【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】元素分析装置以及元素分析方法
本专利技术涉及元素分析装置以及元素分析方法。
技术介绍
作为以往的元素分析装置,如专利文献1那样,有如下的元素分析装置,其具备:加热炉,一边导入载气一边对放入有试样的坩埚进行加热,使该试样的至少一部分气化而生成试样气体,将该试样气体作为与载气的混合气体而导出;以及质谱仪,对从加热炉导出的混合气体中的试样气体所含的至少一个元素进行定量分析。另外,在上述以往的元素分析装置中,例如,在将钢铁等作为试样,对该钢铁等所含的微量的H元素进行定量分析的情况下,生成包含H元素作为H2成分的试样气体,将该试样气体作为与载气的混合气体导入质谱仪进行定量分析。即,在上述以往的元素分析装置中,将混合气体中作为H2成分而包含的H元素作为试样气体所含的H元素进行定量分析。然而,在该情况下,质谱仪无法高灵敏度地检测质量数小的H2成分,其结果是,存在无法以高精度对试样气体所含的H元素进行定量分析的问题。专利文献1:日本特开2000-2699
技术实现思路
因此,本专利技术的主要课题在于得到一种能够以高精度对试样气体所含的H元素进行定量分析的元素分析装置。即,本专利技术的元素分析装置的特征在于,具备:加热炉,一边导入载气一边对放入有试样的坩埚进行加热,使该试样的至少一部分气化而生成包含H元素的试样气体,将该试样气体作为与该载气的混合气体而导出;以及质谱仪,对从所述加热炉导出的所述混合气体中的所述试样气体所含的至少一个元素进行定量分析,所述质谱仪将所述混合气体中作为H2O成分而包 ...
【技术保护点】
1.一种元素分析装置,其特征在于,具备:/n加热炉,一边导入载气一边对放入有试样的坩埚进行加热,使该试样的至少一部分气化而生成包含H元素的试样气体,将该试样气体作为与该载气的混合气体而导出;以及/n质谱仪,对从所述加热炉导出的所述混合气体中的所述试样气体所含的至少一个元素进行定量分析,/n所述质谱仪将所述混合气体中作为H
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180525 JP 2018-100272;20180719 JP 2018-1357721.一种元素分析装置,其特征在于,具备:
加热炉,一边导入载气一边对放入有试样的坩埚进行加热,使该试样的至少一部分气化而生成包含H元素的试样气体,将该试样气体作为与该载气的混合气体而导出;以及
质谱仪,对从所述加热炉导出的所述混合气体中的所述试样气体所含的至少一个元素进行定量分析,
所述质谱仪将所述混合气体中作为H2O成分而包含的H元素作为所述试样气体所含的H元素进行定量分析。
2.根据权利要求1所述的元素分析装置,其特征在于,
还具备设置在所述加热炉与所述质谱仪之间的氧化部,
所述加热炉生成包含H元素作为含H成分的试样气体,导出包含该含H成分的混合气体,
所述氧化部对所述混合气体中的所述含H成分进行氧化而生成H2O成分,
所述质谱仪将氧化后的混合气体中作为所述H2O成分而包含的H元素作为所述试样气体所含的H元素进行定量分析。
3.根据权利要求2所述的元素分析装置,其特征在于,
所述加热炉生成包含H元素作为含H成分、且包含该H元素以外的多个其他元素分别作为不同的含其他元素成分的试样气体,导出包含该含H成分和该多个含其他元素成分的混合气体,
所述氧化部对所述混合气体中的所述含H成分进行氧化而生成H2O成分,并且对所述混合气体中的所述多个含其他元素成分中的质量数之差为3以下的两个含其他元素成分中的至少一方进行氧化,
所述质谱仪将氧化后的混合气体中作为所述H2O成分而包含的H元素作为所述试样气体所含的H元素进行定量分析,并且将该氧化后的混合气体中作为含其他元素成分而包含的所述H元素以外的其他元素作为所述试样气体所含的其他元素进行定量分析。
4.根据权利要求3所述的元素分析装置,其特征在于,
所述加热炉生成包含H元素作为含H成分、且包含该H元素以外的其他元素即N元素和O元素分别作为N2成分和CO成分的试样气体,导出包含该含H成分、N2成分和CO成分的混合气体,
所述氧化部对所述混合气体中的所述含H成分进行氧化而生成H2O成分,并且对所述混合气体中的所述CO成分进行氧化而生成CO2成分。
5.根据权利要求1所述的元素分析装置,其特征在于,
所述载气为He气体。
6.根据权利要求1所述的元素分析装置,其特征在于,
所述质谱仪是四极质谱仪,
所述四极质谱仪具备运算部,
所述运算部具备:
基准数据生成部,生成基准数据,该基准数据表示一边向所述加热炉导入所述载气一边通过该加热炉对未投入所述试样...
【专利技术属性】
技术研发人员:井上贵仁,内原博,笹井浩平,池山俊広,关博之,
申请(专利权)人:株式会社堀场制作所,株式会社堀场STEC,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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