显示面板异物分层检测方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种显示面板异物分层检测方法和装置，所述方法通过单相机采集反射镜反射待测显示面板的第一反射图像和第二反射图像，并将所述第一反射图像和所述第二反射图像发送至图像处理机构，图像处理机构根据所述第一反射图像和所述第二反射图像判断所述待测显示面板的异物为面板上层缺陷或面板下层缺陷；能够用反射镜代替固定角度相机拍摄固定角度缺陷，从而减少相机个数控制成本，避免了多相机取图时的同步控制开发，减少图片传输处理的数据量，降低了调机难度，并且压缩了光机结构，为面板的生产提供数据支撑，高效的为面板行业提供有价值的工艺和品质控制，提高了面板异物分层检测的速度和效率，保证了显示面板的良品率。

【技术实现步骤摘要】
显示面板异物分层检测方法和装置
本专利技术涉及光学检测
，尤其涉及一种显示面板异物分层检测方法和装置。
技术介绍
在自动光学检测(AutomaticOpticInspection，AOI)的中小尺寸及穿戴产品缺陷自动化检测领域，通常无法有效区分缺陷位于显示面板内部还是外部；比如盖板玻璃(CoverGlass，CG)需要贴合在上偏光片或屏幕之上，在CG玻璃与偏光片之间容易夹入了灰尘，当灰尘为微米级别时，造成CG玻璃与上偏光片之间形成贴合异物缺陷，这种贴合异物缺陷会导致次品产生，而外部有些缺陷(比如灰尘、脏污等)可以通过清洁去掉，并不影响品质。因此，有效进行缺陷分层有巨大的价值。缺陷只能在固定角度才能显现，检测中对应的固定角度需放置对应的相机，才能检测出对应的缺陷，现有的检测方式为侧视线扫相机加镜头和侧视线扫相机加镜头同时拍摄样品上的缺陷，通常会有很多支相机，光机结构较大，需要多相机同步取像，数据量传输处理较大，成本较高，并且调机难度较大。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种显示面板异物分层检测方法和装本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板异物分层检测方法，其特征在于，所述显示面板异物分层检测方法包括：/n单相机采集反射镜反射待测显示面板的第一反射图像和第二反射图像，并将所述第一反射图像和所述第二反射图像发送至图像处理机构，其中，所述反射镜垂直设置在所述待测显示面板两侧；/n图像处理机构根据所述第一反射图像和所述第二反射图像判断所述待测显示面板的异物为面板上层缺陷或面板下层缺陷。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示面板异物分层检测方法，其特征在于，所述显示面板异物分层检测方法包括：
单相机采集反射镜反射待测显示面板的第一反射图像和第二反射图像，并将所述第一反射图像和所述第二反射图像发送至图像处理机构，其中，所述反射镜垂直设置在所述待测显示面板两侧；
图像处理机构根据所述第一反射图像和所述第二反射图像判断所述待测显示面板的异物为面板上层缺陷或面板下层缺陷。


2.如权利要求1所述的显示面板异物分层检测方法，其特征在于，所述单相机采集反射镜反射待测显示面板的第一反射图像和第二反射图像，并将所述第一反射图像和所述第二反射图像发送至图像处理机构之前，所述显示面板异物分层检测方法还包括：
调节单相机与反射镜中所述待测显示面板的反射成像的角度至预设角度。


3.如权利要求2所述的显示面板异物分层检测方法，其特征在于，所述调节单相机与反射镜中所述待测显示面板的反射成像的角度至预设角度之前，所述显示面板异物分层检测方法还包括：
调节反射镜与待测显示面板的相对距离，并获取所述反射镜中所述待测显示面板的反射成像与单相机的当前角度，将所述当前角度作为预设角度。


4.如权利要求2所述的显示面板异物分层检测方法，其特征在于，所述调节单相机与反射镜中所述待测显示面板的反射成像的角度至预设角度之前，所述显示面板异物分层检测方法还包括：
调节单相机与待测显示面板的采集距离，并获得所述单相机与所述反射镜中所述待测显示面板的反射成像的当前角度，将所述当前角度作为预设角度。


5.如权利要求1所述的显示面板异物分层检测方法，其特征在于，所述图像处理机构根据所述第一反射图像和所述第二反射图像判断所述待测显示面板的异物为面板上层缺陷或面板下层缺陷，包括：
所述图像处理机构对所述第一反射图像和所述第二反射图像进行成像重叠，并对重叠后的目标图像进行分析，生成分析结果；
根据所述分析结果判断所述待测显示面板...

【专利技术属性】
技术研发人员：王雷，李渊，欧昌东，
申请(专利权)人：武汉精测电子集团股份有限公司，武汉精立电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42