层压偏振光膜的制造方法技术

本发明专利技术提供一种不产生实质的反向卷曲的层压偏振光膜的制造方法，具有在层压前将线偏振光分离膜的水分率调整在０．３～０．８重量％的水分率调整工序，将线偏振光膜和线偏振光分离膜层压而得到层压偏振光膜。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种在构成液晶显示面板的液晶单元的光源侧表面上粘接层压的。在图2中，示出了层压偏振光膜18的构成例。线偏振光膜20和线偏振光分离膜22通过粘接剂24粘接层压。在线偏振光膜20的另一面上，设置用于将层压偏振光膜粘接在液晶单元上的粘接剂层26和保护该粘接剂层26的剥离膜层28。另外，在线偏振光分离膜的对面上层压保护膜30。保护膜30在最后工序中剥离除去。具有所述构成的层压偏振光膜，经过由粘接剂层压线偏振光膜和线偏振光分离膜的工序而制造。(例如参照特开平11-271534号公报(段落 ～ )和特开2000-275436号公报(段落 。)但是，一旦放置通过上述工序得到的层压偏振光膜，作为在液晶单元上粘接侧的线偏振光膜侧(图2中A面侧)产生卷曲使成为凹状(以下称为“反向卷曲”)，该反向卷曲，发现当层压偏振光膜的一边在8cm以上、特别是在20cm以上时效果显著。该大的反向卷曲，在剥离剥离膜28并粘接在液晶单元10上时，便成为在粘接面上容易残留气泡并且在液晶面板上产生不良的原因。由此，人们期望层压偏振光膜，不产生实质的反向卷曲，不卷曲或者即使卷曲也是线偏振光膜侧成为凸状的卷曲(以下称为“正向卷曲”)。本专利技术专利技术人等，为了达到所述目的，进行了用于得到不产生实质的反向卷曲的层压偏振光膜的锐意研究，结果发现，将线偏振光分离膜的水分率调整在一定范围后，通过和线偏振光膜层压，从而得到不产生反向卷曲的层压偏振光膜并完成本专利技术。即，本专利技术是一种层压线偏振光膜和线偏振光分离膜的，其特征在于，具有在层压前将线偏振光膜的水分率调整在0.3～0.8重量％的水分率调整工序。根据本专利技术的方法，可以得到没有实质的反向卷曲的层压偏振光膜。这里所述的实质的反向卷曲，是指在液晶单元上粘接时使产生残留气泡等不良程度的反向卷曲，被容许若干的反向卷曲，其程度，在20英寸大小的层压偏振光膜中，以下述的卷曲量计为约1～2mm。反向卷曲量一旦为约3mm以上下，就会成为产生不良的原因，不优选。图2是表示层压偏振光膜的构成的剖视图。图3是在线偏振光分离膜上连续喷水雾进行加湿的装置的简图。图中10液晶单元，12粘接剂层，14线偏振光膜，18层压偏振光膜，20线偏振光膜，22线偏振光分离膜，24粘接剂层，26粘接剂层，28剥离膜，30保护膜，32薄膜传送辊筒，34薄膜卷绕辊筒，36喷雾装置。作为水分率的调整方法，优选使用边移动线偏振光分离膜边在薄膜上使水分以雾状进行喷雾的方法。卷绕附着水分的薄膜静置。薄膜优选以一定的速度连续进行移动。在改变水分量时，也可以改变薄膜的移动速度。线偏振光分离膜，通常以保护膜粘接的状态进行处理，此时优选在保护水分的薄膜上进行喷雾。水分率，一般通过在树脂或无机粉体的水分率测定中使用的测定方法进行测定。具体地说是对测定对象物进行加热除去水分，由加热前和加热后的重量差得出水分率。在上述专利技术中，所述线偏振光分离膜优选为聚酯薄膜。线偏振光分离膜，优选将聚酯作为主成分的薄膜，从其性能上来看，特别优选将聚萘二甲酸乙二酯或将以聚萘二甲酸乙二酯单元为主成分的共聚物为原料的薄膜，例如可以示例以商品名“DBEF”(住友3M公司)市售的薄膜。由这类聚酯构成的线偏振光分离膜，制造后，为了作为直接原反卷绕供给，原反薄膜的水分率，实际测量为0.1～0.2重量％，比其薄膜的饱和水分率(约0.8重量％)低，在和水分率高的线偏振光膜层压后，由于水分的移行，考虑更容易产生反向卷曲。另外，线偏振光分离膜，如上述，是具有透过与透过轴方向平行的光，并且反射在与透过轴垂直的反射轴方向平行的光的功能的薄膜，反射型偏振光膜，称为非吸收型偏振光膜，或者由于再利用反射后的光而提高亮度，所以也称为亮度提高薄膜。