检测装置及检测方法制造方法及图纸

本申请公开了一种检测方法和检测装置，能够获得待检测装置表面上采样区域中多个采样点的空间位置参数，可以基于少两个采样点的所述空间位置参数，确定所述采样区域的平面参数，其中，所述平面参数包括：能够表征所述采样区域高度差的第一参数和能够表征所述采样区域坡度变化程度的第二参数。本申请技术方案可以用于确定折叠屏折叠部分的高度差和坡度变化程度。

【技术实现步骤摘要】
检测装置及检测方法
本申请装置表面平整度检测
，更具体的说，涉及一种检测装置及检测方法。
技术介绍
装置表面高度差和坡度变化程度能够表征装置表面平整程度的平面参数，所述平面参数是表征装置性能的一个重要参数。在柔性显示屏领域，由于柔性显示屏经过多次弯曲形变后，其弯折区域存在不能展平的高低起伏区域，平整度较差，柔性显示屏的平面参数不仅影响图像显示效果，还影响用户触摸感受和视觉感受。
技术实现思路
有鉴于此，本申请提供了一种检测方法和检测装置，方案如下：一种检测方法，包括：获得待检测装置表面上的采样区域中多个采样点的空间位置参数；基于至少两个采样点的所述空间位置参数，确定所述采样区域的平面参数；其中，所述平面参数包括：能够表征所述采样区域高度差的第一参数和能够表征所述采样区域坡度变化程度的第二参数。优选的，在上述检测方法中，所述待检测装置为显示装置，所述显示装置包括第一部分，第二部分和第三部分，至少所述第三部分具有第一形变能力，所述第一形变能力包括让所述第一部分和所述第二部分改变相对角度的能力，其中，所述第一部分和所述第二部分位于所述第三部分的相反侧；获得待测装置表面上的采样区域中多个采样点的空间位置参数包括：在第一姿态下，获得所述第三部分的显示侧表面的多个采样点的空间位置参数；其中，所述第一姿态是所述显示装置满足平面条件的姿态。优选的，在上述检测方法中，获得所述第三部分的显示侧表面的多个采样点的空间位置参数包括：按照预设扫描方式，扫描多条扫描线，每条所述扫描线上采集多个所述采样点的空间位置参数；其中，在所述第一姿态下，所述扫描线的延伸方向与所述显示装置中三部分的排布方向满足平行条件；多条所述扫描线满足平行条件设置，且具有预设间距；确定所述采样区域的平面参数包括：计算每条所述扫描线的高度差和坡度变化程度；从所述至少两条扫描线对应的高度差和坡度变化程度中确定所述采样区域的高度差和坡度变化程度。优选的，在上述检测方法中，从所述至少两条扫描线对应的高度差和坡度变化程度中确定所述采样区域的高度差和坡度变化程度包括：确定所述至少两条扫描线中具有的最大高度差，用于表征所述采样区域的高度差，确定所述至少两条扫描线中具有的最大坡度变化程度用于表征所述采样区域的坡度变化程度。优选的，在上述检测方法中，所述扫描方式至少满足如下条件之一：扫描同一所述扫描线中所述采样点的步长不超过0.5mm；所述扫描线的端部与所述第一部分和所述第二部分的距离为2.5mm；所述扫描线等间距设置；最外侧所述扫描线与所述显示侧表面相邻显示侧边距离为1mm。优选的，在上述检测方法中，计算所述扫描线的高度差的方法包括：计算所述扫描线中最高点和最低点的高度差；通过所述最高点和所述最低点的高度差表征所述扫描线的高度差；计算所述扫描线的坡度变化程度的方法包括：所述扫描线中具有N个所述采样点，N为大于1的正整数，在所述扫描线延伸方向上，设定该所述采样点依次为第1采样点至第N采样点；其中，第K+1采样点至第N-K采样点中，每个采样点用于确定一个采样坡度变化值，K为设定常数，K为不小于0且小于N的整数，N不小于2K+1；第i采样点对应的采样坡度变化值等于第一坡度和第二坡度的差值绝对值，i为不小于K+1且不大于N-K的正整数，所述第一坡度为第i采样点与第i-K采样点在XY坐标系中的斜率，所述第二坡度为第i+K采样点与第i采样点在XY坐标系中的斜率；通过多个所述采样坡度变化值表征所述扫描线的坡度变化程度。本申请还提供了另一种检测方法，包括：扫描展平状态下折叠屏的折叠部分；计算高度差和坡度变化程度；确定折叠屏的高度差和坡度变化程度。优选的，在上述检测方法中，扫描展平状态下折叠屏的折叠部分包括：扫描至少两条扫描线；计算每条所述扫描线的高度差和坡度变化程度；从所述至少两条扫描线的高度差和坡度变化程度中确定所述折叠屏的高度差和坡度变化程度。优选的，在上述检测方法中，确定所述至少两条扫描线中具有的最大高度差，用于表征所述折叠屏的高度差，确定所述至少两条扫描线中具有的最大坡度变化程度用于表征所述折叠屏的坡度变化程度；或，所述折叠屏包括第一部分，第二部分和第三部分，至少所述第三部分具有第一形变能力，所述第一形变能力包括让所述第一部分和所述第二部分改变相对角度的能力，其中，所述第一部分和所述第二部分位于所述第三部分的相反侧；扫描至少两条扫描线包括：按照预设扫描方式，扫描多条扫描线，每条所述扫描线上采集多个所述采样点的空间位置参数；其中，在所述第一姿态下，所述扫描线的延伸方向平行于所述折叠屏中三部分的排布方向；多条所述扫描线平行设置；所述扫描方式至少满足如下条件之一：扫描同一所述扫描线中所述采样点的步长不超过0.5mm；所述扫描线的端部与所述第一部分和所述第二部分的距离为2.5mm；两条最外侧所述扫描线与所述显示侧表面相邻显示侧边距离均为1mm；两条最外侧的所述扫描线之间具有另外七条所述扫描线，该七条所述扫描线均匀的排布在该两条最外侧的所述扫描线之间。本申请还提供了一种检测装置，包括：扫描装置，朝向承载装置，所述承载装置用于放置待检测装置，所述扫描装置用于获得所述待检测装置表面上的采样区域的扫描结果；计算装置，用于基于所述扫描结果，确定所述采样区域的高度差和坡度变化程度。通过上述描述可知，本申请技术方案提供的检测方法和检测装置中，能够获得待检测装置表面上采样区域中多个采样点的空间位置参数，可以基于少两个采样点的所述空间位置参数，确定所述采样区域的平面参数，其中，所述平面参数包括：能够表征所述采样区域高度差的第一参数和能够表征所述采样区域坡度变化程度的第二参数。本申请技术方案可以用于确定折叠屏折叠部分的高度差和坡度变化程度。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本申请可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本申请所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本申请所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。图1为本申请实施例提供的一种检测方法的流程示意图；图2为本申请实施例提供的一种显示装置满足平面条件时的俯视图；图3为本申请实施例提供的一种显示装置不满足平面条件时的侧视图；图4为本申请实施例提供的一种获得采样点的空间位置参数的原理示意图；...

