放射线透过检查方法和装置、以及微多孔膜的制造方法制造方法及图纸

在将在芯的外周面上卷绕有多圈的长条的膜的膜卷轴作为检查对象物进行X射线透过检查时，能够因异物的位置导致的检测灵敏度的差异的影响从而可靠地检测异物。一种放射线透过检查方法，设卷轴的一侧的侧面为侧端部A、另一侧的侧面为侧端部B，在该放射线透过检查方法中包含以下工序：第1异物检测工序，用第1检测器检测从第1放射线源照射、从所述膜卷轴的侧端部A入射、在卷轴中透过而从侧端部B射出的放射线，得到关于异物的信息；以及第2异物检测工序，用第2检测器检测从第2放射线源照射、从所述膜卷轴的侧端部B入射、在卷轴中透过而从侧端部A射出的放射线，得到关于异物的信息。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】放射线透过检查方法和装置、以及微多孔膜的制造方法
本专利技术涉及对混入到卷绕了膜的膜卷轴中的异物进行检查的放射线透过检查方法和装置、以及包含这样的放射线透过检查方法在内的微多孔膜的制造方法。
技术介绍
各种聚合物膜等膜一般是以卷筒膜的方式以卷绕在圆筒形状的芯上的状态被供给。在微小的金属片等异物混入到这样的膜卷轴中的情况下，异物有时成为使用膜来制造出的产品中的不合格品的原因。例如，在将从膜卷轴送出的膜作为向锂离子二次电池的正极与负极之间插入的电池分离膜使用的情况下，如果混入到膜卷轴中的异物是微小的金属片，则会引起锂离子二次电池中的正极与负极之间的短路，或者金属片会溶解在电解液中而使电池特性劣化。因此，需要检测膜卷轴中是否混入有微小的金属异物。从电池分离膜的制造中的质量保证的观点出发，与膜的制造中途相比，优选对作为最终产品的膜卷轴中是否存在异物的混入进行检查。由于电池分离膜等膜是聚合物膜，想要检测的异物是金属，因此，作为检测膜卷轴中的金属异物的方法，以下的放射线透过检查方法是有效的方法：从膜卷轴的外侧照射X射线或γ射线等放射线，将因放射线难本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种放射线透过检查方法，将在芯的外周面上卷绕多圈长条的膜而得到的膜卷轴作为检查对象，其中，/n设卷轴的一侧的侧面为侧端部A、另一侧的侧面为侧端部B，在该放射线透过检查方法中包含以下工序：/n第1异物检测工序，用第1检测器检测从第1放射线源照射、从所述膜卷轴的侧端部A入射且在卷轴中透过、并从侧端部B射出的放射线，得到关于异物的信息；以及/n第2异物检测工序，用第2检测器检测从第2放射线源照射、从所述膜卷轴的侧端部B入射且在卷轴中透过、并从侧端部A射出的放射线，得到关于异物的信息。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180627 JP 2018-1219941.一种放射线透过检查方法，将在芯的外周面上卷绕多圈长条的膜而得到的膜卷轴作为检查对象，其中，
设卷轴的一侧的侧面为侧端部A、另一侧的侧面为侧端部B，在该放射线透过检查方法中包含以下工序：
第1异物检测工序，用第1检测器检测从第1放射线源照射、从所述膜卷轴的侧端部A入射且在卷轴中透过、并从侧端部B射出的放射线，得到关于异物的信息；以及
第2异物检测工序，用第2检测器检测从第2放射线源照射、从所述膜卷轴的侧端部B入射且在卷轴中透过、并从侧端部A射出的放射线，得到关于异物的信息。


2.根据权利要求1所述的放射线透过检查方法，其中，
所述第1放射线源与第1检测器之间的距离(FID)和所述第2放射线源与第2检测器之间的距离(FID)相等，并且，
第1放射线源与侧端部A之间的距离(FOD)和第2放射线源与侧端部B之间的距离(FOD)相等。


3.根据权利要求2所述的放射线透过检查方法，其特征在于，
所述FID和FOD满足式(1)：
0.2≤(T+2FOD)/2FID≤0.5……(1)
其中，T表示膜卷轴的厚度。


4.根据权利要求1～3中的任意一项所述的放射线透过检查方法，其中，
根据从第1异物检测工序得到的异物信息和从第2异物检测工序得到的异物信息来求出混入到膜卷轴中的异物的位置信息和异物的大小。


5.根据权利要求1～4中的任意一项所述的异物的放射线透过检查方法，其中，
同时执行所述第1异物检测工序和所述第2异物检测工序。


6.根据权利要求1～4中的任意一项所述的放射线透过检查方法，其中，
使用第1放射线源作为第2放射线源。


7.根据权利要求2或3所述的放射线透过检查方法，其中，
还具有：第3异物检测工序，用第3检测器检测从第3放射线源照射、从所述膜卷轴的侧端部A入射且在卷轴中透过、并从侧端部B射出的放射线，得到关于异物的信息；以及第4异物检测工序，用第4检测器检测从第4放射线源照射、从所述膜卷轴的侧端部A入射且在卷轴中透过、并从侧端部B射出的放射线，得到关于异物的信息，
所述第3放射线源与侧端部A之间的距离(FOD)以及所述第4放射线源与侧端部B之间的距离(FOD)是与所述第1放射线源与侧端部A之间的距离(FOD)以及所述第2放射线源与侧端部B之间的距离(FOD)不同的距离。


8.根据权利要求1～6中的任意一项所述的放射线透过检查方法，其中，
还具有根据从所述第1异物检测工序得到的信息和从所述第2异物检测工序得到的信息来计算异物的大小的工序。


9.一种放射线透过检查装置，其能够将在芯的外周面上卷绕多圈长条的膜而得到的膜卷轴作为检查对象，其中，
设卷轴的一侧的侧面为侧端部A、另一侧的侧面为侧端部B，
该放射线透过检查装置具有：
保持部，其把持所述膜卷轴的芯；
第1测定部，其由第1放射线源和第1检测器构成，所述第1放射线源照射被设置成从所述膜卷轴的侧端部A入射、在卷轴中透过且从侧端部B射出的放射线，所述第1检测器检测从侧端部B射出的放射线；以及
第2测定部，其由第2放射线源和第2检测器构成，该第2放射线源设置于从所述第1检测器离开的位置，配置成从所述膜卷轴的侧端部B入射、在卷轴中透过且从侧端部A射出，该第2检测器检测从侧端部A射出的放射线。

【专利技术属性】
技术研发人员：渡边充，
申请(专利权)人：东丽株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP