一种用于北斗导航芯片测试的吸附台制造技术

本实用新型专利技术提供一种用于北斗导航芯片测试的吸附台，包括底座和吸附座；所述底座为双层结构，底座顶部开设有一处滑孔；所述吸附座呈排列状安装于底座内部，固定限位块和活动限位块均位于吸附座顶部；所述联动推板位于底座后端顶部，联动推板底部开设有一处螺孔，联动推板底部与调节螺栓相连，联动推板顶部与活动限位块相连；所述五通管安装于底座前端内部，五通管通过管道与真空泵相连通；本实用新型专利技术可根据所测试北斗导航芯片的规格，对吸附座顶部活动限位块进行滑动调节，使北斗导航芯外围分别与固定限位块和活动限位块内壁相贴合，从而通过固定限位块和活动限位块对北斗导航芯片实现限位作业，进一步保障北斗导航芯片测试的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于北斗导航芯片测试的吸附台
本技术属于芯片测试
，更具体地说，特别涉及一种用于北斗导航芯片测试的吸附台。
技术介绍
北斗导航芯片制作过程中，为保障不同恶劣环境使用所需，通常需要对北斗导航芯片进行高、低温测试，为此，需要使用芯片测试的吸附台对北斗导航芯片进行吸附固定，保障测试过程的稳定性。芯片测试的吸附台可以参考CN210347687U号专利，其主要包括吸附台本体，所述吸附台本体的一端横向设置有加热棒安装孔及热电偶安装孔，吸附台本体的前侧壁设置有气路槽，吸附台本体的另一端设置有与真空泵相连接并连通气路槽的吸气通道，吸附台本体的前侧还设置有封盖气路槽并可升降调节的挡板，所述挡板与吸附台本体之间沿横向间隔竖向设置有若干个与气路槽相连通并用于吸附芯片的真空泵吸气孔。现有类似的芯片测试的吸附台在使用时，单次只能对单独一个北斗导航芯片进行吸附固定作业，对北斗导航芯片测试效率较慢，较为影响北斗导航芯片测试进度，并且对北斗导航芯片限位效果较差，单纯依靠吸力对北斗导航芯片进行固定，容易导致北斗导航芯片吸合部位发生松动，进而影响北斗导航本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于北斗导航芯片测试的吸附台，其特征在于：包括底座(1)、吸附座(2)、联动推板(5)和五通管(7)；所述底座(1)为双层结构，底座(1)顶部开设有一处滑孔(102)；所述吸附座(2)呈排列状安装于底座(1)内部，固定限位块(3)和活动限位块(4)均位于吸附座(2)顶部；所述联动推板(5)位于底座(1)后端顶部，联动推板(5)底部开设有一处螺孔(501)，联动推板(5)底部与调节螺栓(6)相连，联动推板(5)顶部与活动限位块(4)相连；所述五通管(7)安装于底座(1)前端内部，五通管(7)通过管道与真空泵相连通。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于北斗导航芯片测试的吸附台，其特征在于：包括底座(1)、吸附座(2)、联动推板(5)和五通管(7)；所述底座(1)为双层结构，底座(1)顶部开设有一处滑孔(102)；所述吸附座(2)呈排列状安装于底座(1)内部，固定限位块(3)和活动限位块(4)均位于吸附座(2)顶部；所述联动推板(5)位于底座(1)后端顶部，联动推板(5)底部开设有一处螺孔(501)，联动推板(5)底部与调节螺栓(6)相连，联动推板(5)顶部与活动限位块(4)相连；所述五通管(7)安装于底座(1)前端内部，五通管(7)通过管道与真空泵相连通。


2.如权利要求1所述用于北斗导航芯片测试的吸附台，其特征在于：所述吸附座(2)顶部开设有多处吸附孔(201)，吸附座(2)内部开设有一处吸附腔(203)，且吸附孔(201)底部与吸附腔(203)相连通，吸附腔(203)外侧开设有一处排气口(204)。


3.如权利要求1所述用于北斗导航芯片测试的吸附台，其特征在于：所述底座(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：余超，李晨霖，
申请(专利权)人：无锡湖山智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32