【技术保护点】
1.一种检测方法，包括：/n获得待检测装置表面上的采样区域中多个采样点的空间位置参数；/n基于至少两个采样点的所述空间位置参数，确定所述采样区域的平面参数；/n其中，所述平面参数包括：能够表征所述采样区域高度差的第一参数和能够表征所述采样区域坡度变化程度的第二参数。/n

【技术特征摘要】
1.一种检测方法，包括：
获得待检测装置表面上的采样区域中多个采样点的空间位置参数；
基于至少两个采样点的所述空间位置参数，确定所述采样区域的平面参数；
其中，所述平面参数包括：能够表征所述采样区域高度差的第一参数和能够表征所述采样区域坡度变化程度的第二参数。


2.根据权利要求1所述的检测方法，所述待检测装置为显示装置，所述显示装置包括第一部分，第二部分和第三部分，至少所述第三部分具有第一形变能力，所述第一形变能力包括让所述第一部分和所述第二部分改变相对角度的能力，其中，所述第一部分和所述第二部分位于所述第三部分的相反侧；
获得待测装置表面上的采样区域中多个采样点的空间位置参数包括：在第一姿态下，获得所述第三部分的显示侧表面的多个采样点的空间位置参数；
其中，所述第一姿态是所述显示装置满足平面条件的姿态。


3.根据权利要求2所述的检测方法，获得所述第三部分的显示侧表面的多个采样点的空间位置参数包括：
按照预设扫描方式，扫描多条扫描线，每条所述扫描线上采集多个所述采样点的空间位置参数；其中，在所述第一姿态下，所述扫描线的延伸方向与所述显示装置中三部分的排布方向满足平行条件；多条所述扫描线满足平行条件设置，且具有预设间距；
确定所述采样区域的平面参数包括：
计算每条所述扫描线的高度差和坡度变化程度；
从所述至少两条扫描线对应的高度差和坡度变化程度中确定所述采样区域的高度差和坡度变化程度。


4.根据权利要求3所述的检测方法，从所述至少两条扫描线对应的高度差和坡度变化程度中确定所述采样区域的高度差和坡度变化程度包括：
确定所述至少两条扫描线中具有的最大高度差，用于表征所述采样区域的高度差，确定所述至少两条扫描线中具有的最大坡度变化程度用于表征所述采样区域的坡度变化程度。


5.根据权利要求3所述的检测方法，所述扫描方式至少满足如下条件之一：
扫描同一所述扫描线中所述采样点的步长不超过0.5mm；
所述扫描线的端部与所述第一部分和所述第二部分的距离为2.5mm；
所述扫描线等间距设置；
最外侧所述扫描线与所述显示侧表面相邻显示侧边距离为1mm。


6.根据权利要求3所述的检测方法，计算所述扫描线的高度差的方法包括：计算所述扫描线中最高点和最低点的高度差；通过所述最高点和所述最低点的高度差表征所述扫描线的高度差；
计算所述扫描线的坡度变化程度的方法包括：
所述扫描线中具有N个所述采样点，...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏跃峰，宋扬，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11