用于制造光电光调制器的方法技术

技术编号:2709918 阅读:165 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
在光电光调制器中,将例如聚合物分散液晶、或PDLC的光电传感材料直接涂覆在光学玻璃基底上,光学玻璃基底在其表面具有透明电极(例如铟锡氧化物(ITO))、以及可选择的钝化覆层(例如SiO↓[2])。聚合物粘合剂薄层覆盖在PDLC层的顶部,并且接着优选地通过真空辅助将这两个覆层与聚合物薄膜(例如Mylar↑[TM])上的介质镜层合在一起。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】相关申请的交叉引用不适用关于在联邦政府赞助的研究或开发中做出的专利技术的权利声明不适用″序列单″、表格、或递交的磁盘上的计算机程序清单附录的参考不适用
技术介绍
本专利技术涉及在光电应用中使用的光电传感器材料覆层。本专利技术尤其涉及在玻璃基底上直接进行的PDLC(polymer dispersed liquidcrystal;聚合物分散液晶)涂覆工艺。电压成像技术可被用来检测和测量平板薄膜晶体管(TFT)阵列中存在的缺陷。根据这种测量技术,阵列的性能被仿真为该阵列就像是被组装到TFT单元一样,然后通过使用基于光电(EO)光调制器的检测器间接地测量平板中的实际电压分布(或通过所谓的电压成像)来测量TFT阵列的特征。电压成像系统以其最基本的形式包括光电调制器、物体成像镜、电荷耦合器件(CCD)摄像机或其他合适或相似的传感器、以及图像处理器。EO调制器的光电传感器基于聚合物基体(聚合物分散液晶,或PDLC)膜中的向列液晶滴的光散射特性。在操作过程当中,EO调制器被设置在薄膜晶体管(TFT)阵列表面上方约5-30微米处,并且对EO调制器表面上的铟锡氧化物(ITO)层的透明电极施加偏置电压。因此,EO调制器与TFT阵列电容性地耦合,从而使得PDLC层感测到与TFT阵列关联的电场。通过PDLC中的液晶(LC)材料中电场强度的任何变化,使通过PDLC层传输的入射光的强度变化,即,被调制。接着,这些光从介质镜散射,并被CCD摄像机或类似的传感器收集。可以提供入射辐射光源(例如可以为红外或可见光)对TFT阵列的夹层结构、PDLC薄膜和介质镜进行照射。用来制造EO调制器的公知方法是使用商业的NCAP(nematiccurvilinear aligned phase;曲线定向向列相)材料,它是适于制造超大面积的光阀和显示器的一种形式的PDLC。NCAP器件由分散在聚合物薄膜(例如位于两个ITO聚脂薄膜层之间的夹层内)中并由其围绕的微米级大小的液晶滴形成。转让给光子动力学公司的两项专利技术描述了上述处理“调制器转移工艺和组装”,迈克尔A·布赖恩,美国专利6,151,153(2000)。“调制器制造工艺和器件”,迈克尔A·布赖恩,美国专利6,211,991B1(2001)。公知的调制器制造工艺包括在玻璃基底上层合(lamination)夹层的NCAP材料、修整侧面以及从玻璃的侧面到底部的ITO层进行电连接。传统的层合处理所具有的局限性在于表面平整度的不一致性、机械不稳定性以及极低的制造率。层合操作需要复杂的组装处理,所述组装处理降低了产率,并使得最后制成的EO调制器器件的成本较高。测试者的成本导致了测试成本,这最终间接地反映在最终产品的成本中。需要一种结构和技术消除NCAP薄膜层合和相关处理。
技术实现思路
根据本专利技术,在光电光调制器中,聚合物分散液晶(PDLC)制剂(formulation)被直接涂覆在光学玻璃基底上,光学玻璃基底在其表面上具有透明电极层(例如铟锡氧化物(ITO)),以及钝化层(例如SiO2)。接着,将聚合物粘合剂薄层涂覆在PDLC层的顶部,并且接着将这两个覆层与聚合物薄膜(例如MylarTM)上的介质镜层合在一起。利用低度真空可增进这种处理。本专利技术去除了将NCAP薄膜层合到基底上的复杂工艺,并提供了一种简化的工艺来制造具有更为优良的表面平整度、表面平滑度、机械稳定性和提高的灵敏度的调制器。通过直接控制液晶的组分、分布和厚度,可以极大地降低制造成本并简化制造过程。通过参照结合附图对本专利技术进行的以下详细描述,本专利技术将更加容易理解。附图简要说明附图说明图1是根据本专利技术制造的设备的示意性剖面图;图2是本专利技术实施方案的流程图;图3是可用来将介质镜层合到PDLC层上的真空腔的示意性剖面图。