一种激光辅助识别赫尔-肖氏薄板中颗粒分布的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种激光辅助识别赫尔‑肖氏薄板中颗粒分布的装置，包括设置在密封摄影棚内的赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架，该玻片架上放置有赫尔‑肖氏盛颗粒玻片，该玻片的上下方分别设置有激光灯和CCD相机，激光灯可射出光束直径为30mm的红光点状激光平行光源，CCD相机的镜头冲向赫尔‑肖氏盛颗粒玻片，并连接至数据处理系统；赫尔‑肖氏盛颗粒玻片中的两玻片之间的距离可在0.5～3.0mm之间调节；数据处理系统包括安装在一台计算机中的Matlab和AlgolabPtVector软件，数据处理系统接收、记录和处理来自于CCD相机的数据，通过所识别图片上呈现的不同明暗程度来获得颗粒的薄厚程度，确定颗粒运动轨迹与侵蚀区域，用来观察赫尔‑肖氏薄板中后源侵蚀的发展过程。

【技术实现步骤摘要】
一种激光辅助识别赫尔-肖氏薄板中颗粒分布的装置
本技术涉及水利及岩土工程试验系统，特别涉及一种激光辅助识别赫尔-肖氏薄板中颗粒分布，并确定颗粒运动轨迹与侵蚀区域的试验系统。
技术介绍
颗粒起动是颗粒运动的基本问题之一，掌握颗粒起动规律对颗粒运动的研究有十分重要的意义。激光辅助识别赫尔-肖氏薄板中颗粒分布的装置及方法能够确定颗粒薄厚分布变化过程，对于观察总结颗粒起动规律具有十分重要的作用。目前赫尔-薄板试验中盛颗粒玻片间距离不可变，且无法直接由肉眼观测得到赫尔-肖氏薄板中颗粒薄厚分布情况与变化过程。由于光的折射，赫尔-肖氏薄板试验中赫尔-肖氏薄板中颗粒在平行自然光下也是无法识别的，而激光由于具有非常好的方向性、单色性和极高的发光强度，能够从单个颗粒层面上研究赫尔-肖氏薄板中颗粒的层数分布情况，确定颗粒的运动轨迹，有利于掌握颗粒起动规律，深入研究后源侵蚀的起动以及发展过程。为得到精确的试验结果，急需提出一种试样分布情况的检验方法，在试验过程中对试样进行科学的检测。
技术实现思路
针对上述现有技术，本技术提出一种激光辅助识别赫尔-肖氏本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种激光辅助识别赫尔-肖氏薄板中颗粒分布的装置，包括设置在密封摄影棚(5)内的赫尔-肖氏盛颗粒玻片架(1)，所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片架(1)上放置有赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)，所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)的上方设置有光源，所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)的下方设有CCD相机(3)，所述CCD相机(3)连接至数据处理系统(4)；其特征在于，/n所述光源采用激光灯(2)；/n所述激光灯(2)的型号为ZLM12D650-43BD，可射出光束直径为30mm的红光点状激光平行光源；所述激光灯(2)的高度根据所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)的半径进行调整，以保证所述激光灯(2)射出光束的直径≥赫尔-肖氏...

【技术特征摘要】
1.一种激光辅助识别赫尔-肖氏薄板中颗粒分布的装置，包括设置在密封摄影棚(5)内的赫尔-肖氏盛颗粒玻片架(1)，所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片架(1)上放置有赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)，所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)的上方设置有光源，所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)的下方设有CCD相机(3)，所述CCD相机(3)连接至数据处理系统(4)；其特征在于，
所述光源采用激光灯(2)；
所述激光灯(2)的型号为ZLM12D650-43BD，可射出光束直径为30mm的红光点状激光平行光源；所述激光灯(2)的高度根据所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)的半径进行调整，以保证所述激光灯(2)射出光束的直径≥赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)的直径；
所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片(6)中的两玻片之间的距离可调，间距调节的范围在0...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑刚，王佳琳，张天奇，佟婧博，朱锐，王瑞坤，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：新型
国别省市：天津;12