一种GIL局部放电源定位方法和系统技术方案

本发明专利技术公开了一种GIL局部放电源定位方法，包括步骤：(1)建立与实际GIL尺寸相同的仿真模型，并进行光学信号仿真，构建局部放电仿真指纹库Ψ(2)拟合出GIL中所有位置局部放电指纹，以将Ψ扩展为Ψ’(3)构建有若干个基分类器的Bagging‑KELM模型，用Bagging算法对扩展后光学局部放电仿真指纹库Ψ’进行重新采样，获得随机选择的若干个子指纹库，各子指纹库与个基分类器对应，采用各子指纹库对各基分类器进行训练，以使每一个基分类器均输出局部放电源位置坐标，Bagging‑KELM模型的输出为各基分类器输出局部放电源位置坐标的平均值(4)将实际检测的GIL局部放电光学指纹输入到经过训练的Bagging‑KELM模型中，得到实际局部放电源位置。此外，本发明专利技术还公开了一种GIL局部放电源定位系统。

【技术实现步骤摘要】
一种GIL局部放电源定位方法和系统
本专利技术涉及一种定位方法和系统，尤其涉及一种局部放电源定位方法和系统。
技术介绍
近年来，随着能源生产和工业化的迅速发展，对于长距离大容量高压输电的需求也急剧增加。气体绝缘传输线具有十分优越的性能，其不仅具有较低的生命周期成本，还具有较高的安全性和较大的传输容量。因其优越的性能，气体绝缘传输线在全球范围内得到了广泛的应用。在气体绝缘输电线路(gasinsulatedtransmissionline，GIL)的运行过程中，由于缺陷的存在(例如表面的异常粗糙度和GIL中的游离颗粒)，而将发生局部放电。局部放电会导致绝缘介质变质甚至损坏，从而严重影响GIL的运行的安全性。因此，需要对GIL的局部放电源进行定位，以有效确定绝缘缺陷的位置，帮助评估绝缘状态，及时制定维护策略。局部放电的发生伴随着电学、电磁学、声学和光学现象。因此，局部放电除了电流检测、特高频(UHF)检测、高频检测和超声检测法以外，光学检测由于其在高灵敏度、抗电磁干扰、抗震动干扰等方面的优势而成为一种新颖且有效的局部放电检测方本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种GIL局部放电源定位方法，其特征在于，包括步骤：/n(1)建立与实际GIL尺寸完全相同的仿真模型，并对所述仿真模型的局部放电源进行光学信号仿真，以构建局部放电仿真指纹库Ψ；/n(2)拟合出GIL中所有位置的局部放电指纹，以将所述光学局部放电仿真指纹库Ψ扩展为Ψ’；/n(3)构建Bagging-KELM模型，所述Bagging-KELM模型具有若干个基分类器，采用Bagging算法对扩展后的光学局部放电仿真指纹库Ψ’进行重新采样，以获得随机选择的若干个子指纹库，所述若干个子指纹库与若干个基分类器对应，采用各子指纹库对各基分类器进行训练，以使得每一个基分类器均输出局部放电源的位置坐标，所述...

【技术特征摘要】
20200903 CN 20201091531351.一种GIL局部放电源定位方法，其特征在于，包括步骤：
(1)建立与实际GIL尺寸完全相同的仿真模型，并对所述仿真模型的局部放电源进行光学信号仿真，以构建局部放电仿真指纹库Ψ；
(2)拟合出GIL中所有位置的局部放电指纹，以将所述光学局部放电仿真指纹库Ψ扩展为Ψ’；
(3)构建Bagging-KELM模型，所述Bagging-KELM模型具有若干个基分类器，采用Bagging算法对扩展后的光学局部放电仿真指纹库Ψ’进行重新采样，以获得随机选择的若干个子指纹库，所述若干个子指纹库与若干个基分类器对应，采用各子指纹库对各基分类器进行训练，以使得每一个基分类器均输出局部放电源的位置坐标，所述Bagging-KELM模型的输出为各基分类器输出的局部放电源的位置坐标的平均值；
(4)将实际检测到的GIL局部放电的光学指纹输入到经过训练的Bagging-KELM模型中，以输出得到实际局部放电源的位置。


2.如权利要求1所述的GIL局部放电源定位方法，其特征在于，在所述步骤(1)中：
(a)在所述仿真模型中选取N个点模拟局部放电源的位置；
(b)采用M个仿真探测点对各局部放电源的光辐照度进行采集；
(c)将各仿真探测点的局部放电信号互相相减，以得到两个仿真探测点之间的光辐照度差值δ′h,j：







其中，D表示相减后的局部放电仿真指纹的维数，和分别表示仿真探测点a和b采集到的位于第j个位置的局部放电源所散发的光辐照度，M对应于M个仿真探测点，Z表示正整数；
(d)将同一个局部放电源的所有光辐照度差值进行归一化处理，得到归一化处理后的光伏照度值δh,j；
(e)采用主成分分析特征提取算法，对N个向量[δ1,j,δ2,j,…,δD,j]T提取P个主成分来作为局部放电仿真指纹列向量
(f)将所有的局部放电仿真指纹列向量Ψj组合，构建光学局部放电仿真指纹库Ψ：



其中，P对应上述P个主成分，以表示仿真指纹的维度，并且P<D；N对应上文所述的N个点，以表示仿真局部放电源的数量。


3.如权利要求1所述的GIL局部放电源定位方法，其特征在于，在所述步骤(2)中，采用双调和样条插值法拟合出GIL中所有位置的局部放电指纹。


4.如权利要求1所述的GIL局部放电源定位方法，其特征在于，所述基分类器的数量为10个。


5.如权利要求1所述的GIL局部放电源...

【专利技术属性】
技术研发人员：臧奕茗，钱勇，王辉，李泽，舒博，盛戈皞，江秀臣，
申请(专利权)人：上海交通大学，
类型：发明
国别省市：上海;31