一种低制耳低硬度电容器外壳及其制备方法技术

本发明专利技术属于铝带压延制造技术领域，公开了一种低制耳低硬度电容器外壳及其制备方法。其组成成分及质量百分比为：Si 0.1％，Fe 0.18～0.28％，Cu≤0.03％，Mn≤0.01％，Zn≤0.03％，Ti≤0.03％，余量为Al。本发明专利技术的工艺流程包括熔炼、铸轧、粗轧，切边，精轧，成品退火等步骤，本发明专利技术制成的电容器外壳抗拉强度75‑85Mpa，延伸率可达30％以上，具有优越的加工性能，低强度，塑性好，延伸高，制耳率低，大大提升了加工效率。

【技术实现步骤摘要】
一种低制耳低硬度电容器外壳及其制备方法
本专利技术涉及一种低制耳低硬度电容器外壳及其制备方法，属于铝带压延制造

技术介绍
电容器是一种容纳电荷的器件，是电子产品不可或缺的关键元件，被广泛应用在电子产品电脑产品、通讯产品、仪器仪表、自动化控制、光电及军工领域，发展前景十分可观。而制耳率高一直是电容器外壳的一大难题。
技术实现思路
本专利技术旨在研究出低制耳，低硬度、加工性稳定的电容器外壳。基于本专利技术研究低制耳电容器外壳的目的，本专利技术提供的技术方案如下：一种低制耳低硬度电容器外壳，本专利技术提出一种新的合金技术方案，其特征在于：其原料组成成分及质量百分比为：Si≤0.1％，Fe0.18～0.28％，Cu≤0.03％，Mn≤0.01％，Zn≤0.03％，Ti≤0.03％，余量为Al。本专利技术还提供一种低制耳低硬度电容器外壳其制备方法，包括如下步骤：将上述原料充分搅拌均匀进行熔炼，熔炼后铸轧，铸轧后的铝卷成品厚度为6.2±0.3mm；将铸轧成品卷粗轧冷轧至0.7mm厚度，进行纵剪切边，切边本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种低制耳低硬度电容器外壳，其特征在于，其原料组成成分及质量百分比为：Si≤0.1％，Fe 0.18～0.28％，Cu≤0.03％，Mn≤0.01％，Zn≤0.03％，Ti≤0.03％，余量为Al。/n

【技术特征摘要】
1.一种低制耳低硬度电容器外壳，其特征在于，其原料组成成分及质量百分比为：Si≤0.1％，Fe0.18～0.28％，Cu≤0.03％，Mn≤0.01％，Zn≤0.03％，Ti≤0.03％，余量为Al。


2.一种低制耳低硬度电容器外壳其制备方法，其特征在于，包括如下步骤：
将权利要求1所述的原料充分搅拌均匀进行熔炼，熔炼后铸轧，铸轧后的铝卷成品厚度为6.2±0.3mm；将铸轧成品卷粗轧冷轧至0.7mm厚度，进行纵剪切边，切边后进行精轧轧制至成品厚度0.48mm；260℃退火4h，继续高温380℃保温18-26h。


3.根据权利要求2所述的一种低制耳低硬度电容器外壳制备方法，其特征在于，铸轧速度为800～1000mm/min，铸轧区为50～65mm。


4.根据权利要求2所述的一种低制耳低硬度电容器外壳制备方法，其特征在于，熔炼温度为730～750℃，倒炉温度为735～750℃。


5.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾元，宦文辉，张明成，朱江文，
申请(专利权)人：江苏鼎胜新能源材料股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32