本发明专利技术公开了一种USB装置测试系统和方法及SATA装置测试系统和方法。所述USB装置测试系统包括：测试主机、电源装置以及多个USB HUB；多个USB HUB分别连接至测试主机的多个USB接口，每个USB HUB具有多个扩展USB接口以连接多个待测USB装置；电源装置，用于为多个USB HUB分别提供电源接口；测试主机，用于控制电源装置依次将每个USB HUB接通电源，以及，对已接通电源的当前USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作。本发明专利技术的USB装置测试系统，可以对很多个待测USB装置分批次自动进行开卡、测试等操作，整个过程不需要频繁插拔待测USB装置，也不需要使用机械手。也不需要使用机械手。也不需要使用机械手。
【技术实现步骤摘要】
USB装置测试系统和方法及SATA装置测试系统和方法
[0001]本专利技术涉及计算机
，具体涉及一种USB装置测试系统和方法及SATA装置测试系统和方法。
技术介绍
[0002]基于USB（Universal Serial Bus，通用串行总线）接口或SATA（Serial ATA，串行ATA）接口的存储装置，例如U盘，硬件被制作出来以后，还需要进行开卡，即写入初始的引导程序，然后才能被使用。开卡后的U盘还需要进行测试，以便检出有问题的U盘。
[0003]现有技术中，采用计算机设备对插入其USB接口的U盘进行开卡、测试等操作。然而，计算机设备的USB接口数量有限，因此进行开卡、测试等操作时，需要以人工方式不断的拔下操作完成的U盘，再插上新的U盘，整个过程繁琐且容易出错。
[0004]于是，现有技术中出现了机械手装置，利用机械手来插拔U盘，以代替人工。但机械手装置成本较高。
技术实现思路
[0005]本专利技术的主要目的在于提供一种USB装置测试系统和，以解决USB装置的测试等过程中需要频繁插拔的技术问题。本专利技术的目的还在于提供一种SATA装置测试系统和方法，以解决SATA装置的测试等过程中需要频繁插拔的技术问题。
[0006]为实现上述专利技术目的，本专利技术第一方面提供一种USB装置测试系统，该系统包括：测试主机、电源装置以及多个USB HUB；所述多个USB HUB分别连接至所述测试主机的多个USB接口，每个所述USB HUB具有多个扩展USB接口以连接多个待测USB装置；所述电源装置，用于为所述多个USB HUB分别提供电源接口；所述测试主机，用于控制所述电源装置依次将每个USB HUB接通电源，以及，对已接通电源的当前USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作。
[0007]其中，所述多个USB HUB可以全部直接连接于所述测试主机的各个USB接口。或者，所述多个USB HUB也可以采用级联方式连接，例如采用两级级联，则包括：直接连接于所述测试主机的USB接口的一级USB HUB，以及连接于所述一级USB HUB的扩展USB接口的二级USB HUB；必要时，也可以采用三级或者更多级的级联方式。
[0008]一种可能的实现方式中，所述电源装置为电源时序控制器，所述待测USB装置为基于USB接口的存储装置，例如U盘或者连接有SD卡的读卡器等。
[0009]一种可能的实现方式中，每个所述USB HUB具有不少于16个扩展USB接口。
[0010]该系统将多个USB HUB连接到计算机设备，并利用电源装置对多个USB HUB进行切换控制，利用USB HUB扩展出的接口可以一次性连接非常多数量的待测USB装置，利用电源装置可以将多个USB HUB依次接通电源，于是，可以对连接的很多个待测USB装置分批次自动进行开卡、测试等操作，整个过程不需要频繁插拔待测USB装置，也不需要使用机械手。
[0011]本专利技术第二方面，提供一种USB装置测试方法，用于如第一方面所述的USB装置测
试系统，所述方法包括：测试主机发送通电指令给电源装置，以控制电源装置将多个USB HUB中的第一USB HUB接通电源；测试主机对所述第一USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作；测试完成后，测试主机发送断电指令给电源装置，以控制所述电源装置将所述第一USB HUB断开电源，以及，发送通电指令给电源装置，以控制所述电源装置将多个USB HUB中的第二USB HUB接通电源。
[0012]一种可能的实现方式中，测试主机对所述第一USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作，包括：对待测USB装置进行开卡和测试操作，所述待测USB装置为基于USB接口的存储装置，例如U盘或者连接有SD卡的读卡器等。
[0013]本专利技术第三方面，提供一种SATA装置测试系统，包括：测试主机、电源装置以及多个SATA HUB；所述多个SATA HUB分别连接至所述测试主机的多个SATA接口，每个所述SATA HUB具有多个扩展SATA接口以连接多个待测SATA装置；所述电源装置，用于为所述多个SATA HUB分别提供电源接口；所述测试主机，用于控制所述电源装置依次将每个SATA HUB接通电源，以及，对已接通电源的当前SATA HUB所连接的多个待测SATA装置进行操作。
