电子开关测试装置及方法制造方法及图纸

本申请公开了一种电子开关测试装置及方法，涉及电子开关技术领域，电子开关测试装置包括：控制单元、待测开关、负载模拟单元、计数单元及冲击电流检测单元。所述控制单元用于控制所述待测开关的导通和断开状态；所述负载模拟单元用于在通过所述待测开关使所述负载模拟单元与所述电源导通时产生冲击电流；所述冲击电流检测单元用于在所述待测开关导通时，检测是否存在冲击电流，若存在，则触发所述计数单元更新当前计数值，所述当前计数值表征所述负载模拟单元与所述电源的导通次数，若不存在，则向所述控制单元发送停止测试指令。本申请通过简单易行的方式，测试了待测开关在较大冲击电流下的使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
电子开关测试装置及方法
本申请涉及电子开关的寿命检测装置
，具体而言，涉及一种电子开关测试装置及方法。
技术介绍
目前，电子开关已经广泛应用在各种场合的智能照明系统中，其中，由于照明系统中的一些灯具可能为LED(LightEmittingDiode，发光二极管)灯，LED灯具有一定的容性，在电子开关的开关瞬间会产生很大的冲击电流，导致电子开关损坏。因此，对电子开关在较大的冲击电流下的寿命检测就显得尤为重要。
技术实现思路
本申请提出了一种电子开关测试装置及方法，以改善上述缺陷。第一方面，本申请实施例提供了一种电子开关测试装置，所述电子开关测试装置包括：控制单元、待测开关、负载模拟单元、计数单元、整流单元及冲击电流检测单元，所述控制单元用于控制所述待测开关的导通和断开状态；所述负载单元用于在通过所述待测开关使所述负载模拟单元与所述电源导通时产生冲击电流；所述冲击电流检测单元用于在所述待测开关导通时，检测是否存在冲击电流，若存在，则触发所述计数单元更新当前计数值，所述当前计数值表征所述负载模拟单元与所述电源的导通次数，若不本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子开关测试装置，其特征在于，所述装置包括：/n与待测开关连接的控制单元，用于控制所述待测开关的导通和断开状态；/n与电源连接的待测开关；/n与所述待测开关串联的负载模拟单元，用于在通过所述待测开关使所述负载模拟单元与所述电源导通时产生冲击电流；/n与所述负载模拟单元并联的计数单元；以及，/n与所述负载模拟单元和计数单元电连接且与所述控制单元连接的冲击电流检测单元，用于在所述待测开关导通时，检测是否存在冲击电流，若存在，则触发所述计数单元更新当前计数值，所述当前计数值表征所述负载模拟单元与所述电源的导通次数，若不存在，则向所述控制单元发送停止测试指令。/n

【技术特征摘要】
1.一种电子开关测试装置，其特征在于，所述装置包括：
与待测开关连接的控制单元，用于控制所述待测开关的导通和断开状态；
与电源连接的待测开关；
与所述待测开关串联的负载模拟单元，用于在通过所述待测开关使所述负载模拟单元与所述电源导通时产生冲击电流；
与所述负载模拟单元并联的计数单元；以及，
与所述负载模拟单元和计数单元电连接且与所述控制单元连接的冲击电流检测单元，用于在所述待测开关导通时，检测是否存在冲击电流，若存在，则触发所述计数单元更新当前计数值，所述当前计数值表征所述负载模拟单元与所述电源的导通次数，若不存在，则向所述控制单元发送停止测试指令。


2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述负载模拟单元包括：
纯阻性负载，用于模拟所述容性负载的输出负载；以及，
与所述纯阻性负载并联的电容，所述电容用于在所述待测开关与所述电源导通时产生所述冲击电流。


3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述纯阻性负载的电阻值根据所述容性负载的额定功率以及所述负载模拟单元的端电压确定。


4.根据权利要求1-3中任一项所述的装置，其特征在于，所述计数单元用于在每检测到一次所述冲击电流时，将当前计数值累加1；以及，
当所述计数单元在所述待测开关导通后的第一预设时间段内未检测到电流时，保持当前计数值，并且向所述控制单元发送所述停止测试指令。


5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述冲击电流检测单元还用于在所述待测开关导通后的第二预设时间段内多次判断所述负载模拟单元产生的电流是否为所述冲击电流，若在所述第二预设时间段内每次判断结果均为否，则向所述控制单元...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈宏辉，麦柳桥，
申请(专利权)人：深圳市欧瑞博科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44