对信号劣化的若干贡献者进行自动测量的测量系统和方法技术方案

本发明专利技术涉及对信号劣化的若干贡献者进行自动测量的测量系统和方法。所述测量系统包括被测设备、信号分析器以及控制器。在这种情况下，所述控制器包括用于所述被测设备和/或所述信号分析器的至少一个命令序列。除此之外，所述至少一个命令序列中的每个命令序列都包括相应的命令以针对信号劣化的特定原因进行补偿。补偿。补偿。

【技术实现步骤摘要】
对信号劣化的若干贡献者进行自动测量的测量系统和方法


[0001]本专利技术涉及一种用于对信号劣化的若干贡献者进行自动测量的测量系统及相应的测量方法。

技术介绍

[0002]通常，在提供通信能力的应用程序数量不断增加的时代，对于如下的需求不断增长：针对包括这种应用程序的被测设备执行对信号劣化的若干贡献者的自动测量的测量系统及相应的测量方法，以便以高精度和有效的方式验证所述应用程序的正确功能。
[0003]从US 2019/0064236A1中已知一种使用多音调测试信号来测量非线性失真的方法。
[0004]在这种测试环境下，相应地借助共同的测量设备或测量系统，只能测量一个误差矢量幅度(Error Vector Magnitude，EVM)值，该误差矢量幅度值描述了相应的信号劣化。除此之外，还需要注意的是，这种劣化有多种原因，诸如噪声、非线性、频率响应/内存效应、频率偏移、I/Q不平衡、I/Q偏移、相位漂移、振幅下降或其任何组合。不利地，由于单个误差矢量幅度值，因此只能获得所有影响的总和。因此，另一个缺点是，不能基于所述共同的测量结果有效地改进相应的被测设备。

