【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】超声显微镜以及用于承载声学脉冲换能器的承载件
本专利技术涉及用于检查对象的、尤其是用于对半导体结构进行检查的超声显微镜。此外,本专利技术涉及用于承载超声显微镜的声学脉冲换能器的承载件。
技术介绍
超声显微镜用于对诸如材料和装置等对象进行非破坏性检查。由于具有非破坏性检查的能力,这种超声显微镜在品质监控、可靠性研究、优化和失效分析的领域有着非常有利的应用。例如,在半导体制造中,超声显微镜用于检查已完成和部分经加工的半导体装置。通过使用这种超声显微镜可以检测对象的分层、空隙、裂缝或夹杂物,并确定它们的机械性能。使用超声显微镜检查对象,可以通过将声学脉冲,尤其是超声脉冲引导至对象并分析由对象反射和/或透射通过对象的声学脉冲来执行。该分析的基础是声学脉冲在对象的每个声学界面处部分反射和部分透射的物理现象。因此,包含多个不同材料层的对象从被引导至该对象上的单个声学脉冲产生多个反射脉冲。多个反射声学脉冲由声学换能器检测,该声学换能器输出表示反射的声学脉冲的强度的时域信号。基于多个反射脉冲中的每个反射脉冲相对于被引导至对象上的脉冲的时间延迟,可以确定对象内的材料层的深度。此外,基于反射的声学脉冲的强度,可以推断出材料的种类,从而可以确定对象中的缺陷。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供能够尽可能快地以高准确性检查对象的超声显微镜。待检查对象可以是材料或装置,尤其是使用半导体材料制成的晶圆、封装件、部件或装置。对象的表面几何形状可以相对于对象的尺寸是不均匀的。根据本专利技术的一方面,用于检查对象的超声显 ...
【技术保护点】
1.一种用于检查对象的超声显微镜,/n其中,所述超声显微镜包括:/n对象保持器,所述对象保持器配置成将所述对象保持在对象区域中;/n扫描头,所述扫描头能够相对于所述对象区域移动;/n第一换能器,所述第一换能器由所述扫描头支撑,/n其中,所述第一换能器配置成沿着发射方向发射第一声学脉冲并将所述第一声学脉冲聚焦在焦点中,以及/n其中,所述第一换能器还配置成检测从所述对象发出的第二声学脉冲并输出第一检测信号,所述第一检测信号表示由所述第一换能器检测到的所述第二声学脉冲;/n第一致动器,所述第一致动器配置成使所述第一换能器沿着与所述发射方向基本平行的竖向方向相对于所述扫描头移动;以及/n控制器,所述控制器配置成基于所述第一检测信号对由所述第一致动器提供的所述第一换能器相对于所述扫描头的竖向移动进行控制。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180525 US US15/989,4281.一种用于检查对象的超声显微镜,
其中,所述超声显微镜包括:
对象保持器,所述对象保持器配置成将所述对象保持在对象区域中;
扫描头,所述扫描头能够相对于所述对象区域移动;
第一换能器,所述第一换能器由所述扫描头支撑,
其中,所述第一换能器配置成沿着发射方向发射第一声学脉冲并将所述第一声学脉冲聚焦在焦点中,以及
其中,所述第一换能器还配置成检测从所述对象发出的第二声学脉冲并输出第一检测信号,所述第一检测信号表示由所述第一换能器检测到的所述第二声学脉冲;
第一致动器,所述第一致动器配置成使所述第一换能器沿着与所述发射方向基本平行的竖向方向相对于所述扫描头移动;以及
控制器,所述控制器配置成基于所述第一检测信号对由所述第一致动器提供的所述第一换能器相对于所述扫描头的竖向移动进行控制。
2.根据权利要求1所述的超声显微镜,
其中,所述控制器还配置成:
–通过所述第一换能器控制第一声学脉冲的发射,
