氧化膜检测方法及氧化膜检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提出一种氧化膜检测方法及氧化膜检测装置，用以检测由导电体制得的工件，所述工件的表面具有氧化膜，该检测方法包括如下步骤：将所述工件置于电解液中进行电解，以析出金属单质形成团聚物，其中，所述电解液为包含金属盐、缓蚀剂和润湿剂的混合物；根据所述团聚物评定所述氧化膜的膜层质量。本发明专利技术操作简单，可以目视标定，安全性高，不破坏氧化膜的性能，速度快，误判率低。

【技术实现步骤摘要】
氧化膜检测方法及氧化膜检测装置
本专利技术涉及一种氧化膜检测方法及氧化膜检测装置，特别是一种电子设备或金属工件的阳极氧化膜的检测方法及阳极氧化膜检测装置。
技术介绍
阳极氧化工艺，广泛应用于金属消费性电子产品零部件或关键组件的外观加工中，特别是应用于手机和平板计算机的外构件壳体产业中，阳极氧化工艺是目前电子产品制造业中最常用来进行工件表面装饰与防腐蚀的技术。传统阳极氧化流程一般是在工件上生长出均一的膜层，该膜层的厚度可能为数微米至数十微米，但因工件设计造型不同，阳极氧化膜在工件边角尖锐处容易发生电流聚集、尖端电流密度过大的现象，进而导致边角尖锐处的焦耳热效应远大于其他正常平坦部位，从而导致边角膜层容易开裂、剥落而露出底材(俗称“崩膜”或“膜裂”)，该不良现象若发生在产品表面，不仅会影响外观的美观度，而且防蚀能力会大幅降低，因此，阳极氧化膜的连续性及膜层质量是阳极氧化表面处理工艺中需检测并评估的项目。在传统阳极氧化膜破损检测方法中，一般以目视法、加速腐蚀法、导纳法等为主。传统阳极氧化膜破损检测方法具有实用范围小、工艺要求高、步骤复本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种氧化膜检测方法，用于检测由一导电体制得的工件，所述工件的表面具有氧化膜，所述检测方法包括：/n将电解液中的所述工件进行电解，以析出金属单质形成团聚物，其中，所述电解液为包含金属盐、缓蚀剂和润湿剂的混合物；/n根据所述团聚物评定所述氧化膜的膜层质量。/n

【技术特征摘要】
1.一种氧化膜检测方法，用于检测由一导电体制得的工件，所述工件的表面具有氧化膜，所述检测方法包括：
将电解液中的所述工件进行电解，以析出金属单质形成团聚物，其中，所述电解液为包含金属盐、缓蚀剂和润湿剂的混合物；
根据所述团聚物评定所述氧化膜的膜层质量。


2.如权利要求1所述的氧化膜检测方法，其中所述金属盐包括硫酸铜、硫酸镍、硫酸铬、硫酸锌、硫酸锡、硫酸银、硝酸铜、硝酸镍、硝酸铬、硝酸锌、硝酸锡及硝酸银的至少一种，所述金属盐的浓度为3～30g/L。


3.如权利要求1所述的氧化膜检测方法，其中所述缓蚀剂包括丙三醇及乙二醇的至少一种，所述缓蚀剂的浓度为0.5～7g/L。


4.如权利要求1所述的氧化膜检测方法，其中所述润湿剂为包含磺酸根、磷酸根及硫酸根的至少一种的界面活性剂，所述润湿剂的浓度为0.1～2g/L。


5.如权利要求1所述的氧化膜检测方法，其中所述电解步骤包含以一电压，对电解液中的所述工件进行预定时长的电解，以析出所述金属单质形成团聚物，所述预定时长为1～150min，所述电压为1～6V。


6.如权利要求1所述的氧化膜检测方法，其中所述导电体包括铝、镁、钛、铝合金、镁合金及钛合金的至少一种；所述金属单质包括镍、铬、锌、锡、银和铜的至少一种。


7.如权利要求1所述的氧化膜检测方法，其中所述氧化膜的厚度为8μm～60μm。


8.如权利要求1所述的氧化膜检测方法，其中所述评定步骤包括：
比较电解前后所述工件的重量得到重量差Δm；
根据所述重量差Δm评定所述氧化膜的膜层质量。


9.如权利要求8所述的氧化膜检测方法，其中所述比较电解前后所述工件的重量得到重量差Δm，根据所述重量差Δm评定所述氧化膜的膜层质量的步骤包括：
比较所述重量差Δm及电解前所述工件的重量m，得到重量变化比例m％，其中m％＝Δm/m；
根据所述重量变化比例m％评定所述氧化膜的膜层质量级别。


10.如权利要求9所述的氧化膜检测方法，其中所述根据所述重量变化比例m％评定所述氧化膜的膜层质量级别还包括如下步骤：
若m％小于等于0.0002，评定氧化膜的膜层质量级别为第一质量级别；
若m％大于等于0.0005，评定氧化膜的膜层质量级别为第三质量级...

【专利技术属性】
技术研发人员：张东旭，王政权，韩家伟，
申请(专利权)人：深圳市裕展精密科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44