技术实现思路

[0005]因此，目的是提供一种用于对信号劣化的若干贡献者进行自动测量的测量系统及相应的测量方法，从而确保高精度和高效率。此外，作为另一优势，相应的影响或贡献者可以分别被自动地分离并可选地被显示。换言之，对于信号劣化的各个独立原因，可以自动地识别并量化。因此，用户可以一目了然地看出哪些影响导致了测量的误差矢量幅度，而不仅仅是所有影响的总和。这使得用户更容易确定哪些措施将有望带来最大的益处以改进被测设备。
[0006]根据本专利技术的第一方面，提供了一种用于对信号劣化的若干贡献者进行自动测量的测量系统。所述测量系统包括被测设备、信号分析器以及控制器。在这种情况下，所述控制器包括用于所述被测设备和/或所述信号分析器的至少一个命令序列。除此之外，所述至少一个命令序列中的每个命令序列都包括相应的命令以针对信号劣化的特定原因进行补偿。有利地，不仅可以确保高精度，而且可以确保高效率。进一步有利地，对于信号劣化的各个独立原因可以借助于所述测量系统自动识别并量化。
[0007]根据本专利技术的第一方面的第一优选实现形式，所述测量系统还包括信号发生器，其中，所述控制器包括用于所述被测设备和/或所述信号分析器和/或所述信号发生器的至少一个命令序列。有利地，例如，可以进一步提高测量精度和效率。
[0008]根据本专利技术的第一方面的第二优选实现形式，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为通过运行针对不同补偿组合的若干命令序列以获得补偿的测量(compensated measurement)来消除来自所述被测设备的信号劣化的特定原因。有利地，例
如，不仅可以进一步提高测量效率，而且可以进一步提高测量精度。
[0009]根据本专利技术的第一方面的另一优选实现形式，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为提供显示相应的不同信号劣化原因的贡献者的报告。有利地，例如，可以有效地显示测量结果。
[0010]根据本专利技术的第一方面的另一优选实现形式，所述信号分析器包括所述控制器。有利地，例如，可以降低复杂度，从而提高了效率。
[0011]根据本专利技术的第一方面的另一优选实现形式，所述测量系统还包括个人计算机，其中，所述个人计算机包括所述控制器。有利地，例如，可以提高简单性，从而提高了效率。
[0012]根据本专利技术的第一方面的另一优选实现形式，所述若干贡献者中的至少两个贡献者彼此依赖。有利地，例如，可以进一步提高测量精度。
[0013]根据本专利技术的第一方面的另一优选实现形式，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为执行所述若干贡献者中的至少一部分贡献者的各个排列。有利地，例如，可以进一步减少测量误差的发生。
[0014]根据本专利技术的第一方面的另一优选实现形式，优选地关于所述信号分析器，所述若干贡献者包括启用的均衡器、禁用的均衡器、启用的预失真、禁用的预失真、启用的数字预失真、禁用的数字预失真中的至少一者或其任意组合。有利地，例如，可以进一步提高测量效率和测量精度两者。
[0015]根据本专利技术的第一方面的另一优选实现形式，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为获得具有补偿的非线性(compensated non-linearities)的不同频率响应贡献者，特别是通过执行所述若干贡献者中的至少一部分贡献者的各个排列获得。有利地，例如，不仅可以进一步提高测量精度，而且可以进一步提高测量效率。
[0016]根据本专利技术的第一方面的另一优选实现形式，所述具有补偿的非线性的不同频率响应贡献者受到不期望的线性效应的不同影响。有利地，例如，可以进一步降低不准确性。
[0017]根据本专利技术的第一方面的另一优选实现形式，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为通过在所述信号分析器上创建若干测量和I/Q求平均(I/Q averaging)的命令序列来分析噪声贡献者。有利地，例如，可以进一步提高测量精度。
[0018]根据本专利技术的第一方面的另一优选实现形式，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为利用将理想信号与相应的测量信号进行比较的命令序列来补偿不期望的线性效应。有利地，所述理想信号可以由测量系统、优选地由测量系统的控制器来仿真。进一步有利地，不需要额外的部件，从而降低了成本并提高了效率。
[0019]根据本专利技术的第一方面的另一优选实现形式，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为通过创建相应的均衡值来补偿不期望的线性效应。有利地，例如，可以进一步提高测量精度和测量效率。
[0020]根据本专利技术的第一方面的另一优选实现形式，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为利用包括预失真、特别是数字预失真的命令序列来补偿不期望的线性效应。有利地，例如，不仅可以提高精度，而且可以提高效率。
[0021]根据本专利技术的第一方面的另一优选实现形式，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为基于相应的测量数据，利用使用建模技术、特别是多项式建模技术的命令序列来补偿不期望的线性效应。有利地，例如，可以进一步提高测量精度，从而也
提高了测量效率。
[0022]根据本专利技术的第一方面的另一优选实现形式，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为借助于饼图来示出各个比例。有利地，所述示出可以借助于显示器以高效的方式执行。
[0023]根据本专利技术的第一方面的另一优选实现形式，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为借助于排列表显示各个比例，以便示出所述贡献者中的相应依赖性。有利地，例如，用户可以一目了然地看出哪些影响导致了测量的误差矢量幅度，而不仅仅是所有影响的总和。
[0024]根据本专利技术的第一方面的另一优选实现形式，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于对信号劣化的若干贡献者进行自动测量的测量系统，所述测量系统包括：被测设备；信号分析器；以及控制器；其中，所述控制器包括用于所述被测设备和/或所述信号分析器的至少一个命令序列；以及其中，所述至少一个命令序列中的每个命令序列都包括相应的命令以针对信号劣化的特定原因进行补偿。2.根据权利要求1所述的测量系统，其中，所述测量系统还包括信号发生器；其中，所述控制器包括用于所述被测设备和/或所述信号分析器和/或所述信号发生器的至少一个命令序列。3.根据权利要求1所述的测量系统，其中，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为通过运行针对不同补偿组合的若干命令序列以获得补偿的测量来消除来自所述被测设备的信号劣化的特定原因。4.根据权利要求1所述的测量系统，其中，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为提供显示信号劣化的相应的不同原因的贡献者的报告。5.根据权利要求1所述的测量系统，其中，所述信号分析器包括所述控制器。6.根据权利要求1所述的测量系统，其中，所述测量系统还包括个人计算机，其中，所述个人计算机包括所述控制器。7.根据权利要求1所述的测量系统，其中，所述若干贡献者中的至少两个贡献者彼此依赖。8.根据权利要求1所述的测量系统，其中，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为执行所述若干贡献者中的至少一部分贡献者的各个排列。9.根据权利要求1所述的测量系统，其中，优选地关于所述信号分析器，所述若干贡献者包括启用的均衡器、禁用的均衡器、启用的预失真、禁用的预失真、启用的数字预失真、禁用的数字预失真中的至少一者或其任意组合。10.根据权利要求1所述的测量系统，其中，所述测量系统、优选地所述测量系统的所述控制器被配置为特别是通过执行所述若干贡献者中的至少一部分贡献者的各个排列来获得具有补偿的非线性的不同频率响应贡献者。11.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：马蒂亚斯，
申请(专利权)人：罗德施瓦兹两合股份有限公司，
类型：发明
国别省市：