【技术实现步骤摘要】
本技术涉及物体表面的深度信息，是一种用于测量视场中物体 表面的深度信息的单孔径多重成像的光学成像测距装置，即物体表面上 点到视点之间的距离。获得的距离信息可用于物体三维形貌的重建，目 标特征识别，以及自动车辆，机器人导航等。
技术介绍
普通光学成像系统的成像过程一般是三维物空间到二维像空间的映 射，成像过程中往往丢失了景物的深度信息。而获得图像的深度信息即 物体表面上各点到视点的距离在很多应用中是非常重要。常用的被动式 距离恢复方法有立体视觉方法、光学微分方法、微透镜阵列的单目立体 方法以及孔径编码层析成像方法等。立体视觉方法是通过在空间放置两 台或多台相机对同一目标物体在不同的视点进行摄像。由于视点不同， 所成的图像之间存在着视差，即同一物点的像点分布在各个相机像接收 面的不同位置上。如果能够从每幅视差图像中找到同一物点的对应像点， 然后根据三角几何就可以计算出物点的距离来。但是这种方法需要相机 的精确定位和复杂标定，并且由于在图像间寻找同一物点的像即图像的 匹配需要大量极其复杂的计算，因此限制了其应用范围。为了解决立体视觉方法中存在的内在困难，人们提出了光学...
【技术保护点】
一种单孔径多重成像的光学成像测距装置，其特征在于构成：同光轴地依次包括成像主透镜（２）、多重成像元件（３）、场镜（４）和光电探测器（５），该光电探测器（５）的输出端接数字图像处理器（６），所述的成像主透镜（２）与多重成像元件（３）紧贴在一起。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：阳庆国，刘立人，栾竹，刘德安，孙建锋，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]
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