多边形滤片挟持器具制造技术

一种多边形滤片挟持器具，其特征在于，包含： 一基座； 一用以调整滤片测量角度的转盘，枢接于该基座； 一挡止元件组，设置于该转盘上； 一定位板，可滑动地滑接于该挡止元件组之间；以及 一用以挟持一多边形滤片的支架，设置于该定位板之上。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种多边形滤片挟持器具，特别是一种利用在光学仪器中的多边形滤片挟持器具。在光电产业中，光学滤片的应用极广，通常用在过滤噪声或分离不同波长的信号，如高密度分波多任务器(DWDM，Dense WavelengthDivision Multiplexing)。在光学滤片制造过程中，需要经过光学仪器测量其光谱图，以确保光学滤片的良率。一般在光学仪器中所使用的滤片挟持器具3是利用上下各一片夹具挟持欲测量的光学滤片，如附图说明图1所示。当测量光学滤片的光谱图时，将光学滤片置于下方夹具31，再依光学滤片的大小将上方夹具32利用旋转钮33转紧固定。另外，第二种常用的方式是利用弹簧将光学滤片固定于器具上。上述两种滤片挟持器具由于无法固定光学滤片的X轴位置，在多次测量中光学滤片会有定位的困难，导致测量的低重复性以及较差的精确性。再者，在挟持光学滤片的过程中，亦容易发生刮伤光学滤片的问题，进而损坏光学滤片的表面，对于整个光学滤片生产的良率亦有很大的影响。为达到上述目的，本技术提供一种多边形滤片挟持器具，其包含一基座、一转盘、一挡止元件组、一定位板以及一支架。其中，转盘枢接于基座；挡止元件组设置于转盘；定位板滑接于挡止元件组的间，以使其可于该挡止元件间滑动；支架设置于定位板之上，用以挟持一多边形滤片。换言之，本技术的多边形滤片挟持器具，包含一基座；一用以调整滤片测量角度的转盘，枢接于该基座；一挡止元件组，设置于该转盘上；一定位板，可滑动地滑接于该挡止元件组之间；以及一用以挟持一多边形滤片的支架，设置于该定位板之上。与现有技术相比，在本技术中提供一种多边形滤片挟持器具，所挟持的光学滤片并不仅限于传统的矩形。并且，支架的设计使光学滤片定位容易、放置方便，测量到的结果准确性佳、重复性亦高。再者，由于不需使用上下两片夹具，所以光学滤片在测量中不易产生刮伤，确保滤片的完整性，进而降低成本。图中符号说明1 多边形滤片挟持器具11基座12转盘13挡止元件组14定位板15支架151 主支架 152 第一子支架153 第二子支架2光学滤片3滤片挟持器具31 下方夹具32 上方夹具33 旋转钮本技术提供一种多边形滤片挟持器具1，包含一基座11、一转盘12、一挡止元件组13、13、一定位板14以及一支架15。其中，转盘12枢接于基座11；该挡止元件13、13设置于转盘12；定位板14滑接于该挡止元件13、13之间，使其可于该挡止元件13、13之间滑动；支架15设置于定位板14之上，用以挟持一多边形滤片。图2A是本实施例中的基座11的立体图，基座11的功能在将多边形滤片挟持器具1固定于光学仪器的测量槽(未显示)中，以防止多边形滤片挟持器具1在测量人员置换光学滤片时造成位移。在此，基板11的特点包括重心低、平稳而不易产生摇晃。图2B是本实施例中的转盘12的立体图，转盘12枢接于基座11之上。转盘12的功能在调整多边形滤片的测量角度，亦即，调整光学仪器所发出的光线至光学滤片的入射角度。由于不同的入射角度所测量到的光谱图会有所不同，所以可利用转盘12来测量不同角度的光谱图。图2C是本实施例中的挡止元件组13、13，该挡止元件13、13设置于转盘12之上。图2D是本实施例中的定位板14的立体分解图，定位板14滑接于挡止元件组13、13之间。