一种双光谱图像对齐方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种双光谱图像对齐方法，包括：分别获取图像采集设备为标定板拍摄的可见光图像和红外图像；其中，标定板带有标定孔；提取可见光图像和红外图像中标定孔的位置信息；利用位置信息，计算可见光图像与红外图像之间的缩放参数和偏移参数；利用缩放参数和偏移参数，调整可见光图像和/或红外图像，以使可见光图像中的标定板与红外图像中的标定板重合；本方法采用拍摄同一标定板的方式，保证可见光图像和红外图像中的标定板信息一致，并利用该信息计算用于双光谱图像对齐的可见光图像和红外图像对齐参数，降低了双光谱图像对齐的复杂度；本申请还公开了一种双光谱图像对齐装置、电子设备及存储介质，具有上述有益效果。

【技术实现步骤摘要】
一种双光谱图像对齐方法、装置、电子设备及存储介质
本专利技术涉及双光谱图像对齐领域，特别涉及一种双光谱图像对齐方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
随着传感器技术的不断发展，多波段图像融合技术的应用场景逐渐扩大，应用价值也逐渐提升。例如，可见光图像能够在复杂场景下提供不同物体的纹理信息，更适合于兴趣区域的提取，而红外图像可获取图片中的温度信息。在人体测温的应用场景中，可以利用可见光图像对人脸信息进行提取，并利用红外图像进行温度计算，可有效解决传统的水银体温计、耳温枪或额温枪测温效率低下的问题。相关技术中，一般采用基于特征匹配、基于灰度匹配、基于频域信息或是基于卷积神经网络的图像配准方式进行双光谱图像对齐，然而这些方式计算过程过于复杂，耗时较长，在实际的应用过程中难以保证实时处理，同时对硬件的要求较高。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种双光谱图像对齐方法、装置、电子设备及存储介质，简化了双光谱图像对齐的流程，降低了双光谱图像对齐的复杂度，进而提升了用户的使用体验。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种双光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双光谱图像对齐方法，其特征在于，包括：/n分别获取图像采集设备为标定板拍摄的可见光图像和红外图像；其中，所述标定板带有标定孔；/n提取所述可见光图像和所述红外图像中所述标定孔的位置信息；/n利用所述位置信息，计算所述可见光图像与所述红外图像之间的缩放参数和偏移参数；/n利用所述缩放参数和所述偏移参数，调整所述可见光图像和/或所述红外图像，以使所述可见光图像中的标定板与所述红外图像中的标定板重合。/n

【技术特征摘要】
1.一种双光谱图像对齐方法，其特征在于，包括：
分别获取图像采集设备为标定板拍摄的可见光图像和红外图像；其中，所述标定板带有标定孔；
提取所述可见光图像和所述红外图像中所述标定孔的位置信息；
利用所述位置信息，计算所述可见光图像与所述红外图像之间的缩放参数和偏移参数；
利用所述缩放参数和所述偏移参数，调整所述可见光图像和/或所述红外图像，以使所述可见光图像中的标定板与所述红外图像中的标定板重合。


2.根据权利要求1所述的双光谱图像对齐方法，其特征在于，当所述标定孔为圆形标定孔时，所述利用所述位置信息，计算所述可见光图像与所述红外图像之间的缩放参数和偏移参数，包括：
利用所述位置信息，分别在所述可见光图像和所述红外图像中，计算同一水平方向上最左侧圆心至最右侧圆心的水平圆心距以及同一竖直方向上最上侧圆心至最下侧圆心的竖直圆心距；
利用所述可见光图像和所述红外图像中的所述水平圆心距和所述竖直圆心距，计算所述可见光图像与所述红外图像之间的缩放参数；
利用所述缩放参数，及所述可见光图像与所述红外图像中的所述位置信息，计算所述可见光图像与所述红外图像之间的偏移参数。


3.根据权利要求1所述的双光谱图像对齐方法，其特征在于，当所述标定孔为圆形标定孔时，所述提取所述可见光图像和所述红外图像中所述标定孔的位置信息，包括：
提取所述可见光图像的第一标定孔参数；其中，所述第一标定孔参数包括所述可见光图像中标定孔的初始半径及初始圆心坐标；
提取所述红外图像的第二标定孔参数；其中，所述第二标定孔参数包括所述红外图像中标定孔的初始半径及初始圆心坐标；
若所述第一标定孔参数符合预设条件，则将所述第一标定孔参数中的初始圆心坐标作为所述可见光图像中标定孔的位置信息；其中，所述预设条件包括初始半径符合第一阈值要求、同一行相邻两圆心间的距离符合第二阈值要求、且同一列相邻两圆心间的距离符合第三阈值要求；
若所述第二标定孔参数符合所述预设条件，则将所述第二标定孔参数中的初始圆心坐标作为所述红外图像中标定孔的位置信息。


4.根据权利要求1所述的双光谱图像对齐方法，其特征在于，在提取所述可见光图像和所述红外图像中所述标定孔的位置信息之后，在计算所述可见光图像与所述红外图像之间的缩放参数和偏移参数之前，还包括：
判断所述可见光图像中的标定孔的位置信息数量是否等于所述红外图像中的标定孔的位置信息数量，得到第一判断结果；
判断所述可见光图像中的标定孔的位置排布形式是否与所述红外图像中的标定孔的位置排布形式相同，得到第二判断结果；
当所述第一判断结果与第二判断结果均为是时，执行利用所述位置信息，计算所述可见光图像与所述红外图像之间的缩放参数和偏移参数的步骤。


5.根据权利要求1所述的双光谱图像对齐方法，其特征在于，所述提取所述可见光图像和所述红外图像中所述标定孔的位置信息，包括：
将所述可见光图像和所述红外图像转换为灰度图像；
对转换后的可见光图像和红外图像进行亮度和/或对比度调节；
对调节后的可见光图像和红外图像进行噪声去除；
对噪声去除后的可见光图像和红外图像进行图像边缘检测，提取出所述可见光图像和所述红外图像中所述标...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐召飞，王云奇，李兵伟，
申请(专利权)人：烟台艾睿光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37