一种电压规范测试治具、测试系统及测试方法技术方案

本发明专利技术提供了一种电压规范测试治具、测试系统及测试方法，属于计算机通讯的技术领域；解决了在进行CPU VR验证工作时，通过避免多次拆装测试环境，保护治具pin脚铜箔被用力过度损坏，提供一种测试服务器处理器供电小电流动态响应治具，并提供对应的使用方法，使测试更加简便、高效的技术问题；包括治具基板，治具基板的顶面设置有用于插入微型增敏器的卡槽和拨码开关，治具基板的底面设置有连接插槽，连接插槽可通过连接器与待测主板的封装基板连接，治具基板内部设置有多电压轨道电路，多电压轨道电路通过卡槽与微型增敏器连接，多电压轨道电路通过连接插槽与待测主板的封装基板连接，拨码开关用于切换多电压轨道电路输出的电压轨道。

【技术实现步骤摘要】
一种电压规范测试治具、测试系统及测试方法
本专利技术涉及计算机通讯
，尤其是涉及一种电压规范测试治具、测试系统及测试方法。
技术介绍
服务器主板和其他板卡在开发阶段需要针对CPUVR(VoltageRegulation)的电源进行测试。在测试过程中，需要根据协会及业界规范进行CPUVR(VoltageRegulation)的验证，CPU的供电设计中会要求设计多种不同功能，不同输出的电压，每种电压的测试要求也不一样。针对CPU供电中的小电流设计的电压，Intel要求使用特定治具，Minislamer进行动态响应的测试，以验证CPUVR的各项设计指标是否符合行业设计标准，用来评判CPUVR的输出电压、电流等参数是否满足规定的SPEC要求。现在的服务器性能要求越来越多，服务器主板已经由之前的2路过渡到4路和8路。对中央处理器的要求也越来越高，集成度越来越高，所以需要的供电设计越来越复杂，涉及多种电压，其中小电流设计的电压数量大幅上涨。目前针对这种CPU供电的小电流电压设计，都是用螺丝将minislamer固定在拉载板上，将拉载板通过连接器连接到Interposer上，Interposer是嵌入到主板CPU处的。每次测试完成一组电压，需要重新将拉载板拆下来，通过松动螺丝更换测试rail，再进行相关测试。在使用现有方案测试CPUVR端供电小电压时，都是用螺丝将minislamer固定在拉载板上，每次换电压测试都要重新搭建测试环境，耗时耗力。同时由于螺丝由于力度不可控，Minislamer的pin脚上的铜箔经常被损坏，导致治具损坏率偏高。为了验证CPUVR各小电流电压测试指标能满足设计需求，需要一种用于服务器CPU供电小电流动态响应治具以及测试系统。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种电压规范测试治具、测试系统及测试方法，以缓解了现有技术中存在的在进行CPUVR验证工作时，通过避免多次拆装测试环境，保护治具pin脚铜箔被用力过度损坏，提供一种测试服务器处理器供电小电流动态响应治具，并提供对应的使用方法，使测试更加简便、高效的技术问题。第一方面，本专利技术提供一种电压规范测试治具，包括治具基板，所述治具基板的顶面设置有用于插入微型增敏器的卡槽和拨码开关，所述治具基板的底面设置有连接插槽，所述连接插槽可通过连接器与待测主板的封装基板连接。所述治具基板内部设置有多电压轨道电路，所述多电压轨道电路通过所述卡槽与微型增敏器连接，所述多电压轨道电路通过连接插槽与待测主板的封装基板连接，所述拨码开关用于切换所述多电压轨道电路输出的电压轨道。进一步的，所述的治具基板的顶面还设置有多个电压轨道测试引脚，以及与每个电压轨道测试引脚成对设置的参考地引脚。进一步的，所述的多电压轨道电路包括六种不同的电压轨道。第二方面，本专利技术还提供一种电压规范测试系统，包括微型增敏器和所述电压规范测试治具，所述微型增敏器插入所述电压规范测试治具的卡槽中。进一步的，所述的电压规范测试系统，还包括增敏控制板，所述增敏控制板通过线缆与所述微型增敏器连接。进一步的，所述的电压规范测试系统，还包括连接器，所述连接器一端插入所述电压规范测试治具的连接插槽中，另一端插入待测主板的封装基板中。进一步的，所述的电压规范测试系统，还包括与多电压轨道电路连接的Gen4或信号发生器。第三方面，本专利技术还提供一种电压规范测试方法，应用于所述的电压规范测试系统，所述方法包括：将拨码开关调节至待测电压轨道；通过Gen4或信号发生器发送驱动信号，向微型增敏器和待测主板供电；获取待测主板的电压信号、电流信号和电压信号波形；需要变更电压轨道时，通过调节拨码开关变更多电压轨道电路输出的电压轨道。本专利技术提供的一种电压规范测试治具，具备如下技术效果：治具基板内部设置有多电压轨道电路，并且可以利用拨码开关切换多电压轨道电路输出的电压轨道，因此该测试治具、测试系统及测试方法，只需要连接好仪器，进行测试，调整拨码开关的闭合，就可测试不同的电压，不需要大量的拆装工作，并且，利于治具的长期使用及保养。成本低且操作简便，减少人力工时，提高工作效率及测试精确度。相应地，本专利技术实施例提供的一种电压规范测试系统及测试方法，也同样具有上述技术效果。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的治具上面板结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的治具下面板结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的治具上连接到主板示意图；图4为本专利技术实施例提供的测试系统的结构示意框图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例中所提到的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括其他没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本专利技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。请参阅图1至图3，本专利技术实施例提供的一种电压规范测试治具，包括治具基板1，治具基板1的顶面设置有用于插入微型增敏器4的卡槽2和拨码开关3，治具基板1的底面设置有连接插槽5，连接插槽5可通过连接器7与待测主本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电压规范测试治具，其特征在于，包括治具基板，所述治具基板的顶面设置有用于插入微型增敏器的卡槽和拨码开关，所述治具基板的底面设置有连接插槽，所述连接插槽可通过连接器与待测主板的封装基板连接；/n所述治具基板内部设置有多电压轨道电路，所述多电压轨道电路通过所述卡槽与微型增敏器连接，所述多电压轨道电路通过连接插槽与待测主板的封装基板连接，所述拨码开关用于切换所述多电压轨道电路输出的电压轨道。/n

【技术特征摘要】
1.一种电压规范测试治具，其特征在于，包括治具基板，所述治具基板的顶面设置有用于插入微型增敏器的卡槽和拨码开关，所述治具基板的底面设置有连接插槽，所述连接插槽可通过连接器与待测主板的封装基板连接；
所述治具基板内部设置有多电压轨道电路，所述多电压轨道电路通过所述卡槽与微型增敏器连接，所述多电压轨道电路通过连接插槽与待测主板的封装基板连接，所述拨码开关用于切换所述多电压轨道电路输出的电压轨道。


2.根据权利要求1所述的电压规范测试治具，其特征在于，所述治具基板的顶面还设置有多个电压轨道测试引脚，以及与每个电压轨道测试引脚成对设置的参考地引脚。


3.根据权利要求1所述的电压规范测试治具，其特征在于，所述多电压轨道电路包括六种不同的电压轨道。


4.一种电压规范测试系统，其特征在于，包括微型增敏器和如权利要求1至3任一项所述的电压规范测试治具，所述微型增敏器插入所述电...

【专利技术属性】
技术研发人员：施秋云，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32