【技术实现步骤摘要】
一种晶片倒角检测方法
本专利技术属于人造石英晶体片检测领域,特别涉及一种晶片倒角检测方法。
技术介绍
由于压电晶体具有三维轴向结构:电轴X轴、机械轴Y轴和光轴Z轴,在谐振器产品制作时,需要对晶片进行轴向区分,传统的是在X轴向上倒一个大角以区分X轴轴向和Z轴向角度,正X轴向或负X轴向,或者倒三个大角和一个小角等。在实际在加工过程中,由于AT35°切角带来Z轴向有一定残留斜角面,需要加以去除;造成产品不能再切割前预留做硬标识,加上各厂家设计不同,只有在加工后按照各个厂家规格书要求做倒角标识。传统采用测角仪逐片测角来有效地对倒角位置做准确定量判定,即根据轴向对应原子面角度确定轴向和倒角位置来确定位置是否准确,这样的检测方法具有工作人员强度大、劳动生产效率低、交货周期长、成本偏高等缺点。
技术实现思路
为了克服现有不足,本专利技术的目的在于提出一种利用轴向偏光判定定位晶片Z轴向原理从而有效快速地对Z轴向做出判断的人造石英晶片倒角检测方法。本专利技术的目的是采用以下技术方案来实现。依据本专利技术提出的一种晶片倒角检测方法,包括如下步骤:步骤一:在支架上同轴设置一个LED光源、固定偏光镜和旋转偏光镜,固定偏光镜位于旋转偏光镜下方,LED光源位于固定偏光镜下方;步骤二:打开LED光源,并调节可旋转偏光镜至视域最亮;步骤三:将已知光轴Z轴轴向的标准晶片放在固定偏光镜和旋转偏光镜之间并且轴向平行于偏光镜;步骤四:调节可旋转偏光镜,观察LED光源发出的光线透过标 ...
【技术保护点】
1.一种晶片倒角检测方法,其特征在于:包括如下步骤:/n步骤一:在支架上同轴设置一个LED光源、固定偏光镜和旋转偏光镜,固定偏光镜位于旋转偏光镜下方,LED光源位于固定偏光镜下方;/n步骤二:打开LED光源,并调节可旋转偏光镜至视域最亮;/n步骤三:将已知光轴Z轴轴向的标准晶片放在固定偏光镜和旋转偏光镜之间并且轴向平行于偏光镜;/n步骤四:调节可旋转偏光镜,观察LED光源发出的光线透过标准晶片的光线强度;/n步骤五:取待测晶片并将其叠放在一起,将其放在固定偏光镜和旋转偏光镜之间观察LED光源发出的光线透过该组待测晶片的光线强度;/n步骤六:对比光线透过待测晶片的光线强度与步骤四中已知的光线透过标准晶片的亮度情况,判定该部分晶片中是否存有倒角异常晶片;/n步骤七:将检测出来的倒角异常晶片采用定量测角方法重新进行单片轴向检测确认。/n
【技术特征摘要】
1.一种晶片倒角检测方法,其特征在于:包括如下步骤:
步骤一:在支架上同轴设置一个LED光源、固定偏光镜和旋转偏光镜,固定偏光镜位于旋转偏光镜下方,LED光源位于固定偏光镜下方;
步骤二:打开LED光源,并调节可旋转偏光镜至视域最亮;
步骤三:将已知光轴Z轴轴向的标准晶片放在固定偏光镜和旋转偏光镜之间并且轴向平行于偏光镜;
步骤四:调节可旋转偏光镜,观察LED光源发出的光线透过标准晶片的光线强度;
步骤五:取待测晶片并将其叠放在一起,将其放在固定偏光镜和旋转偏光镜之间观察LED光源发出的光线透过该组待测晶片的光线强度;
步骤六:对比光线透过待测晶片的光线强度...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱中晓,朱超,邓见会,
申请(专利权)人:北京石晶光电科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:北京;11
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