一种激光测距传感器测量系统及测量方法技术方案

本发明专利技术公开了一种激光测距传感器测量系统及测量方法，采用激光测距传感器和辅助测量装置，辅助测量装置包括参考面板和辅助参考面板，参考面、辅助参考面平行且间距已知，参考面板固定不动，辅助参考面板相对参考面板平行滑动，位于激光传感器与参考面板之间。目标点用激光测距传感器等效代替，测出其到参考面某一点的直线距离，辅助参考面板平行设在参考面板上，测出目标点到辅助参考面的直线距离，根据三角形的相似原理，便可得到目标点到参考面的垂直距离。本发明专利技术提供的方法可用于机械工程、控制科学与程、仪器科学与技术、测绘科学等多个领域中，具有结构简单，性能稳定良好，受环境影响小，成本廉价等多种优点。

【技术实现步骤摘要】
一种激光测距传感器测量系统及测量方法
本说明书涉及检测
，特别涉及一种激光测距传感器测量系统及测量方法。
技术介绍
为了实现精准的操作任务，要求机器人机械臂有很高的末端定位精度，为了提高机械臂末端定位精度，需对其运动学参数进行准确标定，而这一目标实现的基础是能够对末端进行精准测量定位。目前，大多数测量是通过激光测距传感器实现的，但是因为无法确保激光与参考面相垂直，所以大部分与角度传感器或CCD、PSD等光学检测仪器来协助完成测量目标。这些方式无疑增加了测量误差，且涉及工具较多，操作繁琐导致稳定性不足，效率较低。
技术实现思路
本专利技术提供了一种激光测距传感器测量系统及测量方法，采用末端测量定位，在避免使用多种测量工具的同时，还提高了测量精度，降低了成本，简化了测量系统。具体的技术方案为：一种激光测距传感器测量系统包括：激光测距传感器和辅助测量装置；所述激光测距传感器，用来测量待测目标到某一点的直线距离；所述辅助测量装置，包括参考面板和辅助参考面板；所述的参考面板的参考面和辅助参本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种激光测距传感器测量系统，其特征在于，包括：激光测距传感器(P)和辅助测量装置；/n所述激光测距传感器(P)，用来测量待测目标到某一点的直线距离；/n所述辅助测量装置，包括参考面板(M)和辅助参考面板(M’)；所述的参考面板(M)的参考面和辅助参考面板(M’)的辅助参考面相互平行且间距固定，表面光滑。/n

【技术特征摘要】
1.一种激光测距传感器测量系统，其特征在于，包括：激光测距传感器(P)和辅助测量装置；
所述激光测距传感器(P)，用来测量待测目标到某一点的直线距离；
所述辅助测量装置，包括参考面板(M)和辅助参考面板(M’)；所述的参考面板(M)的参考面和辅助参考面板(M’)的辅助参考面相互平行且间距固定，表面光滑。


2.根据权利要求1所述的一种激光测距传感器测量系统，其特征在于，辅助参考面板(M’)位于参考面板(M)上方，所述的激光测距传感器(P)位于辅助参考面板(M’)上方，参考面板(M)设有滑槽，辅助参考面板(M’)与参考面板(M)平行并形成滑动副...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘宜成，王宏，涂海燕，杨海鑫，
申请(专利权)人：四川大学，
类型：发明
国别省市：四川;51