定位板14上设有刻度，藉以调整支架15的位置，在测量过程中调整至适当的位置，当调整至适当位置时，再以螺丝固定其位置。图2E是本实施例的支架15的立体分解图，支架15设置于定位板14之上，用以挟持多边形滤片。于本实施例中，支架15包含一主支架151、一第一子支架152与一第二子支架153。第一子支架152与第二子支架153固定于主支架151上，其中，第一子支架152与第二子支架153之间的夹角可依需要而调整。亦即，所测量的光学滤片形状不限于一般传统的矩形，只需能紧靠于第一子支架152与第二子支架153即可，所以所测量的滤片可为扇形、三角形或是其它多边形等等。第一子支架152与第二子支架153分别具有一沟槽，其功用是让操作者在摆放滤片时能够轻易地定位，防止滤片摇晃而产生测量的误差。图3是多边形滤片挟持器具1的立体图，可明显看出各元件之间的相对位置关系。其中，转盘12枢接于基座11之上；挡止元件组13、13设置于转盘12；定位板14滑接于挡止元件组13、13之间；支架15设置于定位板14之上。图4是本实施例的具体实施示意图。在利用光学仪器进行光学滤片2的测量时，一开始必须将基座11锁在光学仪器的测量槽中，将光学滤片2放置在支架15上，利用所测得的光谱图调整转盘12以及定位板14的位置以进行校正，在完成校正之后，即可进行光学滤片的测量。本技术所提供的多边形滤片挟持器具，是用于光学仪器中测量光学滤片的光谱图，用以进行光学滤片良率的测量。与现有技术相比，本技术的多边形滤片挟持器具所挟持的光学滤片不仅限于矩形，而可为多边形的光学滤片。又，利用多边形滤片挟持器具可以快速且轻易的定位，所以能得到较高的重复性以及较佳的精确性。再者，不需利用上下挟持器具，亦不易造成光学滤片的刮伤，减少滤片的损坏，进而降低成本的增加。上述仅为举例性，而非为限制性。任何未脱离本技术的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含于本技术的保护范围中。权利要求1.一种多边形滤片挟持器具，其特征在于，包含一基座；一用以调整滤片测量角度的转盘，枢接于该基座；一挡止元件组，设置于该转盘上；一定位板，可滑动地滑接于该挡止元件组之间；以及一用以挟持一多边形滤片的支架，设置于该定位板之上。2.如权利要求1所述的多边形滤片挟持器具，其特征在于该定位板设有用以调整该支架位置的刻度。3.如权利要求1所述的多边形滤片挟持器具，其特征在于该支架包含一主支架、一第一子支架以及一第二子支架，该第一子支架与该第二子支架之间的夹角可依需要而调整。4.如权利要求3所述的多边形滤片挟持器具，其特征在于该第一子支架与该第二子支架分别具有一沟槽。专利摘要本技术提供一种多边形滤片挟持器具，其包含一基座、一转盘、一挡止元件组、一定位板以及一支架。其中，转盘枢接于基座；挡止元件组设置于转盘；定位板滑接于挡止元件组之间，以使其可于该挡止元件间滑动；支架设置于定位板之上，用以挟持一多边形滤片。与现有技术相比，在本技术中提供一种多边形滤片挟持器具，所挟持的光学滤片并不仅限于传统的矩形。并且，支架的设计使光学滤片定位容易、放置方便，测量到的结果准确性佳、重复性亦高。再者，由于不需使用上下两片夹具，所以光学滤片在测量中不易产生刮伤，确保滤片的完整性，进而降低成本。文档编号G02B5/20GK2549490SQ0223694公开日2003年5月7日 申请日期2002年6月5日 优先权日2002年6月5日专利技术者陈士恩 申请人:精碟科技股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈士恩，
申请(专利权)人：精碟科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：