另一方面，与此相对，线偏振光膜，是具有透过在透过轴方向上平行的光并吸收在与透过轴垂直的吸收轴方向上平行的光的功能的薄膜，也称为吸收型偏振光膜。线偏振光膜，可以使用公知的线偏振光膜。线偏振光膜，通常以三乙酰基纤维素(TAC)为主材料构成，作为优选的构成，可以示例出TAC薄膜和聚乙烯醇类薄膜之间的层压薄膜，具体地说具有TAC薄膜/聚乙烯醇类薄膜/TAC薄膜的至少三层构成的薄膜。构成这些线偏振光膜的树脂材料，都是极性高并且饱和水分率高的材料。作为一般使用的上述多层结构的线偏振光膜，为抑制自身的卷曲，可以将水分率调整的比较高例如为2.5重量％左右。由此，可以考虑例如通过和干燥状态的聚酯类线偏振光分离膜的层压，水分由线偏振光膜向线偏振光分离膜侧移行并产生卷曲。通过设置调整线偏振光分离膜的水分率的水分率调整工序，得到的层压偏振光膜不容易产生反向卷曲的理由不是很清楚，但是可以推定抑制由于水分由水分率高的线偏振光膜向水分率低的线偏振光分离膜移行而引起的各薄膜的尺寸变化，是其中一个很大的原因。通常，在线偏振光分离膜的一面上层压由聚萘二甲酸乙二酯等构成的保护膜。线偏振光膜，在与层压该保护膜的面呈相反的面上层压。保护膜在液晶单元上粘接后剥离除去。实施例以下对具体表示本专利技术的构成和效果的实施例等进行说明。另外，卷曲量，在将线偏振光膜侧向下置于平板上时，可以作为层压偏振光膜的四个顶点的从平板上的高度的平均值求得。正的表示正向卷曲，负的表示反向卷曲。实施例1准备5片将厚度为132μm的聚萘二甲酸乙二酯制的线偏振光分离膜“DBEF”(住友3M公司制，一面层压聚对苯二甲酸乙二酯的保护膜，水分率约为0.2重量％)切断为308mm×235mm的薄膜，分别在相对湿度80％、温度20℃的环境下放置24小时。放置后的水分率为0.62重量％(水分率，剥离保护膜后测定)。将该线偏振光分离膜立即装入防湿袋中密封，两小时后取出，在没有层压保护膜的面上层压线偏振光膜，从而得到层压偏振光膜。在层压中使用粘接滚桶。使用的线偏振光膜，水分率约为2.5重量％，具有TAC薄膜/聚乙烯醇类薄膜/TAC薄膜(80μm/25μm/80μm)的三层结构，并且具有25μm的丙烯类压敏型粘接剂层。将所得的层压偏振光膜装入防湿袋中密封，在20℃经过表1所示的时间后取出测定卷曲量。卷曲量的测定结果如表1所示。实施例2将线偏振光分离膜“DBEF”在相对湿度64％、温度22℃的环境下放置24小时。放置后的水分率为0.50重量％(水分率，剥离保护膜后测定)。除使用该直线分离膜以外，其余的与实施例1完全相同，制作层压偏振光膜。将所得的层压偏振光膜装入防湿袋中密封，在20℃经过表1所示的时间后取出测定卷曲量。卷曲量的测定结果如表1所示。比较例1准备5片将厚度为132μm的聚萘二甲酸乙二酯制的线偏振光分离膜“DBEF”(水分率为0.17重量％)切断为308mm×235mm的薄膜，分别在相对湿度24％、温度22℃的环境下放置24小时，结果，水分率依然为0.17重量％(水分率，剥离保护膜后测定)。除作为线偏振光分离膜使用所述水分率为0.17重量％的薄膜外，其余的与实施例1完全相同，制作层压偏振光膜。将所得的层压偏振光膜装入防湿袋中密封，在20℃经过表1所示的时间后取出测定卷曲量。卷曲量的测定结果如表1所示。表1 表1的结果表明，在将线偏振光分离膜加湿病进行水分率调整后和线偏振光膜层压后的本专利技术的层压偏振光膜，均产生正的卷曲，为在和本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种层压偏振光膜的制造方法，是将线偏振光膜和线偏振光分离膜层压而得到层压偏振光膜的方法，其特征在于，在线偏振光膜和线偏振光分离膜层压工序前具有将线偏振光膜的水分率调整在０．３～０．８重量％的水分调整工序。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：富永俊彦，松本大辅，
申请(专利权)人：住友化学工业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]