输入采集控制检测方法的流程图；
[0020]图5是本申请一示例性实施例示出的一种输入采集控制检测方法的流程图；
[0021]图6是本申请一示例性实施例示出的一种输入采集控制检测电路的结构示意图；
[0022]图7A是本申请一示例性实施例示出的一种具体场景中的输入采集控制检测电路的结构示意图；
[0023]图7B是本申请又一示例性实施例示出的一种具体场景中的输入采集控制检测电路的结构示意图。
具体实施方式
[0024]这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。
[0025]在本申请使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。
[0026]为了使本领域技术人员更好地理解本申请实施例提供的技术方案，并使本申请实施例的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请实施例中技术方案作进一步详细的说明。
[0027]请参见图3，为本申请实施例提供的一种输入采集控制方法的流程示意图，如图3所示，该输入采集控制方法可以包括以下步骤：
[0028]需要说明的是，本专利技术实施例提供的输入采集控制方法可以应用于输入采集控制电路中的微处理单元(MCU)；其中，输入采集控制电路的结构可以在下文中进行说明。
[0029]步骤S300、检测输入光耦隔离电路的输出端输出的信号。。
[0030]本申请实施例中，MCU与输入光耦隔离电路的输出端相邻，并检测输入光耦隔离电路的输出端输出的信号。
[0031]为便于描述，下文中将输入光耦隔离电路进行了光电转换时输出的信号称为第一信号，即当输入光耦隔离电路中的光耦未发生故障，且导通时，输入光耦隔离电路的输出端输出第一信号；将输入光耦隔离电路未进行光电转换时输出的信号称为第二信号，即当输入光耦隔离电路中的光耦发生故障，或未发生故障，但未导通时，输入光耦隔离电路的输出端输出第二信号。
[0032]步骤S310、当输入光耦隔离电路的输出端输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，向叠加电路输出检测控制信号，以使叠加电路基于该检测信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号。
[0033]本申请实施例中的，考虑到输入光耦隔离电路输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号(即上述第二信号)可能是由于第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种输入采集控制检测方法，其特征在于，包括：检测输入光耦隔离电路的输出端输出的信号；当所述输入光耦隔离电路的输出端输出表示所述输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，向叠加电路输出检测控制信号，以使所述叠加电路基于所述检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号；当检测到所述输入光耦隔离电路的输出端输出的信号变换为表示所述输入光耦隔离电路进行了光电转换的信号时，确定所述输入光耦隔离电路中的第一光耦未发生故障；当检测到所述输入光耦隔离电路的输出端保持输出表示所述输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，确定所述第一光耦发生故障。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述叠加电路包括叠加电路包括隔离变换电路/芯片；所述隔离变换电路/芯片的输出端与所述输入光耦隔离电路中的第一光耦中的发光二极管的负极相连；所述向叠加电路输出检测控制信号，以使所述叠加电路基于所述检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号，包括：向所述隔离变换电路/芯片的输入端输出高电平，以使所述隔离变换电路/芯片基于所述高电平向输入光耦隔离电路输出负电平。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测输入光耦隔离电路的输入端与所述第一光耦中的发光二极管的正极之间部署有或门，所述检测输入光耦隔离电路的输入端与所述或门的一个输入端相连，所述或门的输出端与所述第一光耦中的发光二极管的正极相连；所述叠加电路包括第二光耦，所述第二光耦中的三极管的集电极与所述或门的另一输入端相连。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述向叠加电路输出检测控制信号，以使所述叠加电路基于所述检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号，包括：向所述第二光耦输...

【专利技术属性】
技术研发人员：江国平，
申请(专利权)人：杭州海康汽车技术有限公司，
类型：发明
国别省市：