基于单目结构光的自检自校准方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种基于单目结构光的自检自校准方法及装置，首先获取单目结构光系统的参考图、物体图和误差阈值范围；然后根据参考图和物体图，确定参考图与物体图的行对齐误差；最后若行对齐误差在所述误差阈值范围内，则完成对单目结构光系统的自检自校准。通过判断行对齐误差在误差阈值范围内，完成对单目结构光系统的自检自校准，可以保证三维深度信息重建的过程中图像传感器的光轴方向和散斑投射器的光轴方向始终保持平行，便于后续进行三维深度信息重建。而且，不再需要进行返厂维修，可以降低三维深度信息重建的硬件成本以及时间成本，提高三维深度信息重建的效率。

【技术实现步骤摘要】
基于单目结构光的自检自校准方法及装置
本专利技术涉及机器视觉
，尤其涉及一种基于单目结构光的自检自校准方法及装置。
技术介绍
数字散斑相关方法早期一直都是被用来测量二维位移和变形量，在力学中得到了大量应用。随着双目立体视觉技术的成熟，数字散斑相关方法在三维面形测量中的应用也逐渐发展起来。现有技术中已经实现了以光学三角测量为基础，利用一个双目摄像头和数字投影散斑，根据参考平面与受物体调制的散斑图像进行相关运算，进行被测物体三维面形测量。但是由于双目摄像头需要两个红外相机和一个激光发射器，这在硬件上增加成本。为此，引入单目空间编码结构光3D重建技术本质是一种基于空间编码结构光的深度测量技术，其采用的单目结构光系统主要包括散斑投射器、图像传感器以及计算芯片。其主要原理是将特殊的图像样式(如随机散斑，条纹等等)投射到场景中，赋予场景中被测物体丰富的纹理信息，并通过图像传感器采集该幅场景图像，与事先标定时存储的特定位置平面的参考散斑图进行匹配，再根据视差关系，计算场景中被测物体的三维深度信息。事先标定的目的是为了减少计算耗时，降低硬件成本及本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于单目结构光的自检自校准方法，其特征在于，包括：/n获取单目结构光系统的参考图、物体图和误差阈值范围；/n根据所述参考图和所述物体图，确定所述参考图与所述物体图的行对齐误差；/n若所述行对齐误差在所述误差阈值范围内，则完成对所述单目结构光系统的自检自校准。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于单目结构光的自检自校准方法，其特征在于，包括：
获取单目结构光系统的参考图、物体图和误差阈值范围；
根据所述参考图和所述物体图，确定所述参考图与所述物体图的行对齐误差；
若所述行对齐误差在所述误差阈值范围内，则完成对所述单目结构光系统的自检自校准。


2.根据权利要求1所述的基于单目结构光的自检自校准方法，其特征在于，所述根据所述参考图和所述物体图，确定所述参考图与所述物体图的行对齐误差的步骤，包括：
获取所述参考图的特征点和所述物体图的特征点；
将所述参考图的特征点和所述物体图的特征点进行匹配，获取匹配结果；
根据所述匹配结果，确定所述参考图与所述物体图的行对齐误差。


3.根据权利要求2所述的基于单目结构光的自检自校准方法，其特征在于，所述方法还包括：
若所述行对齐误差不在所述误差阈值范围内，则根据所述匹配结果，确定所述参考图与所述物体图之间的变换矩阵，并基于所述变换矩阵对所述参考图进行变换；
若确定变换后的所述参考图与所述物体图的行对齐误差在所述误差阈值范围内，则完成对所述单目结构光系统的自检自校准。


4.根据权利要求3所述的基于单目结构光的自检自校准方法，其特征在于，所述根据所述匹配结果，确定所述参考图与所述物体图之间的变换矩阵，具体包括：
基于所述匹配结果，计算本质矩阵；
基于所述本质矩阵，求解所述变换矩阵。


5.根据权利要求2-4中任一项所述的基于单目结构光的自检自校准方法，其特征在于，所述将所述参考图的特征点和所述物体图的特征点进行匹配，获取匹配结果，具体包括：
对于所述物体图的每个特征点，在所述参考图中与所述特征点对应的第一预设区域中搜索与所述特征点匹配的第一特征点。

【专利技术属性】
技术研发人员：户磊，薛远，曹天宇，王亚运，季栋，
申请(专利权)人：北京的卢深视科技有限公司，合肥的卢深视科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11