一种防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析方法和装置，所述装置包括：关键信息存储单元，用于存储关键信号和关键信号对应的路径信息；仿真电路单元，用于接收测试激励信息进行仿真测试；关键信号监控单元，用于在仿真测试时，根据所述关键信号对应的路径信息监控所述关键信号，并在所述关键信号发生变化时，记录当前时间戳信息；电磁辐射计算单元，用于计算待测电路在整个仿真过程中的电磁辐射仿真数据；电磁辐射分析单元，用于分析各关键信号在所述变化时间区对应的电磁辐射信息是否存在相关性，若是则导出相关数据。通过上述方案，在芯片设计阶段，就可以模拟芯片的安全仿真测试，且能够自动完成电磁辐射攻击分析。

【技术实现步骤摘要】
一种防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析方法和装置
本专利技术涉及芯片电路设计领域，特别涉及一种防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析方法和装置。
技术介绍
SSD数据存储已经逐渐成为消费设备数据存储和云存储的主要存储介质。对于SSD数据存储来说,数据纠错的意义十分重大,特别是个人关键数据和政府机构相关的数据。SSD主控芯片作为SSD存储设备的大脑,其安全性能直接决定SSD硬盘整体最终的安全性能。侧信道攻击是主要的黑客攻击手段,在侧信道攻击中,SEMA攻击又是最常用的的一种。SEMA是基于电磁辐射攻击的一种方式，黑客通过分析待测电路在运行关键信息时的电磁辐射信息就可以推断出当前待测电路正在运算的内容。目前技术上有很多防御电磁辐射攻击的算法和方法,但是都是要等到测试芯片设计完成后再进行详细的验证。因此设计一种能够快速的防电磁辐射攻击验证仿真平台就显示非常有意义。
技术实现思路
为此，需要提供一种防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析的技术方案，用以解决在芯片设计过程中无法针对电磁辐射攻击进行仿真防御的问题。r>为实现上述目的，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置，其特征在于，所述装置包括：/n关键信息存储单元，用于存储关键信号和关键信号对应的路径信息；/n仿真电路单元，用于接收测试激励信息进行仿真测试；所述激励信息包括所述关键信号；/n关键信号监控单元，用于在仿真测试时，根据所述关键信号对应的路径信息监控所述关键信号，并在所述关键信号发生变化时，记录当前时间戳信息，并将当前时间戳信息存储至所述变化时间存储单元中；/n电磁辐射计算单元，用于计算待测电路在整个仿真过程中的电磁辐射仿真数据，并将所述电磁辐射仿真数据存储于电磁辐射数据存储单元中；/n电磁辐射分析单元，用于根据所述变化时间存储单元中存储的时间戳信...

【技术特征摘要】
1.一种防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置，其特征在于，所述装置包括：
关键信息存储单元，用于存储关键信号和关键信号对应的路径信息；
仿真电路单元，用于接收测试激励信息进行仿真测试；所述激励信息包括所述关键信号；
关键信号监控单元，用于在仿真测试时，根据所述关键信号对应的路径信息监控所述关键信号，并在所述关键信号发生变化时，记录当前时间戳信息，并将当前时间戳信息存储至所述变化时间存储单元中；
电磁辐射计算单元，用于计算待测电路在整个仿真过程中的电磁辐射仿真数据，并将所述电磁辐射仿真数据存储于电磁辐射数据存储单元中；
电磁辐射分析单元，用于根据所述变化时间存储单元中存储的时间戳信息计算变化时间区，以及根据所述电磁辐射数据存储单元中的电磁辐射仿真数据输出各关键信号在所述变化时间区对应的电磁辐射信息，并分析各关键信号在所述变化时间区对应的电磁辐射信息是否存在相关性，若是则导出相关数据；
所述变化时间区是指当前关键信号发生变化的时间戳信息与上一次该关键信号发生变化的时间戳信息的差值时间段。


2.如权利要求1所述的防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置，其特征在于，所述装置还包括：
仿真波形存储单元，用于存储仿真电路单元进行仿真测试得到的仿真波形数据；
逻辑综合单元，用于对待测电路进行逻辑综合运算，得到网表信息；
ICC布局布线单元，用于根据所述网表信息计算电磁参数文件信息；
电磁辐射计算单元，用于获取所述仿真波形数据和所述电磁参数文件信息，以计算待测电路在整个仿真过程中的电磁辐射仿真数据。


3.如权利要求1所述的防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置，其特征在于，所述关键信号监控单元包括标记插入单元；
所述标记插入单元用于设置标记信号，并将所述标记信号插入所述关键信号对应的路径信息中，以及在所述标记信号值发生变化时，记录当前时间戳信息；所述标记信号的值与所述关键信号的值实时相等。
所述电磁辐射分析单元用于提取所述标记信号，根据各标记信号的时间戳信息计算所述关键信号对应的变化时间区。


4.如权利要求1所述的防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置，其特征在于，所述装置还包括：
随机数产生单元，用于产生随机数；
仿真激励生成单元，用于根据所述随机数产生单元产生的随机数生成测试激励信息，并将所述测试激励信息传输给所述仿真电路单元。


5.如权利要求1所述的防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置，其特征在于，关键信号包括多个变化值；
电磁辐射分析单元用于在关键信号为某一变化值时对应的电磁辐射信息与其他变化值对应的电磁辐射信息的差异大于预设误差时，则判定关键信号在该变化值的电磁辐射信息存在相关性。


6.如权利要求1所述的防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置，其特征在于，所述关键信息包括测试密钥信息；所述装置包括：
密钥产生单元，用于产生所述测试密钥信息；
密钥记录单元，用于存储所述测试密钥信息；
电磁辐射分析单元，用于判断测试密钥信息在变化时间区上的电磁辐射信息是否相关。


7.如权利要求6所述的防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置，其特征在于，所述密钥产生单元包括：
源数据存储单元，用于存储加密后的源数据，所述源数据包括源密钥和层级加解密算法；
源数据解密单元，用于获取所述加密后的源数据进行解密，得到解密后的源密钥和解密后的层级加解密...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖裕民，陈娇丽，刘承，骆飞，刘学，
申请(专利权)人：深圳安捷丽新技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44