本专利技术的详细描述参照图1,在图中显示了根据本专利技术制造的EO调制器的光电(EO)传感器10。聚酯薄膜层1(其典型地为MylarTM薄膜)为介质镜2提供基底支持。基底/镜组合通过粘合薄膜层3结合到光电传感材料层,具体地说,结合到聚合物分散液晶(PDLC)层4的覆层。PDLC 4直接涂覆在可选的二氧化硅层5上。还具有透明电极材料层,例如直接结合到光学玻璃基底7上的铟锡氧化物(ITO 6),光学玻璃基底7可以例如是一块BK-7型的光学玻璃。该玻璃基底或块7是光学平坦的,并在与PDLC 4的表面相对的、光学平滑的表面上具有抗反射覆层8。参照图2,图2示出了根据本专利技术的EO传感器10的制造工艺。预处理步骤是准备光学玻璃基底7,例如BK-7玻璃块,并且可用抗反射层8对其进行预涂覆(步骤A)。1)光学玻璃基底上的电极涂覆作为制造工艺中的第一个步骤,将电极覆层施加到玻璃基底7的光学表面(步骤B)。在这一应用中可使用任何在所感兴趣的波长处透明的传导覆层。铟锡氧化物(ITO)是公知的和优选的。可选地,作为步骤B的一部分,可以将二氧化硅(SiO2)层4涂覆在传导覆层6的顶部,从而提高了其耐用性、表面润湿性和与传感材料4的粘结性。电极覆层覆盖了顶部表面、两个相对的边缘和侧表面,以用于电极连接。2)传感材料涂覆接下来,将传感材料4施加到电极6(以及可选的二氧化硅层7)的上方(步骤C)。可以使用任意具有光电响应的材料。然而,优选的材料包括聚合物分散液晶(PDLC),PDLC为凝胶状的,但潜在地为挥发性液体。公知的合适材料指定为i)TL-205/AU1033;ii)TL-205/PMMA;ii)E7/聚乙烯(甲基丙烯酸甲酯)(PMMA);以及iv)E7/AU-1033。在制造过程中,可以使用如下的涂覆工艺刮胶板(doctor blade)、拉丝锭(wired bar)、狭缝模具式(slot die)、旋转和弯液面(meniscus)。基于旋转涂覆的工艺是优选的。3)边缘清理在此之后,根据涂覆的方法,可能需要清理边缘(步骤D)。优选地使用塑胶“刀”(例如MylarTM板,未示出)将边缘清除,而不会损坏所述边缘上的ITO覆层。4)粘合涂覆在此之后,将粘合薄膜3施加到叠层中(步骤E)。必须使用水基的粘合剂覆盖传感材料4的顶部,以防止传感材料的表面受到损害。这种材料包括聚亚安酯分散体(例如,由位于马萨诸塞的成尔明顿的Neoresins制造的商标为Neorez的R-967)、丙烯酸脂分散体以及水生环氧树脂类。这些粘合剂必须是水基的,并且可以包含例如硅土分散体或其他低折射率的绝缘纳米颗粒(在本文的范围内,它们不会发生化学反应)。5)介质镜(“薄膜(pellicle)”)层合最后,在薄聚酯膜1(例如,7微米厚的MylarTM)上实现的电介质叠层2通过层合处理被施加到粘合层3的顶部(步骤F)。辅助的真空层合处理是优选的,如下所述。可将尺寸加大的薄膜1、2(图1)的侧面向下弯曲,并缚在或者以其他方式固定在基底7上,以形成传感器板,电极端可以被连接到所述侧面上的ITO层。参照图3,在图中示出了合适的真空腔12,用来在层合处理中使用。这些层的高度被夸大地示出。工件或EO传感器10包括具有ITO层6的玻璃块7、二氧化硅层5、PDLC层4和粘合层3,并包含在内腔13中。内腔13的范围由定位设备101限定出,并且其与真空源20连通。覆盖有电介质的聚合物薄膜9的薄膜9安装在O型环框架24上,并且将薄膜9与本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种用于制造光电传感器的方法,所述方法包括:提供玻璃基底,所述基底包括光学平滑的顶面和光学平滑的底面;用透明电极覆盖所述玻璃基底的顶面;在所述透明电极上施加光电传感材料合成物层;在所述光电传感材料层的所述层上 施加薄的粘合层;以及将作为介质镜层支撑膜的薄膜层合到所述粘合层,从而使所述介质镜层基本上光学平滑地抵靠所述光电传感材料。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈仙海大卫鲍尔温亚历山大纳吉
申请(专利权)人:光子动力学公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

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