–基于所述第一检测信号来确定表示所述第一换能器与所述对象之间距离的距离值,以及
–基于所确定的所述距离值对由所述第一致动器提供的所述第一换能器相对于所述扫描头的竖向移动进行控制。
3.根据权利要求2所述的超声显微镜,
其中,所述控制器还配置成:
–对由所述第一致动器提供的所述第一换能器相对于所述扫描头的竖向移动进行控制,使得所述第一换能器与所述对象之间的距离接近预定义的工作距离。
4.根据权利要求2所述的超声显微镜,
其中,所述控制器还配置成:
–基于所确定的所述距离值来确定表示所述焦点与所述对象的关注位置之间的距离的散焦值,以及
–基于所述散焦值对由所述第一致动器提供的所述第一换能器相对于所述扫描头的竖向移动进行控制。
5.根据权利要求1至4中的任一项所述的超声显微镜,所述超声显微镜还包括:
扫描头定位装置,所述扫描头定位装置配置成使所述扫描头在与所述竖向方向基本垂直的横向平面中相对于所述对象保持器移动。
6.根据权利要求5所述的超声显微镜,
其中,所述控制器还配置成:
–控制所述扫描头定位装置,使得所述扫描头定位于多个位置处,
–每当所述扫描头定位于所述多个位置中的一个位置处时,执行:使所述第一换能器发射所述第一声学脉冲中的至少一个第一声学脉冲;检测所述第二声学脉冲中的至少一个第二声学脉冲并输出所述第一检测信号,
–对与多个位置相关联的所述第一检测信号或从所述第一检测信号得出的值进行储存,以及
–基于所存储的一组所述第一检测信号或得出的一组所述值对由所述第一致动器提供的所述第一换能器相对于所述扫描头的竖向移动进行控制。
7.根据权利要求1至6中的任一权利要求所述的超声显微镜,所述超声显微镜还包括:
第二换能器,所述第二换能器由所述扫描头支撑,使得所述对象区域位于所述第一换能器和所述第二换能器之间;以及
其中,所述第二换能器配置成检测从所述对象发出的所述第二声学脉冲并输出第二检测信号,所述第二检测信号表示由所述第二换能器检测到的所述第二声学脉冲。
8.根据权利要求7所述的超声显微镜,所述超声显微镜还包括:
第二致动器,所述第二致动器配置成使所述第一换能器沿着与所述竖向方向基本上垂直的横向方向相对于所述扫描头移动;以及
其中,所述控制器还配置成基于所述第二检测信号对由所述第二致动器提供的所述第一换能器相对于所述扫描头的横向移动进行控制。
9.根据权利要求8所述的超声显微镜,其中,所述控制器配置成对由所述第二致动器提供的所述第一换能器相对于所述扫描头的所述横向移动进行控制,使得所述第一换能器在所述横向方向上与所述第二换能器对准。
10.根据权利要求9所述的超声显微镜,其中,所述控制器配置成对由所述第二致动器提供的所述第一换能器相对于所述扫描头的所述横向移动进行控制,从而使所述第二检测信号的强度最大化。
11.根据权利要求9或10所述的超声显微镜,其中,所述控制器配置成计算所述第二检测信号的频域表示,并基于所述第二检测信号的所述频域表示对由所述第二致动器提供的所述第一换能器相对于所述扫描头的所述横向移动进行控制。
12.根据权利要求7至11中的任一项所述的超声显微镜,所述超声显微镜还包括:
第三致动器,所述第三致动器配置成使所述第二换能器沿着所述竖向方向相对于所述扫描头移动。
13.根据权利要求12所述的超声显微镜,其中,所述控制器还配置成基于所述第一检测信号对由所述第三致动器提供的所述第二换能器相对于所述扫描头的竖向移...
【专利技术属性】
技术研发人员:彼得·霍夫罗格,马丁·贝克尔,马里奥·洛瓦克,马蒂亚斯·科赫,马丁·欣德勒,马库斯·赫尔曼,塔季扬娜·朱里奇里斯纳,齐齐·拉莫斯,
申请(专利权)人:PVA泰帕尔分析系统有限公司,
类型:发明
国别省市:德国;DE
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