【技术实现步骤摘要】
电解电容寿命预测方法、装置、设备及存储介质
本申请涉及电力
，特别是涉及一种电解电容寿命预测方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
随着数据中心的不断建设，数据中心电源作为保证数据中心能够正常运行的关键设备，其上含有多个电解电容，若电解电容失效就会引起整个数据中心电源的可靠性下降，甚至会出现故障，因此，就需要对电解电容的寿命进行预测。目前，在对电解电容的寿命进行预测时，通常是将数据中心电源上的部分电解电容拆解下来，然后对这些电解电容进行反复充放电过程，直至达到电解电容的寿命极限，最终通过电解电容的充放电次数来获得电解电容的寿命。但是，采用上述技术对电解电容的寿命进行预测，在数据中心电源上的电解电容较多时，存在对各电解电容的寿命预测效率低的问题。
技术实现思路
基于此，本申请实施例提供了一种电解电容寿命预测方法、装置、设备及存储介质，可以提高对各电解电容的寿命预测效率。第一方面，提供了一种电解电容寿命预测方法，该方法包括：获取待测电解电容的相关电学参数；该相关电学参数用于表征待...
【技术保护点】
1.一种电解电容寿命预测方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取待测电解电容的相关电学参数；所述相关电学参数用于表征所述待测电解电容在工作时的温度值和电容值；/n将所述待测电解电容的相关电学参数输入至预设的神经网络模型中，通过所述神经网络模型对所述待测电解电容的相关电学参数进行处理，确定所述待测电解电容的预测寿命值；/n其中，所述神经网络模型是基于多个样本电解电容的相关电学参数和每个样本电解电容对应的标准寿命值进行训练得到的。/n
【技术特征摘要】
1.一种电解电容寿命预测方法，其特征在于，所述方法包括：
获取待测电解电容的相关电学参数；所述相关电学参数用于表征所述待测电解电容在工作时的温度值和电容值；
将所述待测电解电容的相关电学参数输入至预设的神经网络模型中，通过所述神经网络模型对所述待测电解电容的相关电学参数进行处理，确定所述待测电解电容的预测寿命值；
其中，所述神经网络模型是基于多个样本电解电容的相关电学参数和每个样本电解电容对应的标准寿命值进行训练得到的。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述待测电解电容的相关电学参数输入至预设的神经网络模型中，通过所述神经网络模型对所述待测电解电容的相关电学参数进行处理，确定所述待测电解电容的预测寿命值，包括：
将所述待测电解电容的相关电学参数输入至所述神经网络模型中，在所述神经网络模型中根据预设的电解电容寿命曲线确定所述相关电学参数对应的第一预测寿命值，以及对所述待测电解电容的温度值进行数学运算处理，确定所述待测电解电容的第二预测寿命值，并根据所述第一预测寿命值和所述第二预测寿命值确定所述待测电解电容的预测寿命值；
其中，所述电解电容寿命曲线为表征电解电容的相关电学参数以及寿命值之间对应关系的曲线。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测电解电容在工作时的温度值包括所述待测电解电容所处环境的温度值和所述待测电解电容内部的温度值，所述对所述待测电解电容的温度值进行数学运算处理，确定所述待测电解电容的第二预测寿命值，包括：
对所述待测电解电容所处环境的温度值和所述待测电解电容内部的温度值进行求幂运算处理，得到所述待测电解电容的第二预测寿命值。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述待测电解电容的相关电学参数还包括所述待测电解电容的电流值和电压值，所述待测电解电容内部的温度值的获取方式包括：
根据所述待测电解电容的电流值和电压值，对所述待测电解电容的功率损耗进行计算，得到所述待测电解电容的功率损耗；
获取所述待测电解电容对应的电容热阻；
对所述电容热阻和所述功率损耗进行乘积运算处理，得到所述待测电解电容内部的温度值。
5.根据权利要求2-4任意一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一预测寿命值和所述第二预测寿命值确定所述待测电解电容的预测寿命值，包括：
对所述第一预测寿命值和所述第二预测寿命值进行加权求和处理，得到所述待测电解电容的预测寿命值。
6.根据权利要求1-4任意一项所述的方法，其特征在于，在所述获取待测电解电容的相关电学参数之前，所述方法还包括：
获取所述待测电解电容在初始化状态下的第一电容值以及所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：王坤，李现亭，马超群，杨武，张斌，蔡洛，
申请(专利权)人：易事特集团河南有限公司，
类型：发明
国别省市：河南;41
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