[0014]一种可能的实现方式中，所述多个SATA HUB包括：直接连接于所述测试主机的SATA接口的一级SATA HUB，以及连接于所述一级SATA HUB的扩展SATA接口的二级SATA HUB。
[0015]一种可能的实现方式中，所述电源装置为电源时序控制器，所述待测SATA装置为基于SATA接口的存储装置。
[0016]该系统将多个SATA HUB连接到计算机设备，并利用电源装置对多个SATA HUB进行切换控制，利用SATA HUB扩展出的接口可以一次性连接非常多数量的待测SATA装置，利用电源装置可以将多个SATA HUB依次接通电源，于是，可以对连接的很多个待测SATA装置分批次自动进行开卡、测试等操作，整个过程不需要频繁插拔待测SATA装置，也不需要使用机械手。
[0017]本专利技术第四方面，提供一种SATA装置测试方法，用于如第三方面所述的SATA装置测试系统，所述方法包括：测试主机发送通电指令给电源装置，以控制电源装置将多个SATA HUB中的第一SATA HUB接通电源；测试主机对所述第一SATA HUB所连接的多个待测SATA装置进行操作；测试完成后，测试主机发送断电指令给电源装置，以控制所述电源装置将所述第一SATA HUB断开电源，以及，发送通电指令给电源装置，以控制所述电源装置将多个SATA HUB中的第二SATA HUB接通电源。
[0018]一种可能的实现方式中，测试主机对所述第一SATA HUB所连接的多个待测SATA装置进行操作，包括：对待测SATA装置进行开卡和测试操作，所述待测SATA装置为基于SATA接口的存储装置。
[0019]从以上技术方案可以看出，本专利技术实施例具有以下优点：本专利技术通过将多个HUB（如USB HUB或SATA HUB）连接到计算机设备，并利用电源装置对多个HUB进行切换控制，利用HUB扩展出的接口（如扩展USB接口或扩展SATA接口）可以一次性连接非常多数量的待测装置（如待测USB装置或待测SATA装置），利用电源装置可以将多个HUB依次接通电源，于是，可以对连接的很多个待测装置分批次自动进行开卡、测试等操作，整个过程不需要频繁插拔待测装置，也不需要使用机械手。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本专利技术实施例技术方案，下面将对实施例和现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0021]图1是本专利技术一个实施例提供的一种USB装置测试系统的结构示本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种USB装置测试系统，其特征在于，包括：测试主机、电源装置以及多个USB HUB；所述多个USB HUB分别连接至所述测试主机的多个USB接口，每个所述USB HUB具有多个扩展USB接口以连接多个待测USB装置；所述电源装置，用于为所述多个USB HUB分别提供电源接口；所述测试主机，用于控制所述电源装置依次将每个USB HUB接通电源，以及，对已接通电源的当前USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述多个USB HUB包括：直接连接于所述测试主机的USB接口的一级USB HUB，以及连接于所述一级USB HUB的扩展USB接口的二级USB HUB。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述电源装置为电源时序控制器，所述待测USB装置为基于USB接口的存储装置。4.一种USB装置测试方法，用于如权利要求1所述的USB装置测试系统，其特征在于，所述方法包括：测试主机发送通电指令给电源装置，以控制电源装置将多个USB HUB中的第一USB HUB接通电源；测试主机对所述第一USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作；测试完成后，测试主机发送断电指令给电源装置，以控制所述电源装置将所述第一USB HUB断开电源，以及，发送通电指令给电源装置，以控制所述电源装置将多个USB HUB中的第二USB HUB接通电源。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，测试主机对所述第一USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作，包括：对待测USB装置进行开卡和测试操作，所述待测USB装置为基于USB接口的存储装置。6.一种SATA装置测试系统，其特征在于，包括：...
【专利技术属性】
技术研发人员：林寅，吴大畏，李晓强，
申请(专利权)人：深圳市硅格半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。